常用技術(shù)是觀察特殊寬帶天線頻率范圍，包括所有校正因子在內(nèi)的頻譜圖應(yīng)同時(shí)顯示在頻譜分析儀的顯示屏上，顯示的幅值單位與頻譜分析儀上的單位相一致，通常是dBm。這樣測(cè)試人員可在顯示屏上監(jiān)測(cè)發(fā)射電平，一旦超過限值，就會(huì)被立刻發(fā)現(xiàn)，它在故障檢修中極其有用。這種特性使得人們?cè)谄帘伪粶y(cè)產(chǎn)品的同時(shí)觀察頻譜分析儀的屏幕，并可立刻獲得反饋信息。在快速進(jìn)行濾波、屏蔽和接地操作時(shí)同樣可做以上嘗試。頻譜分析儀很大保持頻譜圖存儲(chǔ)以及雙重追隨特性也可用于觀察操作前后的EMI電平的變化。大多數(shù)公司的實(shí)驗(yàn)室并不具備做一定EMI測(cè)量所需的測(cè)試室條件。廣東研發(fā)級(jí)EMI診斷傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試
種診斷輻射EMI機(jī)理的實(shí)驗(yàn)臺(tái)及簡(jiǎn)易診斷方法,實(shí)驗(yàn)臺(tái)由工作臺(tái),電場(chǎng)探頭和磁場(chǎng)探頭組,頻譜分析儀和計(jì)算機(jī)構(gòu)成;電場(chǎng)探頭和磁場(chǎng)探頭組可以在工作臺(tái)上方三維移動(dòng);電場(chǎng)探頭和磁場(chǎng)探頭組交替連接頻譜分析儀輸入端,頻譜分析儀的輸出端接計(jì)算機(jī).診斷步驟:將被測(cè)電路平面區(qū)域劃分為若干輻射干擾單元;確定輻射電/磁場(chǎng)精測(cè)頻段.輻射干擾單元輻射干擾精測(cè),根據(jù)輻射電/磁場(chǎng)精測(cè)頻段調(diào)整頻譜分析儀的掃描頻段,分別用電/磁場(chǎng)探頭依次測(cè)量各輻射干擾單元的電平值,計(jì)算各輻射干擾單元的輻射電/磁場(chǎng)強(qiáng)度.本發(fā)明實(shí)驗(yàn)臺(tái)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,成本低.本發(fā)明方法能快速簡(jiǎn)便地檢測(cè)出電子系統(tǒng)的輻射EMI噪聲種類,為輻射EMI噪聲壓制方案提供理論依據(jù)。武漢PCB板EMI診斷問題信號(hào)發(fā)生的越頻繁，問題信號(hào)的一定幅度就越可能被準(zhǔn)峰值測(cè)量所屏蔽。
有時(shí)甚至在EMI敏感設(shè)備放置一段時(shí)間后會(huì)突然發(fā)生電磁干擾問題，頻譜分析儀則是標(biāo)出問題緣由的重要診斷工具。天線用于決定發(fā)射源的方向并標(biāo)出很大干擾的區(qū)域。RF電流探頭探測(cè)UPS電源產(chǎn)生的干擾，通過頻譜分析儀與寬帶天線追隨追查某寬帶電磁干擾到一間裝有UPS電源的房間，用RF電流探頭探出干擾源是蓄電池線纜。注意用天線和電流探頭兩者接收的發(fā)射特性相似。EMI勘測(cè)也可用于城市條例或國(guó)家法規(guī)中，例如有些城市都有要求對(duì)可移動(dòng)天線之類的廣播天線進(jìn)行年檢的條例；有時(shí)候，這些測(cè)試必須在偏遠(yuǎn)地區(qū)或山頂進(jìn)行。OSHA職業(yè)安全與健康標(biāo)準(zhǔn)要求對(duì)可能產(chǎn)生高射頻能量的儀器進(jìn)行安檢的條例。頻譜分析儀可測(cè)試場(chǎng)強(qiáng)，并將其轉(zhuǎn)換為指定的能量密度單位，比如毫瓦每平方厘米（mW/cm2）。
干擾正確的診斷：要解決產(chǎn)品上的EMI問題﹐若能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)之初便加以考慮﹐則可以節(jié)省事后再投入許多時(shí)間。由于目前EMIDesign-in的觀念并不是十分普遍﹐而且由于事先的規(guī)劃并不能保證其成品可以完全符合電磁干擾的測(cè)試在﹐所以如何正確的診斷EMI問題﹐對(duì)于設(shè)計(jì)工程師及EMI工程師是非常重要的。頻譜分析儀是進(jìn)行電磁干擾測(cè)試、診斷和故障檢測(cè)中應(yīng)用廣的一種測(cè)試儀器。對(duì)于一個(gè)電磁兼容工程師（EMC）來講，頻譜分析儀除了測(cè)試商用和電磁發(fā)射的重要用途外，還可對(duì)對(duì)以下內(nèi)容進(jìn)行評(píng)估：1、材料的屏蔽效能，2、設(shè)備機(jī)箱的屏蔽效能，3、較大的試驗(yàn)室或測(cè)試室的屏蔽效能，4、電源線濾波器的衰減特性；此外，頻譜分析儀可從事場(chǎng)地勘測(cè)。更好的做法是在產(chǎn)品發(fā)出去做一致性測(cè)試之前就能夠確定和修復(fù)潛在的EMI問題。
EMI測(cè)試場(chǎng)的衰減測(cè)試可以由頻譜分析儀、適當(dāng)?shù)奶炀€和射頻發(fā)射裝置來完成。按照FCC和VDE發(fā)射說明進(jìn)行測(cè)試的裝置必須滿足FCC或VDE中指定的相應(yīng)場(chǎng)地衰減要求。頻譜分析儀能用來測(cè)試材料、設(shè)備屏蔽箱體、甚至較大屏蔽測(cè)試室的屏蔽效能。材料樣品可以通過橫電磁波（TEM）室、頻譜分析儀和追隨信號(hào)發(fā)生器測(cè)試，測(cè)試裝置與濾波器衰減測(cè)試很相似，只是用TEM波室代替了濾波器。材料樣本放在TEM室里測(cè)試其頻率變化的衰減特性或屏蔽效能。另一種用頻譜分析儀測(cè)試材料的方法是將材料樣本蒙在測(cè)試盒的開口上。此時(shí)追隨信號(hào)發(fā)生器與一小發(fā)射天線相連并放在測(cè)試盒的內(nèi)部。接收天線放在測(cè)試盒的外面并與頻譜分析儀相連。用材料樣本覆蓋的測(cè)量值之差就是屏蔽效能值。準(zhǔn)峰值是EMI測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)定義的一種方法，用來檢測(cè)信號(hào)包絡(luò)的加權(quán)峰值。重慶 研發(fā)級(jí)EMI診斷測(cè)試方式
示波器、頻譜分析儀或測(cè)試接收機(jī)可以從不同角度解決EMI問題。廣東研發(fā)級(jí)EMI診斷傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試
EMI診斷在電子設(shè)備設(shè)計(jì)、調(diào)試階段，隨時(shí)進(jìn)行EMI診斷是保證電子設(shè)備通過EMC認(rèn)證行之有效且費(fèi)用低的手段。如果終產(chǎn)品EMC認(rèn)證不合格，設(shè)計(jì)者需要重新進(jìn)行EMI診斷，找出EMI問題的根源，但此時(shí)可用的整改手段已經(jīng)不多，進(jìn)行重新設(shè)計(jì)，費(fèi)用將倍增。由此可見EMI診斷是日常工作中經(jīng)常進(jìn)行的，而EMI預(yù)認(rèn)證以及認(rèn)證測(cè)試只有在電子產(chǎn)品定型階段才進(jìn)行。傳導(dǎo)類EMI可以用示波器追蹤，同時(shí)需要用頻譜儀測(cè)試，需要兩種儀器結(jié)合運(yùn)用。結(jié)合示波器中現(xiàn)有的在EMI排查方面的分析工具，將幫助您快速發(fā)現(xiàn)您設(shè)計(jì)中的潛在問題。廣東研發(fā)級(jí)EMI診斷傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試