智能化多端口矩陣測(cè)試PCI-E測(cè)試銷售價(jià)格

在測(cè)試通道數(shù)方面，傳統(tǒng)上PCIe的主板測(cè)試采用了雙口(Dual-Port)測(cè)試方法，即需要 把被測(cè)的一條通道和參考時(shí)鐘RefClk同時(shí)接入示波器測(cè)試。由于測(cè)試通道和RefClk都是 差分通道，所以在用電纜直接連接測(cè)試時(shí)需要用到4個(gè)示波器通道(雖然理論上也可以用2個(gè) 差分探頭實(shí)現(xiàn)連接，但是由于會(huì)引入額外的噪聲，所以直接電纜連接是常用的方法),這種 方法的優(yōu)點(diǎn)是可以比較方便地計(jì)算數(shù)據(jù)通道相對(duì)于RefClk的抖動(dòng)。但在PCIe5.0中，對(duì)于 主板的測(cè)試也采用了類似于插卡測(cè)試的單口(Single-Port)方法，即只把被測(cè)數(shù)據(jù)通道接入 示波器測(cè)試，這樣信號(hào)質(zhì)量測(cè)試中只需要占用2個(gè)示波器通道。圖4.23分別是PCIe5.0主 板和插卡信號(hào)質(zhì)量測(cè)試組網(wǎng)圖，芯片封裝和一部分PCB走線造成的損耗都是通過PCI-SIG使用PCI-E協(xié)議分析儀能不能直接告訴我總線上的協(xié)議錯(cuò)誤？智能化多端口矩陣測(cè)試PCI-E測(cè)試銷售價(jià)格

按照測(cè)試規(guī)范的要求，在發(fā)送信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試中，只要有1個(gè)Preset值下能夠通過信 號(hào)質(zhì)量測(cè)試就算過關(guān)；但是在Preset的測(cè)試中，則需要依次遍歷所有的Preset,并依次保存 波形進(jìn)行分析。對(duì)于PCIe3.0和PCIe4.0的速率來說，由于采用128b/130b編碼，其一致性測(cè)試碼型比之前8b/10b編碼下的一致性測(cè)試碼型要復(fù)雜，總共包含36個(gè)128b/130b的   編碼字。通過特殊的設(shè)計(jì)， 一致性測(cè)試碼型中包含了長(zhǎng)“1”碼型、長(zhǎng)“0”碼型以及重復(fù)的“01” 碼型，通過對(duì)這些碼型的計(jì)算和處理，測(cè)試軟件可以方便地進(jìn)行預(yù)加重、眼圖、抖動(dòng)、通道損   耗的計(jì)算。 11是典型PCle3.0和PCIe4.0速率下的一致性測(cè)試碼型。智能化多端口矩陣測(cè)試PCI-E測(cè)試銷售價(jià)格走pcie通道的M.2接口必定是支持NVME協(xié)議的嗎？

這么多的組合是不可能完全通過人工設(shè)置和調(diào)整  的，必須有一定的機(jī)制能夠根據(jù)實(shí)際鏈路的損耗、串?dāng)_、反射差異以及溫度和環(huán)境變化進(jìn)行  自動(dòng)的參數(shù)設(shè)置和調(diào)整，這就是鏈路均衡的動(dòng)態(tài)協(xié)商。動(dòng)態(tài)的鏈路協(xié)商在PCIe3.0規(guī)范中  就有定義，但早期的芯片并沒有普遍采用；在PCIe4.0規(guī)范中，這個(gè)要求是強(qiáng)制的，而且很  多測(cè)試項(xiàng)目直接與鏈路協(xié)商功能相關(guān)，如果支持不好則無法通過一致性測(cè)試。圖4.7是  PCIe的鏈路狀態(tài)機(jī)，從設(shè)備上電開始，需要經(jīng)過一系列過程才能進(jìn)入L0的正常工作狀態(tài)。 其中在Configuration階段會(huì)進(jìn)行簡(jiǎn)單的速率和位寬協(xié)商，而在Recovery階段則會(huì)進(jìn)行更  加復(fù)雜的發(fā)送端預(yù)加重和接收端均衡的調(diào)整和協(xié)商。

對(duì)于PCIe來說，由于長(zhǎng)鏈路時(shí)的損耗很大，因此接收端的裕量很小。為了掌握實(shí)際工 作環(huán)境下芯片內(nèi)部實(shí)際接收到的信號(hào)質(zhì)量，在PCIe3.0時(shí)代，有些芯片廠商會(huì)用自己內(nèi)置 的工具來掃描接收到的信號(hào)質(zhì)量，但這個(gè)功能不是強(qiáng)制的。到了PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)中，規(guī)范把 接收端的信號(hào)質(zhì)量掃描功能作為強(qiáng)制要求，正式名稱是Lane Margin(鏈路裕量)功能。 簡(jiǎn)單的Lane Margin功能的實(shí)現(xiàn)是在芯片內(nèi)部進(jìn)行二維的誤碼率掃描，即通過調(diào)整水平方 向的采樣點(diǎn)時(shí)刻以及垂直方向的信號(hào)判決閾值，PCIE 5.0，速率翻倍vs性能優(yōu)化；

簡(jiǎn)單總結(jié)一下，PCIe4.0和PCIe3.0在物理層技術(shù)上的相同點(diǎn)和不同點(diǎn)有：(1)PCIe4.0的數(shù)據(jù)速率提高到了16Gbps,并向下兼容前代速率；(2)都采用128b/130b數(shù)據(jù)編碼方式；(3)發(fā)送端都采用3階預(yù)加重和11種Preset;(4)接收端都有CTLE和DFE的均衡；(5)PCIe3.0是1抽頭DFE,PCIe4.0是2抽頭DFE;(6)PCIe4.0接收芯片的LaneMargin功能為強(qiáng)制要求(7)PCIe4.0的鏈路長(zhǎng)度縮減到12英寸，多1個(gè)連接器，更長(zhǎng)鏈路需要Retimer;(8)為了支持應(yīng)對(duì)鏈路損耗以及不同鏈路的情況，新開發(fā)的PCle3.0芯片和全部PCIe4.0芯片都需要支持動(dòng)態(tài)鏈路協(xié)商功能；PCI-E轉(zhuǎn)USB或UFS接口的控制芯片和測(cè)試板的制作方法；河北PCI-E測(cè)試市場(chǎng)價(jià)價(jià)格走勢(shì)

PCI-E測(cè)試信號(hào)質(zhì)量測(cè)試；智能化多端口矩陣測(cè)試PCI-E測(cè)試銷售價(jià)格

PCle5.0的鏈路模型及鏈路損耗預(yù)算在實(shí)際的測(cè)試中，為了把被測(cè)主板或插卡的PCIe信號(hào)從金手指連接器引出，PCI-SIG組織也設(shè)計(jì)了專門的PCIe5.0測(cè)試夾具。PCle5.0的這套夾具與PCle4.0的類似，也是包含了CLB板、CBB板以及專門模擬和調(diào)整鏈路損耗的ISI板。主板的發(fā)送信號(hào)質(zhì)量測(cè)試需要用到對(duì)應(yīng)位寬的CLB板；插卡的發(fā)送信號(hào)質(zhì)量測(cè)試需要用到CBB板；而在接收容限測(cè)試中，由于要進(jìn)行全鏈路的校準(zhǔn)，整套夾具都可能會(huì)使用到。21是PCIe5.0的測(cè)試夾具組成。智能化多端口矩陣測(cè)試PCI-E測(cè)試銷售價(jià)格