南通中低功率LED失效分析金線斷裂

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2025-08-26

LED 顯示屏的死燈現(xiàn)象往往給廠商帶來(lái)巨大困擾,擎奧檢測(cè)為此開(kāi)發(fā)了專項(xiàng)失效分析方案。某品牌戶外顯示屏在暴雨后出現(xiàn)大量燈珠失效,技術(shù)人員通過(guò)密封性測(cè)試發(fā)現(xiàn)部分燈珠的灌封膠存在微裂紋,導(dǎo)致水汽侵入芯片。利用超聲掃描顯微鏡對(duì)燈珠內(nèi)部進(jìn)行無(wú)損檢測(cè),清晰呈現(xiàn)了水汽引發(fā)的電極腐蝕路徑。結(jié)合失效樹(shù)分析(FTA)方法,團(tuán)隊(duì)追溯到封裝工藝中固化溫度不均的問(wèn)題,并提出了階梯式升溫固化的改進(jìn)建議,使產(chǎn)品的耐候性通過(guò)率提升至 99.5%。擎奧檢測(cè)的 LED 失效分析覆蓋多應(yīng)用領(lǐng)域。南通中低功率LED失效分析金線斷裂

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在 LED 驅(qū)動(dòng)電源的失效分析領(lǐng)域,擎奧檢測(cè)的可靠性工程師們展現(xiàn)了獨(dú)到的技術(shù)視角。針對(duì)某款智能照明驅(qū)動(dòng)電源的頻繁燒毀問(wèn)題,他們通過(guò)功率循環(huán)試驗(yàn)?zāi)M電源的實(shí)際工作負(fù)荷,同時(shí)用示波器監(jiān)測(cè)電壓波形的畸變情況。結(jié)合熱仿真分析,發(fā)現(xiàn)電解電容的紋波電流過(guò)大是導(dǎo)致早期失效的關(guān)鍵,而這源于 PCB 布局中高頻回路設(shè)計(jì)不合理。團(tuán)隊(duì)隨即提供了優(yōu)化的 Layout 方案,將電容的工作溫度降低 15℃,使電源的預(yù)期壽命從 2 萬(wàn)小時(shí)延長(zhǎng)至 5 萬(wàn)小時(shí)。農(nóng)業(yè)照明 LED 的失效分析需要兼顧光效衰減與光譜穩(wěn)定性,擎奧檢測(cè)為此配備了專業(yè)的植物生長(zhǎng)燈測(cè)試系統(tǒng)。某溫室大棚的 LED 生長(zhǎng)燈在使用 6 個(gè)月后出現(xiàn)光合作用效率下降,技術(shù)人員通過(guò)積分球測(cè)試發(fā)現(xiàn)藍(lán)光波段的光通量衰減達(dá) 30%。進(jìn)一步的材料分析顯示,熒光粉在特定波長(zhǎng)紫外線下發(fā)生了晶格缺陷,這與散熱不足導(dǎo)致的芯片結(jié)溫過(guò)高密切相關(guān)。團(tuán)隊(duì)隨后設(shè)計(jì)了強(qiáng)制風(fēng)冷的散熱方案,并選用抗紫外老化的熒光粉材料,使燈具在 12 個(gè)月后的光效保持率提升至 85% 以上。南通中低功率LED失效分析金線斷裂擎奧檢測(cè)的 LED 失效分析覆蓋全生命周期。

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在 LED 失效分析過(guò)程中,上海擎奧注重將環(huán)境測(cè)試數(shù)據(jù)與失效分析結(jié)果相結(jié)合,提高分析的準(zhǔn)確性和科學(xué)性。公司擁有先進(jìn)的環(huán)境測(cè)試設(shè)備,可模擬高溫、低溫、高低溫循環(huán)、濕熱、振動(dòng)、沖擊等多種環(huán)境條件,對(duì) LED 產(chǎn)品進(jìn)行可靠性試驗(yàn)。在獲取大量環(huán)境測(cè)試數(shù)據(jù)后,分析團(tuán)隊(duì)會(huì)將這些數(shù)據(jù)與 LED 產(chǎn)品的失效現(xiàn)象進(jìn)行關(guān)聯(lián)研究,探究不同環(huán)境因素對(duì) LED 失效的影響規(guī)律,如高溫環(huán)境下 LED 光衰速度的變化、振動(dòng)環(huán)境下焊點(diǎn)失效的概率等。通過(guò)這種結(jié)合,能夠更多維地了解 LED 產(chǎn)品的失效機(jī)制,為客戶提供更具針對(duì)性的解決方案,幫助客戶設(shè)計(jì)出更適應(yīng)復(fù)雜環(huán)境的 LED 產(chǎn)品。

LED 驅(qū)動(dòng)電路是 LED 產(chǎn)品的重心組成部分,其失效往往會(huì)導(dǎo)致整個(gè) LED 產(chǎn)品無(wú)法正常工作,上海擎奧在 LED 驅(qū)動(dòng)電路失效分析方面擁有專業(yè)的技術(shù)能力。公司配備了先進(jìn)的電學(xué)參數(shù)測(cè)試設(shè)備,可對(duì)驅(qū)動(dòng)電路的電壓、電流、功率等參數(shù)進(jìn)行精細(xì)測(cè)量,結(jié)合材料分析技術(shù)對(duì)電路中的元器件進(jìn)行微觀檢測(cè),分析其失效原因,如電容老化、電阻燒毀、芯片損壞等。團(tuán)隊(duì)會(huì)運(yùn)用失效物理原理,深入研究驅(qū)動(dòng)電路在不同工作條件下的失效機(jī)制,如過(guò)電壓、過(guò)電流、高溫等因素對(duì)電路性能的影響。通過(guò)系統(tǒng)的分析,為客戶提供驅(qū)動(dòng)電路設(shè)計(jì)改進(jìn)、元器件選型等方面的專業(yè)建議,提高 LED 產(chǎn)品的可靠性。運(yùn)用失效物理原理分析 LED 產(chǎn)品故障機(jī)制。

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上海擎奧的 LED 失效分析團(tuán)隊(duì)由 30 余名可靠性設(shè)計(jì)工程、可靠性試驗(yàn)和材料失效分析人員組成,其中行家團(tuán)隊(duì) 10 余人,碩士及博士占比 20%,為高質(zhì)量的分析服務(wù)提供了堅(jiān)實(shí)的人才保障。團(tuán)隊(duì)成員具備豐富的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)和深厚的專業(yè)知識(shí),熟悉各類 LED 產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)原理和失效模式。在開(kāi)展分析工作時(shí),團(tuán)隊(duì)會(huì)充分發(fā)揮多學(xué)科交叉的優(yōu)勢(shì),從材料學(xué)、物理學(xué)、電子工程等多個(gè)角度對(duì) LED 失效問(wèn)題進(jìn)行深入研究。通過(guò)嚴(yán)謹(jǐn)?shù)臏y(cè)試流程、科學(xué)的數(shù)據(jù)分析方法和豐富的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),確保每一份分析報(bào)告的準(zhǔn)確性和可靠性,為客戶提供專業(yè)、高效的技術(shù)支持,幫助客戶解決 LED 產(chǎn)品在研發(fā)、生產(chǎn)和使用過(guò)程中遇到的各類失效的難題。分析 LED 焊點(diǎn)失效的原因及影響因素。南京LED失效分析驅(qū)動(dòng)電路

擎奧檢測(cè)分析 LED 溫度循環(huán)引發(fā)的失效。南通中低功率LED失效分析金線斷裂

LED 驅(qū)動(dòng)電路的失效分析是上海擎奧服務(wù)的重要組成部分,團(tuán)隊(duì)通過(guò)電磁兼容(EMC)測(cè)試室與電路仿真平臺(tái),精確定位驅(qū)動(dòng)電路導(dǎo)致的 LED 失效。針對(duì)某款 LED 路燈的頻繁閃爍問(wèn)題,技術(shù)人員使用示波器捕捉驅(qū)動(dòng)電源的輸出紋波,發(fā)現(xiàn)紋波系數(shù)超過(guò) 15%,結(jié)合頻譜分析儀檢測(cè)到的電磁干擾信號(hào),確定是濾波電容失效導(dǎo)致的電源穩(wěn)定性不足。對(duì)于智能 LED 燈具的控制失效,團(tuán)隊(duì)通過(guò)邏輯分析儀追蹤單片機(jī)的控制信號(hào),結(jié)合環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)(ESS),發(fā)現(xiàn)高溫環(huán)境下的芯片程序跑飛是主因,為客戶提供了驅(qū)動(dòng)電路的抗干擾改進(jìn)方案。南通中低功率LED失效分析金線斷裂