電源濾波器的衰減特性也可由頻譜分析儀和追隨信號(hào)發(fā)生器來(lái)完成。追隨信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生一已知電平的掃描頻率信號(hào)而通過(guò)頻譜分析儀來(lái)追隨觀察。將濾波器放在發(fā)生器輸出和頻譜分析儀輸入之間，就可以得到其衰減特性。發(fā)生器輸出電平與頻譜分析儀接收到的電平之差等于該濾波器所提供的衰減。濾波器測(cè)試裝置的源和負(fù)載阻抗一般為50Ω，以便與濾波器生產(chǎn)廠家提供的典型衰減曲線相比較。應(yīng)當(dāng)注意，在實(shí)際使用過(guò)程當(dāng)中，濾波器的衰減值可能與提供的典型曲線有很大出入，這是因?yàn)閷?shí)際與濾波器相連的網(wǎng)絡(luò)阻抗并不總是50Ω。EMI測(cè)試室可能在校準(zhǔn)過(guò)的射頻房?jī)?nèi)開(kāi)展他們的測(cè)量，并報(bào)告作為強(qiáng)場(chǎng)的測(cè)量結(jié)果。安徽電磁EMI診斷頻譜儀
EMI測(cè)試中工程師的“痛點(diǎn)”：1.從電路板設(shè)計(jì)開(kāi)始就應(yīng)該考慮EMI問(wèn)題，但受資金限制，EMI診斷設(shè)備往往不能配備到位。2.電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)定型后去進(jìn)行EMC認(rèn)證測(cè)試，認(rèn)證機(jī)構(gòu)給出不合格報(bào)告，只指出輻射還是傳導(dǎo)EMI不合格，雖然給出干擾頻點(diǎn)，但并不指出電子設(shè)備中EMI不合格的位置或原因，需自行進(jìn)行EMI診斷，耗費(fèi)時(shí)間與資金。3.某些設(shè)備受環(huán)境制約無(wú)法進(jìn)行屏蔽，需找出EMI根源從設(shè)計(jì)上解決。頻譜儀是發(fā)現(xiàn)EMI問(wèn)題的基本測(cè)試儀器，但某些情況下難以追蹤EMI的根源。4.某些EMI問(wèn)題可以通過(guò)屏蔽方式解決，雖然可以通過(guò)EMC認(rèn)證，但EMI影響該設(shè)備自身性能，必須從根源上解決，或找出問(wèn)題所在加以回避。在此種情況下，頻譜儀存在與3同樣的問(wèn)題。5.隨著數(shù)據(jù)速率的加快，周期性突發(fā)的EMI問(wèn)題日益增多，必須通過(guò)對(duì)EMI周期的分析找出問(wèn)題的真正根源，這需要調(diào)制域分析。安徽常用EMI診斷標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)峰值以便對(duì)從廣播角度看解釋為“干擾”的信號(hào)施加更多的權(quán)重。
您可能會(huì)問(wèn)：那么我該如何使用EMI濾波器和準(zhǔn)峰值（QP）檢波器？這取決于您是否在進(jìn)行一致性測(cè)試、預(yù)一致性測(cè)試或者在做EMI故障排查。EMI類分辨率帶寬（RBW）濾波器是窄帶的，其滾降方式以6dB為標(biāo)準(zhǔn)，而非3dB。符合標(biāo)準(zhǔn)的準(zhǔn)峰值檢波器是根據(jù)信號(hào)峰值和重復(fù)頻率進(jìn)行檢測(cè)加權(quán)從得出峰值的。使用不正確的濾波器和檢波器會(huì)影響設(shè)備返回的幅度值和頻率值。在一致性測(cè)試中，這兩個(gè)是強(qiáng)制遵守的標(biāo)準(zhǔn)。然而，對(duì)于EMI診斷它們不是決定性的，因?yàn)橹饕康氖菑奈锢砩虾碗姎馍献R(shí)別出輻射源。如果沒(méi)有實(shí)際的一致性精度要求，您獲得接近的估值已足夠用了。
電磁干擾的觀念與防制﹐在國(guó)內(nèi)已逐漸受到重視。雖然目前國(guó)內(nèi)并無(wú)嚴(yán)格管制電子產(chǎn)品的電磁干擾（EMI）﹐但由于歐美各國(guó)多已實(shí)施電磁干擾的要求﹐加上數(shù)字產(chǎn)品的普遍使用﹐對(duì)電磁干擾的要求已是刻不容緩的事情。筆者由于啊作的關(guān)系﹐經(jīng)常遇到許多產(chǎn)品已完成成品設(shè)計(jì)﹐因無(wú)法通過(guò)EMI測(cè)試﹐而使設(shè)計(jì)工程師花費(fèi)許多時(shí)間和精力投入EMI的修改﹐由于屬于事后的補(bǔ)救﹐往往投入許多時(shí)間與金錢﹐甚而影響了產(chǎn)品上市的時(shí)機(jī)。要解決產(chǎn)品上的EMI問(wèn)題﹐若能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)之初便加以考慮﹐則可以節(jié)省事后再投入許多時(shí)間與金錢。由于目前EMIDesign-in的觀念并不是十分普遍﹐而且由于事先的規(guī)劃并不能保證其成品可以完全符合電磁干擾的測(cè)試在﹐所以如何正確的診斷EMI問(wèn)題﹐對(duì)于設(shè)計(jì)工程師及EMI工程師是非常重要的。待測(cè)設(shè)備上的哪個(gè)信號(hào)與EMI事件是同時(shí)發(fā)生的？一般常見(jiàn)的做法是用示波器探測(cè)DUT上的電氣信號(hào)。
通常EMI部門或外部實(shí)驗(yàn)室一開(kāi)始是使用簡(jiǎn)單的峰值檢測(cè)器執(zhí)行掃描來(lái)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題區(qū)域的。但當(dāng)所發(fā)現(xiàn)的信號(hào)超過(guò)或接近規(guī)定極限時(shí)，他們也執(zhí)行準(zhǔn)峰值測(cè)量。準(zhǔn)峰值是EMI測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)定義的一種方法，用來(lái)檢測(cè)信號(hào)包絡(luò)的加權(quán)峰值。它根據(jù)信號(hào)的持續(xù)時(shí)間和重復(fù)率對(duì)信號(hào)進(jìn)行加權(quán)，以便對(duì)從廣播角度看解釋為“干擾”的信號(hào)施加更多的權(quán)重。與不頻發(fā)的脈沖相比，發(fā)生頻率更高的信號(hào)將導(dǎo)致更高的準(zhǔn)峰值測(cè)量結(jié)果。換句話說(shuō)，問(wèn)題信號(hào)發(fā)生的越頻繁，問(wèn)題信號(hào)的一定幅度就越可能被準(zhǔn)峰值測(cè)量所屏蔽。將來(lái)自頻譜分析儀和示波器的信息以同步方式關(guān)聯(lián)在一起一直是很難做的一件事。安徽常用EMI診斷標(biāo)準(zhǔn)
示波器、頻譜分析儀或測(cè)試接收機(jī)可以從不同角度解決EMI問(wèn)題。安徽電磁EMI診斷頻譜儀
由于EMI測(cè)試上﹐EUT必須轉(zhuǎn)360度而天線由1m到4m變化﹐其目的是要記錄輻射很大的情況。同樣地﹐當(dāng)我們發(fā)現(xiàn)無(wú)法通過(guò)測(cè)試時(shí)﹐首先我們先將天線位置移到噪聲接收很大高度﹐然后將桌子轉(zhuǎn)到差角度﹐此時(shí)我們知道在EUT面對(duì)天線的這一面輻射強(qiáng)﹐故可以初步推測(cè)可能的原因﹐如此處屏蔽不佳或靠近輻射源或有電線電纜經(jīng)過(guò)等。另外須注意的是要關(guān)掉EUT的電源﹐看噪聲是否存在﹐以確定噪聲確實(shí)是由EUT所產(chǎn)生。曾見(jiàn)測(cè)試Monitor一直無(wú)法解決某一點(diǎn)的干擾﹐結(jié)果其噪聲是由PC所造成而非Monitor的問(wèn)題﹐亦有在OPENSITE測(cè)試Monitor發(fā)現(xiàn)某幾點(diǎn)無(wú)法通過(guò)﹐由測(cè)試接收儀器的聲音判斷應(yīng)是Monitor產(chǎn)生﹐結(jié)果關(guān)掉電源發(fā)現(xiàn)噪聲依然存在﹐所以關(guān)掉EUT電源的步驟是必須的﹐而且通常容易被忽略。安徽電磁EMI診斷頻譜儀