遼寧DDR測(cè)試聯(lián)系人

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2025-08-31

8.PCBLayout在實(shí)際的PCB設(shè)計(jì)時(shí),考慮到SI的要求,往往有很多的折中方案。通常,需要優(yōu)先考慮對(duì)于那些對(duì)信號(hào)的完整性要求比較高的。畫(huà)PCB時(shí),當(dāng)考慮以下的一些相關(guān)因素,那么對(duì)于設(shè)計(jì)PCB來(lái)說(shuō)可靠性就會(huì)更高。1)首先,要在相關(guān)的EDA工具里設(shè)置好拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)和相關(guān)約束。2)將BGA引腳突圍,將ADDR/CMD/CNTRL引腳布置在DQ/DQS/DM字節(jié)組的中間,由于所有這些分組操作,為了盡可能少的信號(hào)交叉,一些的管腳也許會(huì)被交換到其它區(qū)域布線。3)由串?dāng)_仿真的結(jié)果可知,盡量減少短線(stubs)長(zhǎng)度。通常,短線(stubs)是可以被削減的,但不是所有的管腳都做得到的。在BGA焊盤(pán)和存儲(chǔ)器焊盤(pán)之間也許只需要兩段的走線就可以實(shí)現(xiàn)了,但是此走線必須要很細(xì),那么就提高了PCB的制作成本,而且,不是所有的走線都只需要兩段的,除非使用微小的過(guò)孔和盤(pán)中孔的技術(shù)。終,考慮到信號(hào)完整性的容差和成本,可能選擇折中的方案。一種DDR4內(nèi)存信號(hào)測(cè)試方法;遼寧DDR測(cè)試聯(lián)系人

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這里有三種方案進(jìn)行對(duì)比考慮:一種是,通過(guò)過(guò)孔互聯(lián)的這個(gè)過(guò)孔附近沒(méi)有任何地過(guò)孔,那么,其返回路徑只能通過(guò)離此過(guò)孔250mils的PCB邊緣來(lái)提供;第二種是,一根長(zhǎng)達(dá)362mils的微帶線;第三種是,在一個(gè)信號(hào)線的四周有四個(gè)地過(guò)孔環(huán)繞著。圖6顯示了帶有60Ohm的常規(guī)線的S-Parameters,從圖中可以看出,帶有四個(gè)地過(guò)孔環(huán)繞的信號(hào)過(guò)孔的S-Parameters就像一根連續(xù)的微帶線,從而提高了S21特性。

由此可知,在信號(hào)過(guò)孔附近缺少返回路徑的情況下,則此信號(hào)過(guò)孔會(huì)增高其阻抗。當(dāng)今的高速系統(tǒng)里,在時(shí)延方面顯得尤為重要。 遼寧DDR測(cè)試聯(lián)系人協(xié)助DDR有那些工具測(cè)試;

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4.時(shí)延匹配在做到時(shí)延的匹配時(shí),往往會(huì)在布線時(shí)采用trombone方式走線,另外,在布線時(shí)難免會(huì)有切換板層的時(shí)候,此時(shí)就會(huì)添加一些過(guò)孔。不幸的是,但所有這些彎曲的走線和帶過(guò)孔的走線,將它們拉直變?yōu)榈乳L(zhǎng)度理想走線時(shí),此時(shí)它們的時(shí)延是不等的,

顯然,上面講到的trombone方式在時(shí)延方面同直走線的不對(duì)等是很好理解的,而帶過(guò)孔的走線就更加明顯了。在中心線長(zhǎng)度對(duì)等的情況下,trombone走線的時(shí)延比直走線的實(shí)際延時(shí)是要來(lái)的小的,而對(duì)于帶有過(guò)孔的走線,時(shí)延是要來(lái)的大的。這種時(shí)延的產(chǎn)生,這里有兩種方法去解決它。一種方法是,只需要在EDA工具里進(jìn)行精確的時(shí)延匹配計(jì)算,然后控制走線的長(zhǎng)度就可以了。而另一種方法是在可接受的范圍內(nèi),減少不匹配度。對(duì)于trombone線,時(shí)延的不對(duì)等可以通過(guò)增大L3的長(zhǎng)度而降低,因?yàn)椴⑿芯€間會(huì)存在耦合,其詳細(xì)的結(jié)果,可以通過(guò)SigXP仿真清楚的看出,L3長(zhǎng)度的不同,其結(jié)果會(huì)有不同的時(shí)延,盡可能的加長(zhǎng)S的長(zhǎng)度,則可以更好的降低時(shí)延的不對(duì)等。對(duì)于微帶線來(lái)說(shuō),L3大于7倍的走線到地的距離是必須的。

對(duì)于DDR2和DDR3,時(shí)鐘信號(hào)是以差分的形式傳輸?shù)模贒DR2里,DQS信號(hào)是以單端或差分方式通訊取決于其工作的速率,當(dāng)以高度速率工作時(shí)則采用差分的方式。顯然,在同樣的長(zhǎng)度下,差分線的切換時(shí)延是小于單端線的。根據(jù)時(shí)序仿真的結(jié)果,時(shí)鐘信號(hào)和DQS也許需要比相應(yīng)的ADDR/CMD/CNTRL和DATA線長(zhǎng)一點(diǎn)。另外,必須確保時(shí)鐘線和DQS布在其相關(guān)的ADDR/CMD/CNTRL和DQ線的當(dāng)中。由于DQ和DM在很高的速度下傳輸,所以,需要在每一個(gè)字節(jié)里,它們要有嚴(yán)格的長(zhǎng)度匹配,而且不能有過(guò)孔。差分信號(hào)對(duì)阻抗不連續(xù)的敏感度比較低,所以換層走線是沒(méi)多大問(wèn)題的,在布線時(shí)優(yōu)先考慮布時(shí)鐘線和DQS。DDR有那些測(cè)試解決方案;

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DDR測(cè)試

DDRDIMM內(nèi)存條測(cè)試處理內(nèi)存條測(cè)試儀重要的部分是自動(dòng)處理機(jī)。處理機(jī)一般采用鍍金連接器以保證與內(nèi)存條良好的電接觸。在頻率為266MHz時(shí),2英寸長(zhǎng)的連接器將會(huì)造成測(cè)試信號(hào)極大衰減。為解決上述難題,一種新型處理機(jī)面市了。它采用普通手動(dòng)測(cè)試儀的插槽。測(cè)試儀可以模擬手動(dòng)插入,平穩(wěn)地插入待測(cè)內(nèi)存條的插槽;一旦測(cè)試完成,內(nèi)存條又可以平穩(wěn)地從插槽中拔出。


克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

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不同種類的DDR協(xié)議測(cè)試探頭;遼寧DDR測(cè)試聯(lián)系人

DDR測(cè)試

DDR的信號(hào)仿真驗(yàn)證由于DDR芯片都是采用BGA封裝,密度很高,且分叉、反射非常嚴(yán)重,因此前期的仿真是非常必要的。是借助仿真軟件中專門針對(duì)DDR的仿真模型庫(kù)仿真出的通道損耗以及信號(hào)波形。仿真出信號(hào)波形以后,許多用戶需要快速驗(yàn)證仿真出來(lái)的波形是否符合DDR相關(guān)規(guī)范要求。這時(shí),可以把軟件仿真出的DDR的時(shí)域波形導(dǎo)入到示波器中的DDR測(cè)試軟件中,并生成相應(yīng)的一致性測(cè)試報(bào)告,這樣可以保證仿真和測(cè)試分析方法的一致,并且便于在仿真階段就發(fā)現(xiàn)可能的信號(hào)違規(guī)。 遼寧DDR測(cè)試聯(lián)系人