您可能會(huì)問(wèn):那么我該如何使用EMI濾波器和準(zhǔn)峰值(QP)檢波器?這取決于您是否在進(jìn)行一致性測(cè)試、預(yù)一致性測(cè)試或者在做EMI故障排查。EMI類分辨率帶寬(RBW)濾波器是窄帶的,其滾降方式以6dB為標(biāo)準(zhǔn),而非3dB。符合標(biāo)準(zhǔn)的準(zhǔn)峰值檢波器是根據(jù)信號(hào)峰值和重復(fù)頻率進(jìn)行檢測(cè)加權(quán)從得出峰值的。使用不正確的濾波器和檢波器會(huì)影響設(shè)備返回的幅度值和頻率值。在一致性測(cè)試中,這兩個(gè)是強(qiáng)制遵守的標(biāo)準(zhǔn)。然而,對(duì)于EMI診斷它們不是決定性的,因?yàn)橹饕康氖菑奈锢砩虾碗姎馍献R(shí)別出輻射源。如果沒(méi)有實(shí)際的一致性精度要求,您獲得接近的估值已足夠用了。大多數(shù)公司的實(shí)驗(yàn)室并不具備做一定EMI測(cè)量所需的測(cè)試室條件。武漢GJB151...
將連接EUT的周邊電纜逐一取下﹐看干擾的噪聲是否降低或消失。若取下某一電纜而干擾的頻率減小或甚而消失﹐則可知此電纜已成為天線將機(jī)板內(nèi)的噪聲輻射出來(lái)。事實(shí)上﹐仔細(xì)分析造成EMI的關(guān)鍵﹐我們可以用一個(gè)很簡(jiǎn)單的模式來(lái)表示。任何EMI的Source必須要有天線的存在﹐才能產(chǎn)生輻射的情形﹐若只單獨(dú)存在噪聲源而沒(méi)有天線的條件﹐此輻射量是很小的﹐若將其連接到天線則由于天線效應(yīng)便把能量輻射到空間。所以EMI的對(duì)策除了針對(duì)噪聲源(Source)做處理外﹐重要的查破壞產(chǎn)生輻射的條件----天線。沒(méi)有正確的診斷﹐找不到病癥的源頭﹐往往事倍功半而拖延費(fèi)時(shí)。山東汽車電子EMI診斷標(biāo)準(zhǔn)電源濾波器的衰減特性也可由頻譜分析儀...
通常EMI部門或外部實(shí)驗(yàn)室一開(kāi)始是使用簡(jiǎn)單的峰值檢測(cè)器執(zhí)行掃描來(lái)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題區(qū)域的。但當(dāng)所發(fā)現(xiàn)的信號(hào)超過(guò)或接近規(guī)定極限時(shí),他們也執(zhí)行準(zhǔn)峰值測(cè)量。準(zhǔn)峰值是EMI測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)定義的一種方法,用來(lái)檢測(cè)信號(hào)包絡(luò)的加權(quán)峰值。它根據(jù)信號(hào)的持續(xù)時(shí)間和重復(fù)率對(duì)信號(hào)進(jìn)行加權(quán),以便對(duì)從廣播角度看解釋為“干擾”的信號(hào)施加更多的權(quán)重。與不頻發(fā)的脈沖相比,發(fā)生頻率更高的信號(hào)將導(dǎo)致更高的準(zhǔn)峰值測(cè)量結(jié)果。換句話說(shuō),問(wèn)題信號(hào)發(fā)生的越頻繁,問(wèn)題信號(hào)的一定幅度就越可能被準(zhǔn)峰值測(cè)量所屏蔽。通過(guò)EMI測(cè)試﹐而使設(shè)計(jì)工程師花費(fèi)許多時(shí)間和精力投入EMI的修改。天津通用EMI診斷在EMI,工程師從來(lái)無(wú)法完全掌握可能存在什么信號(hào)。由于每臺(tái)新被測(cè)設(shè)備...
電源濾波器的衰減特性也可由頻譜分析儀和追隨信號(hào)發(fā)生器來(lái)完成。追隨信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生一已知電平的掃描頻率信號(hào)而通過(guò)頻譜分析儀來(lái)追隨觀察。將濾波器放在發(fā)生器輸出和頻譜分析儀輸入之間,就可以得到其衰減特性。發(fā)生器輸出電平與頻譜分析儀接收到的電平之差等于該濾波器所提供的衰減。濾波器測(cè)試裝置的源和負(fù)載阻抗一般為50Ω,以便與濾波器生產(chǎn)廠家提供的典型衰減曲線相比較。應(yīng)當(dāng)注意,在實(shí)際使用過(guò)程當(dāng)中,濾波器的衰減值可能與提供的典型曲線有很大出入,這是因?yàn)閷?shí)際與濾波器相連的網(wǎng)絡(luò)阻抗并不總是50Ω。EMI測(cè)試室可能在校準(zhǔn)過(guò)的射頻房?jī)?nèi)開(kāi)展他們的測(cè)量,并報(bào)告作為強(qiáng)場(chǎng)的測(cè)量結(jié)果。安徽電磁EMI診斷頻譜儀EMI測(cè)試中工程師的“...
MIL-STD-285和NSA65-6是兩種常用的屏蔽效能標(biāo)準(zhǔn),其測(cè)試目的類似于設(shè)備箱體的屏蔽效能測(cè)試,只不過(guò)它是在一個(gè)較大規(guī)模上進(jìn)行罷了。測(cè)試要求通常會(huì)用到磁場(chǎng)、電場(chǎng)、平面波和微波發(fā)射接收設(shè)備;被測(cè)的頻率范圍從幾十Hz到幾十GHz;可能會(huì)要求屏蔽效能值大于100dB。近場(chǎng)探頭和天線與頻譜分析儀一起用于標(biāo)定射頻泄漏區(qū)域,就象在一個(gè)物理小規(guī)模上測(cè)試電子設(shè)備所做的一樣。在這里會(huì)碰到許多同樣的問(wèn)題,通常的射頻泄漏區(qū)域?yàn)殄e(cuò)誤的導(dǎo)電封裝、襯墊、濾波器以及很可怕的“暗道”。所謂“暗道”指的是箱體外部的一個(gè)射頻泄漏點(diǎn)在箱體內(nèi)部的一個(gè)不同點(diǎn)上引起了射頻泄漏。在短波頻率上定位“暗道”是一項(xiàng)極具挑戰(zhàn)性的工作。使用...
改變帶寬法:通過(guò)改變頻譜分析儀分辨帶寬,信號(hào)的幅值可能也可能不發(fā)生變化。一個(gè)真正的窄帶或連續(xù)波信號(hào)的幅值將不發(fā)生變化。由持續(xù)時(shí)間為零、幅值無(wú)限大的脈沖產(chǎn)生的純寬帶發(fā)射,將產(chǎn)生量值為20log(BW1/BW2)的變化。然而在確定發(fā)射是寬帶還是窄帶的過(guò)程中,實(shí)際上允許與理想情況存在偏差。測(cè)試人員在使用這種方法時(shí)不可避免地要運(yùn)用較好的工程經(jīng)驗(yàn)進(jìn)行判斷。峰值/平均值比較法:同帶寬改變法相似,這種方法是以信號(hào)幅值的變化為基礎(chǔ)的。窄帶信號(hào)的幅值電平在采用峰值或平均值檢波時(shí)基本保持不變,而寬帶信號(hào)在用平均值檢波時(shí)幅值將變小。使用報(bào)告中的數(shù)據(jù)確定設(shè)計(jì)中的哪個(gè)元件包含問(wèn)題源頻率,并特別加以注意,以便通過(guò)下一輪測(cè)...
為了確定一塊特定電路板上的能量源以及位于特定EMI問(wèn)題中心的天線,你需要檢查被觀察信號(hào)的周期。信號(hào)的射頻頻率是多少?是脈沖式的還是連續(xù)的?這些信號(hào)特征可以使用基本的頻譜分析儀進(jìn)行監(jiān)視。你還需要查看巧合性。待測(cè)設(shè)備(DUT)上的哪個(gè)信號(hào)與EMI事件是同時(shí)發(fā)生的?一般常見(jiàn)的做法是用示波器探測(cè)DUT上的電氣信號(hào)。檢查EMI問(wèn)題與電氣事件的巧合性無(wú)疑是EMI排查中耗時(shí)間的工作。過(guò)去,將來(lái)自頻譜分析儀和示波器的信息以同步方式關(guān)聯(lián)在一起一直是很難做的一件事。檢查EMI問(wèn)題與電氣 事件的巧合性無(wú)疑是EMI排查中耗時(shí)間的工作。安徽充電樁EMI診斷電路板上的組件成為輻射來(lái)源,由于所使用的IC或CPU本身在運(yùn)作時(shí)...
EMC測(cè)試伴隨著產(chǎn)品研制的全過(guò)程,眾所周知,一個(gè)產(chǎn)品的電磁兼容性能是否達(dá)標(biāo)靠什么證明呢?無(wú)疑是試驗(yàn),試驗(yàn)是檢驗(yàn)產(chǎn)品性能好壞的單獨(dú)手段。然而,EMC試驗(yàn)不單單承擔(dān)對(duì)產(chǎn)品性能終檢驗(yàn)的任務(wù),在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段也需要有輔助試驗(yàn)手段檢驗(yàn)每一個(gè)設(shè)計(jì)思想及每一項(xiàng)設(shè)計(jì)措施是否正確。特別是復(fù)雜的電子系統(tǒng),在方案論證階段需要制定EMC試驗(yàn)規(guī)范,在單機(jī)設(shè)備初樣、正樣研制階段需要對(duì)每項(xiàng)EMC指標(biāo)進(jìn)行測(cè)量,組成系統(tǒng)之后需要進(jìn)行系統(tǒng)級(jí)的EMC測(cè)試。系統(tǒng)級(jí)EMC測(cè)試的目的一方面檢驗(yàn)系統(tǒng)自身兼容性,另一方面檢驗(yàn)該電子系統(tǒng)與特定的工作環(huán)境是否兼容。EMI報(bào)告似乎直接提供了有關(guān)特定頻率點(diǎn)故障的信息,因此事情看起來(lái)很簡(jiǎn)單。廣東PCB板...
EMI測(cè)試場(chǎng)的衰減測(cè)試可以由頻譜分析儀、適當(dāng)?shù)奶炀€和射頻發(fā)射裝置來(lái)完成。按照FCC和VDE發(fā)射說(shuō)明進(jìn)行測(cè)試的裝置必須滿足FCC或VDE中指定的相應(yīng)場(chǎng)地衰減要求。頻譜分析儀能用來(lái)測(cè)試材料、設(shè)備屏蔽箱體、甚至較大屏蔽測(cè)試室的屏蔽效能。材料樣品可以通過(guò)橫電磁波(TEM)室、頻譜分析儀和追隨信號(hào)發(fā)生器測(cè)試,測(cè)試裝置與濾波器衰減測(cè)試很相似,只是用TEM波室代替了濾波器。材料樣本放在TEM室里測(cè)試其頻率變化的衰減特性或屏蔽效能。另一種用頻譜分析儀測(cè)試材料的方法是將材料樣本蒙在測(cè)試盒的開(kāi)口上。此時(shí)追隨信號(hào)發(fā)生器與一小發(fā)射天線相連并放在測(cè)試盒的內(nèi)部。接收天線放在測(cè)試盒的外面并與頻譜分析儀相連。用材料樣本覆蓋的...
各種接頭如Keyboard及Powersupply常常由于接頭的插頭與機(jī)器上的插座間的密合度不好﹐影響了干擾噪聲的輻射。檢查的方式可將接頭拔掉看噪聲是否減小﹐減小表示兩種冊(cè)可﹐一為線上本身輻射干擾﹐另一為接頭間接觸不好﹐此時(shí)插上接頭﹐用手銷微將接頭端左右搖動(dòng)﹐看噪聲是否會(huì)減小或消失﹐若會(huì)減小可將Keyboard或Powersupply的連接頭﹐用銅箔膠帶貼一圈﹐以增加其和機(jī)器接頭的密合度﹐這一點(diǎn)也是實(shí)測(cè)上很容易被疏忽﹐而會(huì)誤判機(jī)器的EMI為何每次測(cè)時(shí)好時(shí)壞﹐或花許多時(shí)間在其它的對(duì)策上面。由于每臺(tái)新被測(cè)設(shè)備都不同,根據(jù)EMI信號(hào)特征選擇正確的工具以及識(shí)別輻射源十分重要。北京新能源汽車EMI診斷測(cè)...
故在EMI的問(wèn)題上﹐常常看到一個(gè)EMI有問(wèn)題的產(chǎn)品﹐由于未能找到造成EMI問(wèn)題的關(guān)鍵﹐花了許多時(shí)間﹐下了許多對(duì)策﹐卻始終無(wú)法解決﹐其中亦不乏專業(yè)的EMI工程師。以往談到EMI往往強(qiáng)調(diào)對(duì)策方法﹐甚而視許多對(duì)策秘決或絕招﹐然而沒(méi)有正確的診斷﹐而在產(chǎn)品上加了一大堆EMI壓制組件﹐其結(jié)果往往只會(huì)使EMI情況更糟。起初接觸產(chǎn)品EMI對(duì)策修改時(shí)﹐會(huì)聽(tīng)到很好EMI工程師說(shuō)把所有EMI對(duì)策拿掉﹐就可以通過(guò)測(cè)試。初聽(tīng)以為是句玩笑話﹐如今回想這是很寶貴的經(jīng)驗(yàn)談。而后亦聽(tīng)到許多EMI工程師談到類似的經(jīng)驗(yàn)。本文中將舉出實(shí)際的例子﹐讓讀者更加了解EMI的對(duì)策觀念。許多公司必須在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和測(cè)試方面花費(fèi)大量的人力物力。西安...
電路板上的組件成為輻射來(lái)源,由于所使用的IC或CPU本身在運(yùn)作時(shí)產(chǎn)生很大的輻射﹐使得EMI測(cè)試無(wú)法通過(guò)﹐卵石種情往往在經(jīng)過(guò)(1)﹑(2)﹑(3)的分析后噪聲依然存在﹐通常解決的方法不外換一個(gè)類似的組件﹐看EMI特性是否會(huì)好一些。另外就是電路板重新布線時(shí)﹐將其擺放于影響小的位置﹐也就是附近沒(méi)有I/OPort及連接線等經(jīng)過(guò)﹐當(dāng)然若情況允許﹐將整個(gè)組件用金屬外殼包覆(Shielding)也是一種快速有效的方法。由以上的分析介紹我們可以了解﹐造成電磁干擾輻射關(guān)鍵的地方就是電線的問(wèn)題﹐當(dāng)有了適當(dāng)?shù)奶炀€條件存在很容易就產(chǎn)生干擾﹐另外電源線往往亦是造成天線效應(yīng)的主因﹐這是在許EMI對(duì)策中容易疏忽的。一旦有疾...
理解EMI報(bào)告在討論排查技術(shù)之前,介紹一下EMI測(cè)試報(bào)告是很有必要的。乍一看,EMI報(bào)告似乎直接提供了有關(guān)特定頻率點(diǎn)故障的信息,因此事情看起來(lái)很簡(jiǎn)單,就是使用報(bào)告中的數(shù)據(jù)確定設(shè)計(jì)中的哪個(gè)元件包含問(wèn)題源頻率,并特別加以注意,以便通過(guò)下一輪測(cè)試。然而,雖然許多測(cè)試條件在報(bào)告中是明確表示的,但一些需要考慮的重要事情可能并不那么明顯。在審查設(shè)計(jì)并試圖判斷問(wèn)題源時(shí),理解測(cè)試室如何生成這種報(bào)告是很有幫助的。需要記住的一個(gè)好規(guī)則是,準(zhǔn)峰值檢測(cè)值總是小于或等于峰值檢測(cè)值,永遠(yuǎn)不會(huì)大于峰值檢測(cè)值。因此你可以使用峰值檢測(cè)來(lái)開(kāi)展你的EMI排查和診斷。你不需要達(dá)到與EMI部門或?qū)嶒?yàn)室掃描同等程度的精度,因?yàn)闇y(cè)量都是相...
檢查電纜接頭端的接地螺絲是否旋緊及外端接地是否良好。依在前項(xiàng)方式大略找了一下問(wèn)題后﹐我們必須再做一些檢查﹐因?yàn)橥高^(guò)這些檢查﹐也許不須做任何修改﹐便可通過(guò)EMI測(cè)試。例如檢查電纜端的螺絲是否鎖緊﹐有時(shí)將松掉的螺絲上緊﹐可加強(qiáng)電纜線的屏蔽效果。另外可檢查看看機(jī)器外接的Connector的接地是否良好﹐若外殼為金屬而有噴漆﹐則可考慮將Connector處的噴漆刮掉﹐使其接地效果較佳。另外若使用Shielded的電纜線﹐必須檢查接頭端處外覆的金屬綱是否和其鐵蓋密合﹐許多不佳的屏蔽線(RS232)多因線接頭的外覆屏蔽金屬綱未冊(cè)和連接端的地密合﹐以致無(wú)法充份達(dá)到屏蔽的效果。問(wèn)題信號(hào)發(fā)生的越頻繁,問(wèn)題信號(hào)的...
混合域示波器(MDO)的推出使情況有了改觀,它能提供同步的而且與時(shí)間相關(guān)聯(lián)的觀察和測(cè)量功能。如圖5所示的這種儀器能夠相當(dāng)容易地讓我們觀察哪個(gè)信號(hào)與哪個(gè)EMI事件同時(shí)發(fā)生,從而可以簡(jiǎn)化EMI排查過(guò)程?;旌嫌蚴静ㄆ鳎∕DO)將頻譜分析儀、示波器和邏輯分析儀組合在一臺(tái)儀表內(nèi),可以從全部三臺(tái)儀器中產(chǎn)生同步的而且與時(shí)間關(guān)聯(lián)的測(cè)量結(jié)果。MDO將混合信號(hào)示波器的功能和頻譜分析儀的功能整合在一起。借助這種組合,你能夠自動(dòng)顯示模擬信號(hào)特征、數(shù)字時(shí)序、總線事務(wù)以及射頻并在這些信息基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)觸發(fā)。一些MDO還能捕獲或觀察頻譜和時(shí)域軌跡,包括射頻幅度對(duì)時(shí)間、射頻相位對(duì)時(shí)間以及射頻頻率對(duì)時(shí)間的關(guān)系曲線。示波器是快速了解...
起初接觸產(chǎn)品EMI對(duì)策修改時(shí)﹐會(huì)聽(tīng)到很好EMI工程師說(shuō)把所有EMI對(duì)策拿掉﹐就可以通過(guò)測(cè)試。初聽(tīng)以為是句玩笑話﹐如今回想這是很寶貴的經(jīng)驗(yàn)談。而后亦聽(tīng)到許多EMI工程師談到類似的經(jīng)驗(yàn)。本文中將舉出實(shí)際的例子﹐讓讀者更加了解EMI的對(duì)策觀念。一般提到如何解決EMI問(wèn)題﹐大多說(shuō)是casebycase,當(dāng)然從對(duì)策上而言﹐每一個(gè)產(chǎn)品的特性及電路板布線(layout)情況不同﹐故無(wú)法用幾套方法而解決所有EMI的問(wèn)題﹐但是長(zhǎng)久以來(lái)﹐我們一直想要把處理EMI問(wèn)題并做適當(dāng)?shù)膶?duì)策﹐另外也提供專業(yè)的EMI工程師一種參考方法。在此我們把電磁干擾與對(duì)策的一些心得經(jīng)驗(yàn)整理﹐希望能對(duì)讀者有些幫助。許多公司必須在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和測(cè)...
電源濾波器的衰減特性也可由頻譜分析儀和追隨信號(hào)發(fā)生器來(lái)完成。追隨信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生一已知電平的掃描頻率信號(hào)而通過(guò)頻譜分析儀來(lái)追隨觀察。將濾波器放在發(fā)生器輸出和頻譜分析儀輸入之間,就可以得到其衰減特性。發(fā)生器輸出電平與頻譜分析儀接收到的電平之差等于該濾波器所提供的衰減。濾波器測(cè)試裝置的源和負(fù)載阻抗一般為50Ω,以便與濾波器生產(chǎn)廠家提供的典型衰減曲線相比較。應(yīng)當(dāng)注意,在實(shí)際使用過(guò)程當(dāng)中,濾波器的衰減值可能與提供的典型曲線有很大出入,這是因?yàn)閷?shí)際與濾波器相連的網(wǎng)絡(luò)阻抗并不總是50Ω。在審查設(shè)計(jì)并試圖判斷問(wèn)題源時(shí),理解測(cè)試室如何生成這種報(bào)告是很有幫助的。武漢GJB151BEMI診斷傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試?yán)斫釫MI報(bào)...
接下來(lái)做什么?電源是EMI干擾噪聲的主要來(lái)源,示波器的電源諧波分析在這類排查工作中很有潛力。我們不久將討論這一方面的內(nèi)容。排查EMI是否一致的四種基本方法:全世界幾乎所有有關(guān)部門都在嘗試控制他們國(guó)家生產(chǎn)的電子產(chǎn)品產(chǎn)生的有害電磁干擾(EMI)。為了向用戶提供一定的保護(hù)和安全等級(jí),有關(guān)部門都會(huì)制訂涉及電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的非常特殊的一些規(guī)則和規(guī)定。當(dāng)然這是好事。但這也意味著為了盡量減少他們的EMI特征并通過(guò)官方的EMI認(rèn)證測(cè)試,許多公司必須在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和測(cè)試方面花費(fèi)大量的人力物力。壞消息是,即使采用了好的設(shè)計(jì)原理、選擇了高質(zhì)量的元件并且仔細(xì)地表征了產(chǎn)品,當(dāng)進(jìn)行一致性測(cè)試時(shí),如果測(cè)試并不是所有階段都進(jìn)展順利,...
我們將初步的診斷步驟詳列于下﹐并加以說(shuō)明其關(guān)鍵點(diǎn)﹐這些步驟看來(lái)似乎非常平凡簡(jiǎn)單﹐不像介紹對(duì)策方法各種理論秘籍絕招層出不窮﹐變化奧妙。其實(shí)﹐許多很好EMI工程師在其對(duì)策處理時(shí)﹐大部份的時(shí)間都在重復(fù)這些步驟與判斷。筆者要再次強(qiáng)調(diào)﹐只有真正找到造成EMI問(wèn)題的關(guān)鍵﹐才是解決EMI的好的途徑﹐若只憑理論推測(cè)或經(jīng)驗(yàn)判斷﹐有時(shí)反而會(huì)花費(fèi)更多的時(shí)間和精力。將桌子轉(zhuǎn)到待測(cè)(EUT)很大發(fā)射的位置﹐初步診斷可能的原因﹐并關(guān)掉EUT電源加以確認(rèn)。一般來(lái)說(shuō),近場(chǎng)探針沒(méi)有校準(zhǔn)數(shù)據(jù),因此它們適合用于相對(duì)測(cè)量。武漢汽車電子EMI診斷原理混合域示波器(MDO)的推出使情況有了改觀,它能提供同步的而且與時(shí)間相關(guān)聯(lián)的觀察和測(cè)量...
對(duì)于EMI傳導(dǎo)的部分,重點(diǎn)是要用好旁路電容和去藕電容。旁路電容(提供一條交流短路線)一定要以短的連線佈置在晶片電源管腳和地線(平面)上。去藕電容要放在電流需求變化大的地方,避免因?yàn)樽呔€的阻抗(電感),讓雜訊從電源和地線上藕合出去。當(dāng)然,合理串聯(lián)使用磁珠,可以“吸收”(轉(zhuǎn)換成熱能)這些雜訊。電感有時(shí)也可以用來(lái)濾除雜訊,但是請(qǐng)注意電感本身也是有頻率響應(yīng)范圍的,而且封裝也決定其頻率響應(yīng)……以上是一些基本的體會(huì),對(duì)于EMI設(shè)計(jì)來(lái)說(shuō),需要你真正瞭解你自己的設(shè)計(jì),什麼地方需要重點(diǎn)照顧,什麼地方出了問(wèn)題會(huì)是什麼樣的現(xiàn)象,備選方案是什麼,都需要預(yù)先整理好。更好的做法是在產(chǎn)品發(fā)出去做一致性測(cè)試之前就能夠確定和修...
干擾正確的診斷:要解決產(chǎn)品上的EMI問(wèn)題﹐若能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)之初便加以考慮﹐則可以節(jié)省事后再投入許多時(shí)間。由于目前EMIDesign-in的觀念并不是十分普遍﹐而且由于事先的規(guī)劃并不能保證其成品可以完全符合電磁干擾的測(cè)試在﹐所以如何正確的診斷EMI問(wèn)題﹐對(duì)于設(shè)計(jì)工程師及EMI工程師是非常重要的。頻譜分析儀是進(jìn)行電磁干擾測(cè)試、診斷和故障檢測(cè)中應(yīng)用廣的一種測(cè)試儀器。對(duì)于一個(gè)電磁兼容工程師(EMC)來(lái)講,頻譜分析儀除了測(cè)試商用和電磁發(fā)射的重要用途外,還可對(duì)對(duì)以下內(nèi)容進(jìn)行評(píng)估:1、材料的屏蔽效能,2、設(shè)備機(jī)箱的屏蔽效能,3、較大的試驗(yàn)室或測(cè)試室的屏蔽效能,4、電源線濾波器的衰減特性;此外,頻譜分析儀可從事...
正確的EMI診斷方法是,當(dāng)對(duì)一個(gè)可能的干擾源采取了壓制措施后,即使沒(méi)有明顯的改善,也不要將這個(gè)措施去掉,繼續(xù)對(duì)可能的其他干擾源采取措施。當(dāng)采取到某個(gè)措施時(shí),如果干擾幅度降低很多,并能通過(guò)測(cè)試,并不一說(shuō)明這個(gè)干擾源是主要的,而只說(shuō)明這個(gè)干擾擾源相對(duì)于后幾個(gè)干擾源來(lái)說(shuō)是量級(jí)較大的一個(gè),并且可以是之后一個(gè)。在前面的敘述中,假定對(duì)某個(gè)干擾源采取措施后,這個(gè)產(chǎn)品中所有干擾源被100%消除掉,如果這樣,那么當(dāng)之后一個(gè)干擾源去掉后,電磁干擾的減小應(yīng)為無(wú)限大。根據(jù)經(jīng)驗(yàn)需要記住,如果你能觀察遠(yuǎn)場(chǎng)中的信號(hào),那么應(yīng)該能看到近場(chǎng)中的相同信號(hào)。安徽EMI診斷測(cè)試儀由于EMI測(cè)試上﹐EUT必須轉(zhuǎn)360度而天線由1m到4m...
頻譜分析儀對(duì)幾種傳導(dǎo)發(fā)射的測(cè)試能夠象輻射發(fā)射測(cè)試那樣設(shè)成自動(dòng),并通過(guò)計(jì)算機(jī)對(duì)數(shù)據(jù)作圖、列表。同時(shí)頻譜分析儀在手動(dòng)模式下也是一種有用的診斷工具。在顯示屏上可以觀察到相對(duì)較寬的掃描頻段,同時(shí)相應(yīng)的限值顯示在顯示屏上,以便很快地與發(fā)射電平做比較。頻譜限值包含了電流探頭或LISN修正因子,同時(shí)頻譜分析儀顯示單位也隨之相應(yīng)轉(zhuǎn)變。故障處理的結(jié)果可以在顯示屏上很容易地觀察到。傳導(dǎo)發(fā)射信號(hào)的特征可以用與輻射同樣的方法得到。故障處理的方法通常是濾波,但在1MHz以上時(shí),問(wèn)題通常由輻射發(fā)射的耦合而引起,因此,許多用于壓制輻射發(fā)射的故障檢修技術(shù)也被采用?;旌嫌蚴静ㄆ鳎∕DO)將頻譜分析儀、示波器和邏輯分析儀組合在一...
干擾正確的診斷:要解決產(chǎn)品上的EMI問(wèn)題﹐若能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)之初便加以考慮﹐則可以節(jié)省事后再投入許多時(shí)間。由于目前EMIDesign-in的觀念并不是十分普遍﹐而且由于事先的規(guī)劃并不能保證其成品可以完全符合電磁干擾的測(cè)試在﹐所以如何正確的診斷EMI問(wèn)題﹐對(duì)于設(shè)計(jì)工程師及EMI工程師是非常重要的。頻譜分析儀是進(jìn)行電磁干擾測(cè)試、診斷和故障檢測(cè)中應(yīng)用廣的一種測(cè)試儀器。對(duì)于一個(gè)電磁兼容工程師(EMC)來(lái)講,頻譜分析儀除了測(cè)試商用和電磁發(fā)射的重要用途外,還可對(duì)對(duì)以下內(nèi)容進(jìn)行評(píng)估:1、材料的屏蔽效能,2、設(shè)備機(jī)箱的屏蔽效能,3、較大的試驗(yàn)室或測(cè)試室的屏蔽效能,4、電源線濾波器的衰減特性;此外,頻譜分析儀可從事...
通常公司為了避免這樣的情景出現(xiàn),會(huì)在設(shè)計(jì)和原型建立階段做一些“預(yù)先的一致性”測(cè)量。更好的做法是在產(chǎn)品發(fā)出去做一致性測(cè)試之前就能夠確定和修復(fù)潛在的EMI問(wèn)題。當(dāng)然,大多數(shù)公司的實(shí)驗(yàn)室并不具備做一定EMI測(cè)量所需的測(cè)試室條件。好消息是,無(wú)需復(fù)制測(cè)試室條件就確定和解決EMI問(wèn)題是完全可行的。本文討論的一些技術(shù)可以幫助你減少一個(gè)產(chǎn)品在測(cè)試室進(jìn)行終完整的EMC一致性評(píng)估時(shí)失敗的風(fēng)險(xiǎn)。本文還舉了一個(gè)確定信號(hào)特征和一致性以便找出EMI發(fā)射源的例子。混合域示波器(MDO)的推出使情況有了改觀,它能提供同步的而且與時(shí)間相關(guān)聯(lián)的觀察和測(cè)量功能。北京家電燈具EMI診斷測(cè)試方式測(cè)試室為出EMI報(bào)告而開(kāi)展的掃描通常是在...
對(duì)于EMI傳導(dǎo)的部分,重點(diǎn)是要用好旁路電容和去藕電容。旁路電容(提供一條交流短路線)一定要以短的連線佈置在晶片電源管腳和地線(平面)上。去藕電容要放在電流需求變化大的地方,避免因?yàn)樽呔€的阻抗(電感),讓雜訊從電源和地線上藕合出去。當(dāng)然,合理串聯(lián)使用磁珠,可以“吸收”(轉(zhuǎn)換成熱能)這些雜訊。電感有時(shí)也可以用來(lái)濾除雜訊,但是請(qǐng)注意電感本身也是有頻率響應(yīng)范圍的,而且封裝也決定其頻率響應(yīng)……以上是一些基本的體會(huì),對(duì)于EMI設(shè)計(jì)來(lái)說(shuō),需要你真正瞭解你自己的設(shè)計(jì),什麼地方需要重點(diǎn)照顧,什麼地方出了問(wèn)題會(huì)是什麼樣的現(xiàn)象,備選方案是什麼,都需要預(yù)先整理好。雖然許多測(cè)試條件在報(bào)告中是明確表示的,但一些需要考慮的...
視頻濾波法:視頻濾波有助于觀察寬帶噪聲中是否有窄帶信號(hào)。濾波使得寬帶減弱,而窄帶幅值電平保持不變。變換掃描時(shí)間法:這種方法可用于在頻譜分析儀顯示屏上觀測(cè)一組脈沖。頻譜分析儀每格間隔的寬度應(yīng)設(shè)置得使譜線間的間距可以被觀察到。通過(guò)改變頻譜分析儀的掃描時(shí)間,譜線的間隔可能變也可能不變。如果屏蔽上間隔寬度保持不變,則信號(hào)是窄帶;如果間隔寬度改變了,則信號(hào)被認(rèn)為是寬帶。調(diào)諧測(cè)試法:在使用適當(dāng)?shù)姆直鎺挼那闆r下,窄帶信號(hào)實(shí)際上是相對(duì)于頻譜儀而言是窄的。因此,當(dāng)改變或調(diào)諧頻率峰值標(biāo)記時(shí)窄帶信號(hào)的幅值將或左或右地明顯偏離窄帶信號(hào)的峰值。當(dāng)很大峰值的變化大于3dB/兩個(gè)脈沖帶寬頻變時(shí),則信號(hào)被認(rèn)為是窄帶信號(hào),否...
電磁輻射干擾的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量是指在半電波暗室或者EMC開(kāi)闊場(chǎng)進(jìn)行的測(cè)量,測(cè)量天線與被測(cè)物的距離一般為3米或3米以上,給出的結(jié)果是一張頻譜圖,即各個(gè)頻率點(diǎn)的電磁輻射干擾強(qiáng)度。標(biāo)準(zhǔn)GB13837-1997(CISPR13)和GB4343-1995(CISPR14)規(guī)定,應(yīng)分別測(cè)試EUT外接連線,如電源線、AV線、耳機(jī)線、話筒線等線纜的干擾功率。傳導(dǎo)干擾是測(cè)試EUT運(yùn)行過(guò)程中端口干擾電壓,包括電源端口、射頻端口、天線端口、電信端口等。如果被測(cè)設(shè)備有一個(gè)或者幾個(gè)頻率點(diǎn)的電磁干擾超過(guò)了標(biāo)準(zhǔn)的限值,被測(cè)設(shè)備就不符合EMC標(biāo)準(zhǔn)要求。在EMI,工程師從來(lái)無(wú)法完全掌握可能存在什么信號(hào)。福建集成電路EMI診斷儀器常用技...
示波器是快速了解有害輻射并找出它們來(lái)源的有效工具。在同一臺(tái)儀器上問(wèn)時(shí)域和頻域?yàn)榭焖俜治鲇泻椛鋭?chuàng)造了條件。因?yàn)槭静ㄆ魇怯布O(shè)計(jì)工程師常用的儀器,它增強(qiáng)了研發(fā)階段的EMI排查能力,并且能夠在去EMC實(shí)驗(yàn)室前先做摸底測(cè)試,從而明顯提高了一致性測(cè)試的成功率。示波器也為您提供可用于定位、捕獲和分析輻射源的各種技術(shù),歸納在下表中:示波器和傳統(tǒng)EMI測(cè)試設(shè)備進(jìn)行EMI診斷的技術(shù)列表,從定位和捕獲到分析有問(wèn)題的輻射源。與通常的時(shí)域相關(guān)測(cè)量或其他常用射頻測(cè)試相比,EMI測(cè)量需要不同方法。儀器能夠相當(dāng)容易地讓我們觀察哪個(gè)信號(hào)與哪個(gè)EMI事件同時(shí)發(fā)生,從而可以簡(jiǎn)化EMI排查過(guò)程。重慶 集成電路EMI診斷測(cè)試方式E...
事實(shí)上﹐當(dāng)然平時(shí)的預(yù)防保養(yǎng)是很重要的﹐而一旦正確的診斷﹐才能得到快速的痊愈﹐沒(méi)有正確的診斷﹐找不到病癥的源頭﹐往往事倍功半而拖延費(fèi)時(shí)。故在EMI的問(wèn)題上﹐常常看到一個(gè)EMI有問(wèn)題的產(chǎn)品﹐由于未能找到造成EMI問(wèn)題的關(guān)鍵﹐花了許多時(shí)間﹐下了許多對(duì)策﹐卻始終無(wú)法解決﹐其中亦不乏專業(yè)的EMI工程師。以往談到EMI往往強(qiáng)調(diào)對(duì)策方法﹐甚而視許多對(duì)策秘決或絕招﹐然而沒(méi)有正確的診斷﹐而在產(chǎn)品上加了一大堆EMI壓制組件﹐其結(jié)果往往只會(huì)使EMI情況更糟。不需要達(dá)到與EMI部門或?qū)嶒?yàn)室掃描同等程度的精度,因?yàn)闇y(cè)量都是相對(duì)值。廣東新能源汽車EMI診斷方法EMI診斷可以做到及時(shí)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的EMI問(wèn)題,分析EMI性質(zhì)及產(chǎn)...