廣東信號(hào)完整性測(cè)試PCI-E測(cè)試

Cle4.0測(cè)試的CBB4和CLB4夾具無(wú)論是Preset還是信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試，都需要被測(cè)件工作在特定速率的某些Preset下，要通過(guò)測(cè)試夾具控制被測(cè)件切換到需要的設(shè)置狀態(tài)。具體方法是：在被測(cè)件插入測(cè)試夾具并且上電以后，可以通過(guò)測(cè)試夾具上的切換開(kāi)關(guān)控制DUT輸出不同速率的一致性測(cè)試碼型。在切換測(cè)試夾具上的Toggle開(kāi)關(guān)時(shí)，正常的PCle4.0的被測(cè)件依次會(huì)輸出2.5Gbps、5Gbps-3dB、5Gbps-6dB、8GbpsP0、8GbpsP1、8GbpsP2、8GbpsP3、8GbpsP4、8GbpsPCIE 系統(tǒng)架構(gòu)及物理層一致性測(cè)試；廣東信號(hào)完整性測(cè)試PCI-E測(cè)試

PCIe5.0物理層技術(shù)PCI-SIG組織于2019年發(fā)布了針對(duì)PCIe5.0芯片設(shè)計(jì)的Base規(guī)范，針對(duì)板卡設(shè)計(jì)的CEM規(guī)范也在2021年制定完成，同時(shí)支持PCIe5.0的服務(wù)器產(chǎn)品也在2021年開(kāi)始上市發(fā)布。對(duì)于PCIe5.0測(cè)試來(lái)說(shuō)，其鏈路的拓?fù)淠Ｐ团cPCIe4.0類(lèi)似，但數(shù)據(jù)速率從PCIe4.0的16Gbps提升到了32Gbps,因此鏈路上封裝、PCB、連接器的損耗更大，整個(gè)鏈路的損耗達(dá)到 - 36dB@16GHz,其中系統(tǒng)板損耗為 - 27dB,插卡的損耗為 - 9dB。.20是PCIe5 . 0的 鏈路損耗預(yù)算的模型。廣東信號(hào)完整性測(cè)試PCI-E測(cè)試PCI-E3.0定義了11種發(fā)送端的預(yù)加重設(shè)置，實(shí)際應(yīng)用中應(yīng)該用那個(gè)？

PCIe4.0的測(cè)試夾具和測(cè)試碼型要進(jìn)行PCIe的主板或者插卡信號(hào)的一致性測(cè)試(即信號(hào)電氣質(zhì)量測(cè)試),首先需要使用PCIe協(xié)會(huì)提供的夾具把被測(cè)信號(hào)引出。PCIe的夾具由PCI-SIG定義和銷(xiāo)售，主要分為CBB(ComplianceBaseBoard)和CLB(ComplianceLoadBoard)。對(duì)于發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量測(cè)試來(lái)說(shuō)，CBB用于插卡的測(cè)試，CLB用于主板的測(cè)試；但是在接收容限測(cè)試中，由于需要把誤碼儀輸出的信號(hào)通過(guò)夾具連接示波器做校準(zhǔn)，所以無(wú)論是主板還是插卡的測(cè)試，CBB和CLB都需要用到。

測(cè)試類(lèi)型8Gbps速率16Gbps速率插卡RX測(cè)試眼寬：41.25ps+0/—2ps眼寬：18.75ps+0.5/-0.5ps眼高：46mV+0/-5mV眼高：15mV+1.5/-1.5mV主板RX測(cè)試眼寬：45ps+0/-2ps眼寬：18.75ps+0.5/-0.5ps眼高：50mV+0/-5mV眼高：15mV+1.5/-1.5mV 校準(zhǔn)時(shí)，信號(hào)的參數(shù)分析和調(diào)整需要反復(fù)進(jìn)行，人工操作非常耗時(shí)耗力。為了解決這個(gè) 問(wèn)題，接收端容限測(cè)試時(shí)也會(huì)使用自動(dòng)測(cè)試軟件，這個(gè)軟件可以提供設(shè)置和連接向?qū)?、控?誤碼儀和示波器完成自動(dòng)校準(zhǔn)、發(fā)出訓(xùn)練碼型把被測(cè)件設(shè)置成環(huán)回狀態(tài)，并自動(dòng)進(jìn)行環(huán)回?cái)?shù) 據(jù)的誤碼率統(tǒng)計(jì)。圖4 . 18是典型自動(dòng)校準(zhǔn)和接收容限測(cè)試軟件的界面，以及相應(yīng)的測(cè)試3090Ti 始發(fā)支持 PCIe5.0 顯卡供電接口怎么樣？

CTLE均衡器可以比較好地補(bǔ)償傳輸通道的線性損耗，但是對(duì)于一些非線性因素(比如 由于阻抗不匹配造成的信號(hào)反射)的補(bǔ)償還需要借助于DFE的均衡器，而且隨著信號(hào)速率的提升，接收端的眼圖裕量越來(lái)越小，采用的DFE技術(shù)也相應(yīng)要更加復(fù)雜。在PCle3.0的 規(guī)范中，針對(duì)8Gbps的信號(hào)，定義了1階的DFE配合CTLE完成信號(hào)的均衡；而在PCle4.0 的規(guī)范中，針對(duì)16Gbps的信號(hào)，定義了更復(fù)雜的2階DFE配合CTLE進(jìn)行信號(hào)的均衡。 圖 4 .5 分別是規(guī)范中針對(duì)8Gbps和16Gbps信號(hào)接收端定義的DFE均衡器(參考資料： PCI   Express@   Base   Specification   4.0)。PCI-E 3.0測(cè)試發(fā)送端變化；廣東信號(hào)完整性測(cè)試PCI-E測(cè)試

PCI-e的軟件編程接口;廣東信號(hào)完整性測(cè)試PCI-E測(cè)試

PCle5.0的鏈路模型及鏈路損耗預(yù)算在實(shí)際的測(cè)試中，為了把被測(cè)主板或插卡的PCIe信號(hào)從金手指連接器引出，PCI-SIG組織也設(shè)計(jì)了專(zhuān)門(mén)的PCIe5.0測(cè)試夾具。PCle5.0的這套夾具與PCle4.0的類(lèi)似，也是包含了CLB板、CBB板以及專(zhuān)門(mén)模擬和調(diào)整鏈路損耗的ISI板。主板的發(fā)送信號(hào)質(zhì)量測(cè)試需要用到對(duì)應(yīng)位寬的CLB板；插卡的發(fā)送信號(hào)質(zhì)量測(cè)試需要用到CBB板；而在接收容限測(cè)試中，由于要進(jìn)行全鏈路的校準(zhǔn)，整套夾具都可能會(huì)使用到。21是PCIe5.0的測(cè)試夾具組成。廣東信號(hào)完整性測(cè)試PCI-E測(cè)試