南京新型真空鍍膜

LPCVD加熱系統(tǒng)是用于提供反應(yīng)所需的高溫的部分，通常由電阻絲或鹵素?zé)艚M成。溫度控制系統(tǒng)是用于監(jiān)測和調(diào)節(jié)反應(yīng)室內(nèi)溫度的部分，通常由溫度傳感器和控制器組成。壓力控制系統(tǒng)是用于監(jiān)測和調(diào)節(jié)反應(yīng)室內(nèi)壓力的部分，通常由壓力傳感器和控制器組成。流量控制系統(tǒng)是用于監(jiān)測和調(diào)節(jié)氣體前驅(qū)體的流量的部分，通常由流量計和控制器組成。LPCVD設(shè)備的設(shè)備構(gòu)造還需要考慮以下幾個方面的因素：（1）反應(yīng)室的形狀和尺寸，影響了氣體在反應(yīng)室內(nèi)的流動和分布，從而影響了薄膜的均勻性和質(zhì)量；（2）反應(yīng)室的材料和表面處理，影響了反應(yīng)室壁面上沉積的材料和顆粒污染，從而影響了薄膜的純度和清洗頻率；（3）襯底的放置方式和數(shù)量，影響了襯底之間的間距和方向，從而影響了薄膜的厚度和均勻性；（4）加熱方式和溫度分布，影響了襯底材料的熱損傷和熱預(yù)算，從而影響了薄膜的結(jié)構(gòu)和性能。鍍膜過程需在高度真空環(huán)境中進(jìn)行。南京新型真空鍍膜

LPCVD設(shè)備中的薄膜材料的質(zhì)量和性能可以通過多種方法進(jìn)行表征和評價。常見的表征和評價方法有以下幾種：（1）厚度測量法，是指通過光學(xué)或電子手段來測量薄膜的厚度，如橢圓偏振儀、納米壓痕儀、電子顯微鏡等；（2）成分分析法，是指通過光譜或質(zhì)譜手段來分析薄膜的化學(xué)成分，如X射線光電子能譜（XPS）、二次離子質(zhì)譜（SIMS）、原子發(fā)射光譜（AES）等；（3）結(jié)構(gòu)表征法，是指通過衍射或散射手段來表征薄膜的晶體結(jié)構(gòu)，如X射線衍射（XRD）、拉曼光譜（Raman）、透射電子顯微鏡（TEM）等；（4）性能測試法，是指通過電學(xué)或力學(xué)手段來測試薄膜的物理性能，如電阻率、介電常數(shù)、硬度、應(yīng)力等。磁控濺射真空鍍膜工藝鍍膜后的零件具有優(yōu)異的導(dǎo)電性能。

磁控濺射方向性要優(yōu)于電子束蒸發(fā)，但薄膜質(zhì)量，表面粗糙度等方面不如電子束蒸發(fā)。但磁控濺射可用于多種材料，適用性廣，電子束蒸發(fā)則只能用于金屬材料蒸鍍，且高熔點(diǎn)金屬，如W，Mo等的蒸鍍較為困難。所以磁控濺射常用于新型氧化物，陶瓷材料的鍍膜，電子束則用于對薄膜質(zhì)量較高的金屬材料沉積源是真空鍍膜技術(shù)中另一個必不可少的設(shè)備。襯底支架是用于在沉積過程中將襯底固定到位的裝置。基板支架可以有不同的配置，例如行星式、旋轉(zhuǎn)式或線性平移，具體取決于應(yīng)用要求。沉積源的選擇取決于涂層應(yīng)用的具體要求，例如涂層材料、沉積速率和涂層質(zhì)量。

影響靶中毒的因素主要是反應(yīng)氣體和濺射氣體的比例，反應(yīng)氣體過量就會導(dǎo)致靶中毒。反應(yīng)濺射工藝進(jìn)行過程中靶表面濺射溝道區(qū)域內(nèi)出現(xiàn)被反應(yīng)生成物覆蓋或反應(yīng)生成物被剝離而重新暴露金屬表面此消彼長的過程。如果化合物的生成速率大于化合物被剝離的速率，化合物覆蓋面積增加。在一定功率的情況下，參與化合物生成的反應(yīng)氣體量增加，化合物生成率增加。如果反應(yīng)氣體量增加過度，化合物覆蓋面積增加，如果不能及時調(diào)整反應(yīng)氣體流量，化合物覆蓋面積增加的速率得不到抑制，濺射溝道將進(jìn)一步被化合物覆蓋，當(dāng)濺射靶被化合物全部覆蓋的時候，靶完全中毒。鍍膜層可賦予材料特定的顏色效果。

電介質(zhì)在集成電路中主要提供器件、柵極和金屬互連間的絕緣，選擇的材料主要是氧化硅和氮化硅等。氧化硅薄膜可以通過熱氧化、化學(xué)氣相沉積和原子層沉積法的方法獲得。如果按照壓力來區(qū)分的話，熱氧化一般為常壓氧化工藝，快速熱氧化等?；瘜W(xué)氣相沉積法一般有低壓化學(xué)氣相沉積氧化工藝，半大氣壓氣相沉積氧化工藝，增強(qiáng)等離子體化學(xué)氣相層積等。在熱氧化工藝中，主要使用的氧源是氣體氧氣、水等，而硅源則是單晶硅襯底或多晶硅、非晶硅等。氧氣會消耗硅（Si），多晶硅（Poly）產(chǎn)生氧化，通常二氧化硅的厚度會消耗0.54倍的硅，而消耗的多晶硅則相對少些。這個特性決定了熱氧化工藝只能應(yīng)用在側(cè)墻工藝形成之前的氧化硅薄膜中。反應(yīng)氣體過量就會導(dǎo)致靶中毒。上海真空鍍膜廠

真空鍍膜技術(shù)一般分為兩大類，即物理的氣相沉積技術(shù)和化學(xué)氣相沉積技術(shù)。南京新型真空鍍膜

電子束真空鍍膜的物理過程：物理的氣相沉積技術(shù)的基本原理可分為三個工藝步驟：（1）電子束激發(fā)鍍膜材料金屬顆粒的氣化：即鍍膜材料的蒸發(fā)、升華從而形成氣化源，（2）鍍膜材料粒子（（原子、分子或離子）的遷移：由氣化源供出原子、分子或離子（原子團(tuán)、分子團(tuán)或離子團(tuán)）經(jīng)過碰撞，產(chǎn)生多種反應(yīng)。（3）鍍膜材料粒子在基片表面的沉積。LPCVD反應(yīng)的能量源是熱能，通常其溫度在500℃-1000℃之間，壓力在0.1Torr-2Torr以內(nèi)，影響其沉積反應(yīng)的主要參數(shù)是溫度、壓力和氣體流量，它的主要特征是因為在低壓環(huán)境下，反應(yīng)氣體的平均自由程及擴(kuò)散系數(shù)變大，膜厚均勻性好、臺階覆蓋性好。目前采用LPCVD工藝制作的主要材料有：多晶硅、單晶硅、非晶硅、氮化硅等。南京新型真空鍍膜