靜電放電（ESD）近場電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場掃描診斷分析系統(tǒng)使用電磁場近場耦合探頭套裝，支持0.01mm分辨率步進電磁掃描，采用近場電磁耦合的方式將100V-16kV的靜電放電(ESD)電壓耦合到電路中，從而找到敏感源頭位置，從而提高產(chǎn)品的靜電放電抗擾能力。普遍用于2/3/4/5G手機、藍牙、WiFi、物聯(lián)網(wǎng)無線終端模塊、儀器儀表等行業(yè)，在電磁兼容可靠性正向研發(fā)、靜電放電敏感源頭定位、器件選型靜電放電性能評估、更新方案設計的靜電放電抗干擾性能評估等方面。用戶可以自行對設計進行測試，而不必依賴另外一個部門、測試工程師或進行耗時的場外測試。長沙近場掃描優(yōu)點
近場掃描分系統(tǒng)是一種用于化學領域的分析儀器，于2016年12月1日啟用。用擴展光源照射光纖輸入端面，而在光纖輸出端面上逐點測量出射度，從而測出光纖折射率分布以及其他幾何特性參數(shù)的測試方法。也可用于測量模場直徑，其條件是要使輸入端面照明只激勵光纖基模。此法被推薦作為幾何參數(shù)測定的基準測試法和單模光纖模場直徑的替代測試法，也被推薦作為多模光纖幾何參數(shù)和折射率分布測定的替代測試法。低頻測量更準確，不需要房間校準曲線。廣東快速近場掃描優(yōu)點SSCG功能為“開”時的EMI輻射特性 。
近場掃描系統(tǒng)的制作方法：測量一件介質(zhì)板對電磁波的響應特征，需要用一個饋源發(fā)射電磁波，然后用一個采集設備來采集饋源發(fā)出的電磁波穿過該介質(zhì)板后的電磁波其空間各個點的電磁特性，然后利用處理設備將檢測到的空間各點的電磁特性值記錄下來并進行分析，通過對比有、無介質(zhì)板電磁參數(shù)特性的變化，推導出介質(zhì)材料對電磁波的響應特性。以上過程需要通過三維近場掃描系統(tǒng)完成?，F(xiàn)有的三維近場掃描系統(tǒng)，饋源、介質(zhì)板及采集單元的位置都是手工調(diào)節(jié)的，測試效率低，定位又不準確。
在任何新PCB的開發(fā)過程中，設計工程師都必須找出設計之外的輻射體或射頻泄漏，并對其進行描述和處理以通過一致性測試?？赡艿妮椛潴w包括高速、大功率器件以及具有高密度或高復雜度的器件。掃描系統(tǒng)以疊加在Gerber文件上的形式顯示空間輻射特性，因此測試人員可以準確地找出所有輻射問題的來源。快速磁性極近場測量儀器可以捕獲和顯示頻譜和實時空間掃描結(jié)果的可視圖像。芯片廠商和PCB設計工程師可以掃描任何一塊電路板，并識別出50kHz至4GHz頻率范圍內(nèi)的恒定或時基的輻射源。這種掃描技術有助于快速解決普遍的電磁設計問題，包括濾波、屏蔽、共模、電流分布、抗干擾性和寬帶噪聲。設計工程師可以在采取了相應的解決措施之后，對器件進行重新測試并立即量化出校正設計后的效果。快速測量：標準3D聲學測量，可在不到20分鐘內(nèi)完成典型兩分頻系統(tǒng)的聲功率測量。
EMI近場輻射特性：新一代串行解串器例子這是同一家半導體供應商的第二個例子，該公司開發(fā)了一個通過串行解串器進行點到點傳輸?shù)牡诙酒M解決方案。在第三代芯片組中，設計團隊采用了一種不同的技術并升級了傳輸能力。他們將雙向控制通道一起嵌入高速串行鏈路中，從而實現(xiàn)了雙向傳輸（全雙工）。對測試結(jié)果進行比較之后，設計團隊發(fā)現(xiàn)由于使用了SSCG功能導致電磁輻射顯著減少。汽車電子工程師很大的挑戰(zhàn)在于減少EMI輻射?？蛻糁С謭F隊每次向汽車廠商客戶展示這些結(jié)果時，他們普遍都表現(xiàn)出了極大的興趣。任何降低EMI的功能（此案例中為SSCG功能）都可以縮短上市時間、降低屏蔽和成本支出。將原來的半雙工板放在掃描儀上，進行基線測量。長沙近場掃描優(yōu)點
近場掃描儀的特點：適用于大型揚聲器：由于揚聲器不移動，因此可以測量大型揚聲器。長沙近場掃描優(yōu)點
電磁場近場掃描裝置結(jié)構簡單，通過探頭實現(xiàn)對待測物品的電磁場近場數(shù)據(jù)的準確采集，通過空間移動平臺和計算機協(xié)調(diào)工作實現(xiàn)對探頭位置的準確控制，通過顯微攝像裝置準確監(jiān)測探頭與待測物品之間的距離，從而能夠準確獲得待測物品的電磁場近場掃描結(jié)果，另外，探頭在掃描待測物品電磁場近場時，采用逐點掃描，實時采集傳輸，即每一次探頭移動，均采集一次數(shù)據(jù)并及時將采集到的數(shù)據(jù)發(fā)送至信號分析裝置，避免掃描過程中，掃描裝置自身對待測物品電磁場近場的影響，以及數(shù)據(jù)采集延時對信號準確度的影響，從而更進一步提高了掃描的精度和掃描結(jié)果的準確度。長沙近場掃描優(yōu)點