設(shè)備USB測試DDR測試

需要 指出的是在 TP3(Case 2) 遠(yuǎn)端 校準(zhǔn)時(shí)，   除了 Type-C cable 外， 還 需要 ISI boards，   利用 網(wǎng) 絡(luò) 分 析 實(shí)測，   保 證 ISI boards+Type-C cable+Test fixture 整個(gè)測試鏈路的插入損耗滿足 18-19 dB at 5GHz for Gen 2 (10Gbps) 和 16-17 dB at 10GHz for Gen 3 (20Gbps) 的要求。

同時(shí)，  是德科技提供 N5991U40A USB4.0 全自動化接收端軟件，  幫 助客戶非常方便的控制示波器對誤碼儀輸出的加壓信號進(jìn)行校 準(zhǔn)，  通過 USB4.0 Microcontroller 和 USB4ETT 軟件讀取誤碼測試時(shí)誤 碼儀和被測芯片 Preset 和鏈路協(xié)商過程、以及的誤碼測試結(jié) 果，  生成完整的測試報(bào)告。 USB接口可靠性測試方法；設(shè)備USB測試DDR測試

USB電纜/連接器測試和USB2.0相比，USB3.0及以上產(chǎn)品的信號帶寬高出很多，電纜、連接器和信號傳輸路徑驗(yàn)證變得更加重要。圖3.39是規(guī)范中對支持10Gbps信號的Type-C電纜的插入損耗(InsertionLoss)和回波損耗(ReturnLoss)的要求。

很多高速傳輸電纜的插損和反射是用頻域的S參數(shù)的形式描述的，頻域傳輸參數(shù)的測 試標(biāo)準(zhǔn)是矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)。另外，對于電纜來說還有一些時(shí)域參數(shù)，如差分阻抗和 不對稱偏差(Skew)等也必須符合規(guī)范要求，這兩個(gè)參數(shù)通常是用TDR/TDT來測量。目前 很多VNA已經(jīng)可以通過增加時(shí)域TDR選件(對頻域測試參數(shù)進(jìn)行反FFT變換實(shí)現(xiàn))的方 式實(shí)現(xiàn)TDR/TDT功能。另外，USB Type-C電纜上要測試的線對數(shù)量很多，通過模塊化的 設(shè)計(jì)，VNA可以在一個(gè)機(jī)箱里支持多達(dá)32個(gè)端口，因此所有差分電纜/連接器的測試項(xiàng)目 都可以通過一 臺多端口的VNA來完成。圖3.40是用多端口的VNA配合測試夾具進(jìn)行 Type-C 的USB 電纜測試的例子。 天津通信USB測試USB3.0信號質(zhì)量測試中的測試碼型和LFPS信號？

每一代USB新的標(biāo)準(zhǔn)推出，都考慮到了對前一代的兼容能力，但是一些新的特性可能只能在新的技術(shù)下支持。比如USB3.2的X2模式、USB4.0的20Gbps速率、更強(qiáng)的供電能力及對多協(xié)議的支持等，都只能在新型的Type-C連接器上實(shí)現(xiàn)。由于USB總線的信號速率已經(jīng)很高，且鏈路損耗和鏈路組合的情況非常復(fù)雜，所以給設(shè)計(jì)和測試驗(yàn)證工作帶來了挑戰(zhàn)，對于測試儀器的功能和性能要求也與傳統(tǒng)的USB2.0差別很大。下面將詳細(xì)介紹其相關(guān)的電氣性能測試方法。由于涉及的標(biāo)準(zhǔn)眾多，為了避免混淆，我們將把USB3.0、USB3.1、USB3.2標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)稱為USB3.x,并與USB4.0標(biāo)準(zhǔn)分開介紹。

新USB4標(biāo)準(zhǔn)新USB4標(biāo)準(zhǔn)引入了16種新的預(yù)置值，也就是說，發(fā)射機(jī)均衡現(xiàn)在有16種不同的組合。較USB 3.2發(fā)射機(jī)，這是一個(gè)很大的變化，前者支持1個(gè)前沖電平和3個(gè)加重電平。USB4采用雙重角色數(shù)據(jù)操作，使主機(jī)到主機(jī)通信成為可能。USB4接收機(jī)測試和鏈路/通路初始化中的巨大差異之一，是它采用邊帶通道進(jìn)行通信。USB4接收機(jī)測試不同于傳統(tǒng) USB 3. 2接收機(jī)測試?，F(xiàn)在，USB4接收機(jī)測試采用機(jī)載誤碼計(jì)數(shù)器，來計(jì)算BER，因此我們現(xiàn)在需要USB4微控制器，來同時(shí)執(zhí)行發(fā)射機(jī)測試和接收機(jī)測試。usb3.0規(guī)范中對接收端均衡器的定義？

另外，由于5Gbps或10Gbps的信號經(jīng)過長電纜和PCB傳輸以后有可能眼圖就無法張開了，所以在芯片接收端內(nèi)部會提供CTLE(連續(xù)時(shí)間線性均衡)功能以補(bǔ)償高頻損耗，因此測試時(shí)示波器的測試軟件也要能支持CTLE才能模擬出接收端對信號均衡以后的真實(shí)的結(jié)果。圖3.6是在USB3.2的規(guī)范中，分別對于Genl的5Gbps信號和Gen2的10Gbps信號CTLE的均衡器的定義。

以下是USB3.x的信號測試方法相對于USB2.0的區(qū)別：

(1)示波器的測試點(diǎn)在一致性電纜(compliancecable)和一致性電路板(complianceboard)之后。而以前的測試是在發(fā)送端的連接器處(如USB2.0)。

(2)后處理需要使用CTLE均衡器，在均衡器后觀察和分析眼圖及其參數(shù)。

(3)需要連續(xù)測量1M個(gè)UI(比特間隔)。

(4)需要計(jì)算基于1.0×10-12誤碼率的DJ、RJ和TJ。 USB3.0信號測試軟件物理層接收端的測試方法；設(shè)備USB測試DDR測試

USB3.0一致性測試內(nèi)容；設(shè)備USB測試DDR測試

基于Type-C接口還可以更好地支持Power Delivery技術(shù)，以實(shí)現(xiàn)更智能強(qiáng)大的 充電能力。即插即用、數(shù)據(jù)傳輸與充電合一是USB接口的一個(gè)重要特征。在USB2.0時(shí) 代，USB接口可以支持2.5W的供電能力(5V/500mA),到USB3.0時(shí)代提高到了4.5W (5V/900mA),但這樣的供電能力對于筆記本或者一些稍大點(diǎn)的電器都是不夠的。由于一 些產(chǎn)品的質(zhì)量問題，也出現(xiàn)過充電過程中起火燒毀的事故。為了支持更強(qiáng)大的充電能力，同 時(shí)避免安全隱患，USB3.1標(biāo)準(zhǔn)中引入了Power Delivery協(xié)議(即PD協(xié)議),一方面允許更 大范圍的供電能力(比如5V/2A、12V/1.5A、12V/3A、12V/5A、20V/3A、20V/5A),另一方 面要通過CC線進(jìn)行PD的協(xié)商以了解線纜和對端支持的供電能力，只有協(xié)商成功后才允 許提供更高的電壓或工作電流。圖3. 16展示了PD協(xié)議中定義的不同等級的供電能力 標(biāo)準(zhǔn)。設(shè)備USB測試DDR測試