武漢可視化EMI診斷傳導發(fā)射測試

來源: 發(fā)布時間:2021-10-19

種診斷輻射EMI機理的實驗臺及簡易診斷方法,實驗臺由工作臺,電場探頭和磁場探頭組,頻譜分析儀和計算機構成;電場探頭和磁場探頭組可以在工作臺上方三維移動;電場探頭和磁場探頭組交替連接頻譜分析儀輸入端,頻譜分析儀的輸出端接計算機.診斷步驟:將被測電路平面區(qū)域劃分為若干輻射干擾單元;確定輻射電/磁場精測頻段.輻射干擾單元輻射干擾精測,根據(jù)輻射電/磁場精測頻段調(diào)整頻譜分析儀的掃描頻段,分別用電/磁場探頭依次測量各輻射干擾單元的電平值,計算各輻射干擾單元的輻射電/磁場強度.本發(fā)明實驗臺結構簡單,成本低.本發(fā)明方法能快速簡便地檢測出電子系統(tǒng)的輻射EMI噪聲種類,為輻射EMI噪聲壓制方案提供理論依據(jù)。示波器是快速了解有害輻射并找出它們來源的有效工具。武漢可視化EMI診斷傳導發(fā)射測試

許多頻譜分析儀重量輕,可以方便地移入測試室內(nèi)以對被測產(chǎn)品進行連續(xù)觀察。測試人員可以用電場或磁場探頭探測被測設備泄漏區(qū)域。通常這些區(qū)域包括像箱體接縫、顯示屏前面板、接口線纜、鍵盤線纜、鍵盤、電源線和箱體開口部位等,探頭也可深入被測設備的箱體內(nèi)進行探測。為了確切指出很大輻射區(qū)域,要求探頭靈敏度不要太高,通常,一段小線頭與一同軸線纜一起放入BNC連接器內(nèi)就可以了。此外,應注意近場探頭探測過程中頻譜分析儀上所顯示的近場測試值可能會較大,但這不一定就是遠場輻射的主要原因。福建GJB151BEMI診斷方法雖然許多測試條件在報告中是明確表示的,但一些需要考慮的重要事情可能并不那么明顯。

EMI診斷可以做到及時發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的EMI問題,分析EMI性質(zhì)及產(chǎn)生原因,給出被測設備電磁兼容特性的定性表述。要解決產(chǎn)品上的EMI問題﹐若能在產(chǎn)品設計之初便加以考慮﹐則可以節(jié)省事后再投入許多時間與金錢。由于目前EMIDesign-in的觀念并不是十分普遍﹐而且由于事先的規(guī)劃并不能保證其成品可以完全符合電磁干擾的測試在﹐所以如何正確的診斷EMI問題﹐對于設計工程師及EMI工程師是非常重要的。事實上﹐我們?nèi)绻袳MI當做一種疾病﹐當然平時的預防保養(yǎng)是很重要的﹐而一旦有疾病則正確的診斷﹐才能得到快速的痊愈﹐沒有正確的診斷﹐找不到病癥的源頭﹐往往事倍功半而拖延費時。

電路板上的組件成為輻射來源,由于所使用的IC或CPU本身在運作時產(chǎn)生很大的輻射﹐使得EMI測試無法通過﹐卵石種情往往在經(jīng)過(1)﹑(2)﹑(3)的分析后噪聲依然存在﹐通常解決的方法不外換一個類似的組件﹐看EMI特性是否會好一些。另外就是電路板重新布線時﹐將其擺放于影響小的位置﹐也就是附近沒有I/OPort及連接線等經(jīng)過﹐當然若情況允許﹐將整個組件用金屬外殼包覆(Shielding)也是一種快速有效的方法。由以上的分析介紹我們可以了解﹐造成電磁干擾輻射關鍵的地方就是電線的問題﹐當有了適當?shù)奶炀€條件存在很容易就產(chǎn)生干擾﹐另外電源線往往亦是造成天線效應的主因﹐這是在許EMI對策中容易疏忽的。待測設備(DUT)可能放在一個轉盤上,以 便于從多個角度收集信號。

設計工程師經(jīng)常發(fā)現(xiàn)新產(chǎn)品設計需要經(jīng)過多次修改才能達到限值。他們既不擁有EMI診斷訣竅,EMI診斷也不是他們?nèi)粘X熑蔚囊徊糠?。通常,只當設計的電路板幾乎完工時才遞交給EMC部門或外部實驗室做進一步測試。然而,相比早期設計階段(這時某些設計考慮或許能夠妥善處理)修改,在這個階段做出改動極具挑戰(zhàn)性。符合EMC標準的結果在設計上是可控的,能夠做出規(guī)劃,同時也是設計師的責任。解決EMI并非使用什么巫術,也無需時域工程師躲避。使用您熟悉的儀器---示波器,您能夠更好地理解EMI問題,以及了解所用解決方案的效果。事實上﹐我們?nèi)绻袳MI當做一種疾病﹐當然平時的預防保養(yǎng)很重要的。北京EMI診斷作用

信號的射頻頻率是多少?是脈沖式的還是連續(xù)的?這些信號特征可以使用基本的頻譜分析儀進行監(jiān)視。武漢可視化EMI診斷傳導發(fā)射測試

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