楊浦區(qū)雙金屬溫度計熱工計量校準價格

來源: 發(fā)布時間:2025-04-27

干體式溫度校準器校準前準備

 

1. 標準器及配套設(shè)備

1.主標準器:選用二等標準鉑電阻溫度計,其擴展不確定度需優(yōu)于被校設(shè)備最大允許誤差的1/3。若涉及高溫段,可搭配二等標準鉑銠10-鉑熱電偶。

2.測溫裝置:配置多通道高精度測溫儀及至少3支均勻分布的測溫探頭,用于檢測校準器工作區(qū)域的溫度均勻性和波動度。

3.輔助工具:專業(yè)襯套、隔熱手套、校準軟件。

2. 環(huán)境條件

1.實驗室溫度穩(wěn)定在(20±5,相對濕度≤80%,避免強氣流擾動或電磁干擾。

2.校準器放置于水平穩(wěn)固臺面,四周預(yù)留≥50cm散熱空間,電源單獨接地,電壓波動≤±5%。

3.校準前需提前4小時開機預(yù)熱至常用溫度點,并穩(wěn)定運行1小時以上以消除熱慣性。

3. 被校儀器檢查

1.外觀檢查:校準器外殼無變形,加熱模塊無積碳,測溫孔內(nèi)壁清潔無氧化,電源線及接口完好。

2.性能預(yù)檢:空載條件下,高溫段波動度≤±0.1℃/10min,均勻性≤±0.5℃。驗證控溫PID參數(shù)鎖定功能,禁用自適應(yīng)算法。

3.安全功能:測試超溫報警、過流保護及緊急斷電功能正常。

4.軟件設(shè)置:清理歷史校準數(shù)據(jù),同步校準軟件與校準器的時間戳,設(shè)置數(shù)據(jù)記錄間隔為1分鐘/次。 熱工技術(shù)硬,客戶口碑強!楊浦區(qū)雙金屬溫度計熱工計量校準價格

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工作用輻射溫度計校準步驟

1.連接與預(yù)熱

1.將標準輻射溫度計與待校溫度計對準黑體輻射源中心,保持相同測量距離,確保測量視場完全覆蓋黑體腔開口。

2.開啟黑體輻射源及溫度計電源,預(yù)熱至少30分鐘(具體時間參照設(shè)備說明書)。

2.下限校準

1.設(shè)置黑體源溫度為量程下限,待溫度穩(wěn)定后(波動≤±1℃),記錄標準溫度計示值T1和待校溫度計示值T2。

2.調(diào)整待校溫度計零點/偏移參數(shù),使T2=T1±允許誤差。

3.量程校準

1.將黑體源升溫至量程上限,穩(wěn)定后記錄標準值與待校值

2.通過增益調(diào)整功能修正量程偏差,確保上限點誤差在允許范圍內(nèi)。

4.多點校準

1.在量程范圍內(nèi)均勻選取5個校準點。

2.每個溫度點穩(wěn)定后同步記錄標準值和被校值,計算示值誤差Δ=被校值-。準值

3.繪制溫度-誤差曲線,驗證線性度(典型要求≤±1%FS。

5.回程誤差測試

1.從下限至上限按50℃間隔逐步升溫測試,記錄各點輸出值。

2.從上限以相同間隔逐步降溫測試,計算同一溫度點升/降過程的較大差值。

3.回程誤差應(yīng)基本誤差限的1/2。

6.穩(wěn)定性驗證

1.在中間量程點持續(xù)工作2小時,每15分鐘記錄1次測量值

2.計算比較大漂移量,應(yīng)滿足年穩(wěn)定性指標。

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數(shù)字溫度計校準步驟

 

1.設(shè)備連接與預(yù)熱

1.將被校數(shù)字溫度計與標準鉑電阻溫度計(如PT100)并列置于恒溫槽中,確保傳感器浸入深度≥100mm。

2.連接數(shù)字溫度計輸出信號至數(shù)據(jù)采集器,通電預(yù)熱20分鐘。

2.零點校準

1.設(shè)置恒溫槽至0℃,待溫度波動≤±0.1℃時保持10分鐘。

2.記錄標準溫度值T標與數(shù)字溫度計示值T測,計算零點誤差ΔT=T-T。

3.若誤差超差(如±0.3℃),通過校準菜單修正零點參數(shù)

3.量程校準

1.升溫至量程上限(如150℃),穩(wěn)定后記錄標準值與測量值。

2.調(diào)整量程增益系數(shù),確保上限點誤差≤±0.5%FS。

4.多點校準

1.選取校準點:0℃、50℃、100℃、150℃(量程為0-150℃時)。

2.每點穩(wěn)定后同步記錄數(shù)據(jù),計算線性誤差(要求≤±0.2%FS。

3.通過多點擬合功能優(yōu)化溫度-電壓特性曲線。

5.回程誤差測試

1.50℃1℃/min速率升溫至100℃,記錄各點示值

2.同速率降溫至50℃,計算同溫度點升/降溫比較大偏差(應(yīng)≤±0.3℃。

6.穩(wěn)定性驗證

1.100℃恒溫點持續(xù)運行4小時,每小時記錄1次數(shù)據(jù)。

2.比較大漂移量應(yīng)≤±0.1℃(滿足年穩(wěn)定性≤0.2%FS要求)。

水浴鍋校準步驟

 

1.校準前準備

1.確認環(huán)境條件:溫度(15~35,相對濕度≤85%,無振動及強氣流干擾

2.檢查水浴鍋外觀及功能:確保無漏水、溫控器正常、注水液面覆蓋加熱器20mm以上。

3.準備標準器:選擇擴展不確定度U≤0.1℃的溫度傳感器(如PT100),時間常數(shù)<15s。

2.傳感器布點

1.有孔結(jié)構(gòu):將溫度傳感器置于每個孔的幾何中心(單孔/多孔對應(yīng)不同布點)。

2.無孔結(jié)構(gòu):在工作區(qū)幾何中心及距內(nèi)壁1/10邊長的左上、右上、右下、左下四點布設(shè)。

3.溫度校準實施

1.選擇校準點:使用范圍的上限(如100℃)、下限(如0℃)及中間點(如50℃。

2.設(shè)定目標溫度后穩(wěn)定運行,待溫度波動≤±0.02℃/10min開始記錄

3.空載狀態(tài)下每2分鐘采集數(shù)據(jù),30分鐘內(nèi)至少記錄15組(多通道同步采集)。

4.數(shù)據(jù)處理與判定

1.溫度偏差:ΔT=實測均值-設(shè)定值,允差±1℃(典型工業(yè)級要求)。

2.溫度波動度:(tmax-tmin/2,要求≤±0.5℃。

3.溫度均勻度:各點比較大溫差均值,要求≤1℃。

5.校準后處理

1.調(diào)整PID參數(shù)修正偏差,重新驗證關(guān)鍵校準點。 熱工實驗室,英菲創(chuàng)新高!

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環(huán)境試驗設(shè)備校準步驟

 

1.設(shè)備配置與預(yù)平衡

1.將標準鉑電阻溫度計和標準濕度傳感器安裝于設(shè)備工作空間幾何中心及四角位置,傳感器浸入深度≥100mm

2.連接多通道數(shù)據(jù)采集器,通電預(yù)熱1小時,初始溫度設(shè)定為25℃,濕度設(shè)定為50%RH。

2.校準點選擇

1.溫度校準點:選擇量程下限、上限及中間點,高溫區(qū)需按低溫高溫順序校準。

2.濕度校準點:在20℃環(huán)境中選擇(10~85%RH范圍內(nèi)≥3個點。

3.溫度校準

1.從低溫至高溫逐點升溫,待溫度波動≤±0.02℃/10min后穩(wěn)定30分鐘,同步采集9個測溫點數(shù)據(jù)(設(shè)備容積≤2m3時)。

2.計算溫度偏差(ΔT=實測均值-設(shè)定值)、均勻度(各點比較大溫差)和波動度(中心點極差/2),允差參考JJF1101-2019指標

4.濕度校準

1.按低濕高濕順序校準,穩(wěn)定30分鐘后每2分鐘記錄1次數(shù)據(jù),共15。

2.計算濕度偏差(ΔH=實測均值-設(shè)定值)、均勻度(各點比較大濕差)和波動度(中心點極差/2),允差≤±3.0%RH(高濕區(qū))。

5.動態(tài)性能驗證

1.執(zhí)行溫度循環(huán)測試,驗證升降溫速率(≥3℃/min)及程序控制穩(wěn)定性。

2.濕度交變測試時,驗證從40%RH→80%RH的響應(yīng)時間≤15分鐘。

6.校準修正

通過PID參數(shù)調(diào)整補償溫濕度偏差,重測關(guān)鍵點驗證修正效果。 溫度壓力校準,英菲更在行!寶山區(qū)壓力式溫度計熱工計量

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工作用輻射溫度計校準前準備

 

1.標準器及配套設(shè)備

1.選用標準輻射源(如黑體輻射源),其擴展不確定度應(yīng)優(yōu)于被校輻射溫度計的1/3,溫度范圍需覆蓋200~1200℃(根據(jù)實際需求調(diào)整),黑體發(fā)射率不低于0.99。

2.配備高穩(wěn)定性黑體爐,溫度波動度控制在±0.5℃以內(nèi),均勻性優(yōu)于±1℃(依據(jù)校準點溫度調(diào)整要求)。

3.準備高精度光譜輻射計或經(jīng)校準的標準紅外溫度計,用于比對測量,其分辨率不低于0.1℃,最大允許誤差不超過±0.1%

4.配套距離調(diào)節(jié)裝置,確保輻射溫度計與被測黑體源的距離符合儀器說明書要求,避免視場遮擋。

2.環(huán)境條件

1.實驗室溫度應(yīng)穩(wěn)定在(23±5,相對濕度≤70%,避免強氣流或熱輻射干擾(如空調(diào)直吹、陽光直射或高溫設(shè)備輻射)。

2.校準區(qū)域需屏蔽環(huán)境雜散光及強電磁場,背景輻射溫度與校準目標溫差應(yīng)小于5℃。

3.工作臺應(yīng)穩(wěn)固防振,避免因振動導(dǎo)致光學(xué)對準偏移。

3.被校儀器檢查

1.檢查輻射溫度計光學(xué)鏡頭是否清潔、無劃痕或污染,外殼無變形,銘牌信

息完整。

2.驗證電源及信號接口連接可靠,電池電量充足(如為便攜式),開機后自

檢功能正常。

3.確認參數(shù)設(shè)置正確,包括發(fā)射率、波長范圍、距離系數(shù)等,與被測黑體源

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