江蘇加工金相分析耗材

來源: 發(fā)布時(shí)間:2025-08-23

上海擎奧的金相分析實(shí)驗(yàn)室配備了從樣品制備到圖像分析的全流程先進(jìn)設(shè)備,為檢測質(zhì)量提供堅(jiān)實(shí)保障。實(shí)驗(yàn)室擁有全自動(dòng)金相研磨拋光機(jī),可實(shí)現(xiàn)從粗磨到精拋的無人化操作,確保樣品表面粗糙度≤0.02μm;蔡司 Axio Scope A1 金相顯微鏡配備 500 萬像素相機(jī),能捕捉細(xì)微的組織特征;Image-Pro Plus 圖像分析軟件可自動(dòng)測量晶粒尺寸、孔隙率等參數(shù),誤差控制在 3% 以內(nèi)。30 余名專業(yè)技術(shù)人員中,有 5 人具備 10 年以上金相分析經(jīng)驗(yàn),能處理各類復(fù)雜材料的檢測需求,為客戶提供兼具精度與深度的技術(shù)服務(wù)。材料可靠性評估中,金相分析是擎奧的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。江蘇加工金相分析耗材

江蘇加工金相分析耗材,金相分析

針對微型電子元件的金相分析,上海擎奧開發(fā)了專項(xiàng)檢測方案。由于芯片級元件尺寸微?。ㄐ≈?0.1mm),傳統(tǒng)金相制備易造成樣品損傷。技術(shù)團(tuán)隊(duì)采用聚焦離子束切割與精密研磨相結(jié)合的方法,可在不破壞微觀結(jié)構(gòu)的前提下制備高質(zhì)截面。在某 5G 芯片的金線鍵合檢測中,通過這種技術(shù)清晰觀察到直徑只有25μm 的金線與焊盤的連接界面,發(fā)現(xiàn)了傳統(tǒng)方法難以識別的微裂紋。該方案的檢測分辨率可達(dá) 0.1μm,滿足高級電子元件的精密分析需求。上海擎奧的金相分析實(shí)驗(yàn)室配備了從樣品制備到圖像分析的全流程先進(jìn)設(shè)備,為檢測質(zhì)量提供堅(jiān)實(shí)保障。浦東新區(qū)加工金相分析執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)碩士及博士人員參與,提升擎奧金相分析的專業(yè)性。

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在芯片封裝可靠性檢測中,金相分析是上海擎奧檢測技術(shù)有限公司的重心技術(shù)之一。通過對芯片封裝截面進(jìn)行精密研磨與腐蝕處理,技術(shù)人員能清晰觀察鍵合線與焊盤的連接狀態(tài)、封裝膠體的內(nèi)部結(jié)構(gòu),以及芯片與基板間的界面結(jié)合情況。針對汽車電子芯片在高溫環(huán)境下的焊點(diǎn)老化問題,團(tuán)隊(duì)借助金相顯微鏡可量化分析金屬間化合物的生長厚度,結(jié)合失效物理模型預(yù)測焊點(diǎn)壽命,為客戶提供精細(xì)的可靠性評估數(shù)據(jù)。先進(jìn)的圖像分析系統(tǒng)能自動(dòng)識別微裂紋、空洞等缺陷,確保檢測結(jié)果的客觀性與重復(fù)性。

在上海浦東新區(qū)金橋開發(fā)區(qū)川橋路1295號的上海擎奧檢測技術(shù)有限公司內(nèi),2500平米的實(shí)驗(yàn)基地里,金相分析設(shè)備正為芯片行業(yè)提供關(guān)鍵技術(shù)支撐。針對芯片封裝過程中出現(xiàn)的焊點(diǎn)開裂、鍍層缺陷等問題,技術(shù)人員通過金相切片制備、顯微鏡觀察等流程,精確捕捉微觀結(jié)構(gòu)變化。借助先進(jìn)的圖像分析系統(tǒng),可量化分析金屬間化合物的厚度與分布,為優(yōu)化封裝工藝提供數(shù)據(jù)依據(jù)。這支由30余名可靠性工程與失效分析人員組成的團(tuán)隊(duì),常與行家團(tuán)隊(duì)協(xié)作,將金相分析結(jié)果與環(huán)境可靠性測試數(shù)據(jù)交叉驗(yàn)證,讓芯片產(chǎn)品的潛在失效風(fēng)險(xiǎn)無所遁形。芯片材料性能的金相分析在擎奧實(shí)驗(yàn)室專業(yè)開展。

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在芯片制造領(lǐng)域,金相分析是把控產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié),上海擎奧檢測技術(shù)有限公司憑借 2500 平米實(shí)驗(yàn)室中配備的先進(jìn)金相分析設(shè)備,為芯片封裝工藝提供精確支持。技術(shù)人員通過對芯片內(nèi)部金屬互連結(jié)構(gòu)的切片、研磨與腐蝕處理,清晰呈現(xiàn)焊點(diǎn)形態(tài)、金屬層界面結(jié)合狀態(tài),可快速識別微裂紋、空洞等潛在缺陷。依托團(tuán)隊(duì)中 20% 碩士及博士組成的技術(shù)骨干力量,結(jié)合失效物理分析經(jīng)驗(yàn),能從金相組織特征追溯芯片可靠性問題根源,為客戶優(yōu)化封裝工藝、提升產(chǎn)品壽命提供科學(xué)依據(jù)照明電子連接器的金相分析在擎奧可靠完成檢測。江蘇加工金相分析耗材

芯片封裝質(zhì)量的金相分析由擎奧專業(yè)團(tuán)隊(duì)執(zhí)行。江蘇加工金相分析耗材

在新能源電池極耳與電芯的連接可靠性檢測中,金相分析是不可或缺的技術(shù)手段。上海擎奧檢測技術(shù)有限公司憑借專業(yè)的制樣團(tuán)隊(duì),可對鋰電池極耳焊接部位進(jìn)行精細(xì)截面處理,通過高倍顯微鏡觀察焊縫的熔合狀態(tài)、是否存在未焊透或氣孔等缺陷。針對動(dòng)力電池在充放電循環(huán)中可能出現(xiàn)的極耳斷裂問題,技術(shù)人員能通過金相分析追溯斷裂源的微觀特征,判斷是焊接工藝缺陷還是材料疲勞導(dǎo)致的失效,為電池廠商改進(jìn)極耳設(shè)計(jì)與焊接工藝提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)。江蘇加工金相分析耗材