南通剝離液供應(yīng)

光電行業(yè)的大力發(fā)展，致使剝離液被國(guó)內(nèi)外研究人員所關(guān)注及研究，雖然在**網(wǎng)及技術(shù)網(wǎng)上對(duì)剝離液的闡述較少，但當(dāng)前國(guó)內(nèi)與國(guó)外均在剝離液廢液如何利用及處置方面有了一定的成果，。美國(guó)專利US7273560公布了包含單乙醇胺與二乙二醇單丁醚組合的光刻膠剝離液廢液中含有、77%的二乙二醇單丁醚、3%的光刻膠和?，F(xiàn)有技術(shù)***采用的光刻膠剝離液廢液回收方法通常是通過薄膜蒸發(fā)器回收大部分的有機(jī)成分，回收得到的有機(jī)組分或再經(jīng)脫色脫水等處理后可再次作為光刻膠剝離液應(yīng)用。這種方法雖然流程簡(jiǎn)便，但在使用薄膜蒸發(fā)器蒸發(fā)溶劑過程中，光刻膠濃度達(dá)到一定程度后其傳熱傳質(zhì)效率快速下降，使溶劑回收效率大為降低，處理能耗***升高。且除去溶劑后殘留的光刻膠等物質(zhì)需要定期將其***干凈，進(jìn)而影響工藝操作效率。另外，美國(guó)專利US公布了在蝕刻產(chǎn)線上設(shè)置過濾回收裝置，通過粗孔和細(xì)孔過濾器的兩步組合過濾法除去光刻膠，將光刻膠剝離液在產(chǎn)線上循環(huán)使用。剝離液中加入添加劑可保護(hù)金屬層；南通剝離液供應(yīng)

以往的光刻膠剝離液對(duì)金屬的腐蝕較大，可能進(jìn)入疊層內(nèi)部造成線路減薄，藥液殘留，影響產(chǎn)品的質(zhì)量。因此有必要開發(fā)一種不會(huì)對(duì)疊層晶圓產(chǎn)生過腐蝕的光刻膠剝離液。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：本發(fā)明的主要目的在于提供一種用于疊層晶圓的光刻膠剝離液，既具有較高的光刻膠剝離效率，又不會(huì)對(duì)晶圓內(nèi)層有很大的腐蝕。本發(fā)明通過如下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)上述目的：一種用于疊層晶圓的光刻膠剝離液，配方包括10～20wt％二甲基亞砜，10～20wt％一乙醇胺，5～11wt％四甲基氫氧化銨，～1wt％硫脲類緩蝕劑和～2wt％聚氧乙烯醚類非離子型表面活性劑，5～15wt％n-甲基吡咯烷酮和余量的去離子水。具體的。滁州京東方用的蝕刻液剝離液生產(chǎn)溶劑型剝離液哪里可以購買？

光刻作為IC制造的關(guān)鍵一環(huán)常常被人重視，但是光刻膠都是作為層被去掉的，如何快速、干凈的去除工藝后的光刻膠是一個(gè)經(jīng)常被疏忽的問題，但是很重要，直接影響了產(chǎn)品質(zhì)量。如何快速有效的去除光刻膠。筆者**近就碰到一些去膠的問題，比如正膠和負(fù)膠去除需要的工藝有差別。去膠工藝還和光刻膠受過什么樣的工藝處理有關(guān)，比如ICPRIE之后的光刻膠、還有濕法腐蝕后的光刻膠。市面上針對(duì)光刻膠去除的特殊配方的去膠液有很多種，但需要根據(jù)自身產(chǎn)品特性加以選擇。在做砷化鎵去除光阻的案例，砷化鎵是一種化合物半導(dǎo)體材料，分子式GaAs。立方晶系閃鋅礦結(jié)構(gòu)，即由As和Ga兩種原子各自組成面心立方晶格套構(gòu)而成的復(fù)式晶格，其晶格常數(shù)是。室溫下禁帶寬度，是直接帶隙半導(dǎo)體，熔點(diǎn)1238℃，質(zhì)量密度，電容率。在其中摻入Ⅵ族元素Te、Se、S等或Ⅳ族元素Si，可獲得N型半導(dǎo)體，摻入Ⅱ族元素Be、Zn等可制得P型半導(dǎo)體，摻入Cr或提高純度可制成電阻率高達(dá)107～108Ω·cm的半絕緣材料。

所述的鏈胺為乙醇胺、二乙醇胺、三乙醇胺、二甘醇胺、異丙醇胺、甲基二乙醇胺、amp-95中的任意一種或多種。技術(shù)方案中，所述的環(huán)胺為氨乙基哌嗪、羥乙基哌嗪、氨乙基嗎啉中的任意一種或多種。技術(shù)方案中，所述的緩蝕劑為三唑類物質(zhì)。的技術(shù)方案中，所述的緩蝕劑為苯并三氮唑、甲基苯并三氮唑中的任意一種。技術(shù)方案中，所述的潤(rùn)濕劑含有羥基。技術(shù)方案中，所述的潤(rùn)濕劑為聚乙二醇、甘油中的任意一種。經(jīng)由上述的技術(shù)方案可知，與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有以下有益效果：本發(fā)明中加入環(huán)胺與鏈胺，能夠滲透、斷開光刻膠分子間弱結(jié)合力，能夠快速、有效地溶解光刻膠，而配方中加入潤(rùn)濕劑，能夠有效地減少接觸角，增強(qiáng)親水性，使得剝離液親水性良好，能快速高效地剝離溶解光刻膠。附圖說明：圖1為配方一和配方二的剝離液滴落在平面時(shí)兩者的接觸角對(duì)比圖。圖2為配方一和配方二的剝離液應(yīng)用是光刻膠的殘留量對(duì)比圖。具體實(shí)施方式現(xiàn)有技術(shù)中的剝離液其水置換能力較差，容易造成面板邊緣光刻膠殘留，本申請(qǐng)經(jīng)過大量的試驗(yàn)，創(chuàng)造性的發(fā)現(xiàn)，在剝離液中加入潤(rùn)濕劑，能夠使固體物料(高世代面板)更易被水浸濕的物質(zhì)，通過降低其表面張力或界面張力，使水能展開在固體物料。銅剝離液的配方是什么？

本發(fā)明涉及剝離液技術(shù)領(lǐng)域：，更具體的說是涉及一種高世代面板銅制程光刻膠剝離液。背景技術(shù)：：電子行業(yè)飛速發(fā)展，光刻膠應(yīng)用也越來越。在半導(dǎo)體元器件制造過程中，經(jīng)過涂敷-顯影-蝕刻過程，在底層金屬材料上蝕刻出所需線條之后，必須在除去殘余光刻膠的同時(shí)不能損傷任何基材，才能再進(jìn)行下道工序。因此，光刻膠的剝離質(zhì)量也有直接影響著產(chǎn)品的質(zhì)量。但是傳統(tǒng)光刻膠剝離液雖然能剝離絕大部分光阻，但對(duì)于高世代面板(高世代面板是代指大尺寸的液晶面板)，傳統(tǒng)剝離液親水性不夠，水置換能力較差，容易造成面板邊緣光刻膠殘留。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：本發(fā)明的目的是提供一種高世代面板銅制程光刻膠剝離液。為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案：本申請(qǐng)公開了一種高世代面板銅制程光刻膠剝離液，包括以下質(zhì)量組分：酰胺：50-60％；醇醚：35-45％；環(huán)胺與鏈胺：3-7％；緩蝕劑：％％；潤(rùn)濕劑：％％。的技術(shù)方案中，所述的酰胺為n-甲基甲酰胺、n-甲基乙酰胺、n，n-二甲基甲酰胺中的任意一種或多種。的技術(shù)方案中，所述的醇醚為二乙二醇丁醚、二乙二醇甲醚、乙二醇甲醚、乙二醇乙醚中的任意一種或多種。的技術(shù)方案中。剝離液可以實(shí)現(xiàn)光刻膠的剝離；揚(yáng)州銅蝕刻液剝離液訂做價(jià)格

剝離液的價(jià)格哪家比較優(yōu)惠？南通剝離液供應(yīng)

實(shí)施例1～6：按照表1配方將二甲基亞砜、一乙醇胺、四甲基氫氧化銨、硫脲類緩蝕劑、聚氧乙烯醚類非離子型表面活性劑、n-甲基吡咯烷酮和去離子水混合，得到用于疊層晶圓的光刻膠剝離液。表1：注：含量中不滿100wt％的部分由去離子水補(bǔ)足余量。以cna披露的光刻膠剝離液作為對(duì)照例，與實(shí)施例1～6所得用于疊層晶圓的光刻膠剝離液進(jìn)行比較試驗(yàn)，對(duì)面積均為300cm2的疊層晶圓上的光刻膠進(jìn)行剝離并分別測(cè)定剝離周期、金屬鍍層的腐蝕率和過片量(剝離的面壁數(shù)量)。對(duì)比情況見表2：表2：剝離周期/s金屬腐蝕率/ppm過片量/片實(shí)施例1130～15015376實(shí)施例2130～15016583實(shí)施例3130～15017279實(shí)施例4130～15015675實(shí)施例5130～15016372實(shí)施例6130～15017681對(duì)照例180～20022664由表2可知，本用于疊層晶圓的光刻膠剝離液通過加入硫脲類緩蝕劑和聚氧乙烯醚類非離子型表面活性劑，使剝離效率有明顯的提升，對(duì)金屬腐蝕率降低20％以上，而且讓過片量提高10％以上。以上所述的*是本發(fā)明的一些實(shí)施方式。對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明創(chuàng)造構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。南通剝離液供應(yīng)