多端口矩陣測(cè)試USB測(cè)試USB測(cè)試

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2025-03-29

USB4.0 標(biāo)準(zhǔn)定義了非常詳細(xì)、復(fù)雜的發(fā)送端測(cè)試要求,需要對(duì)每 個(gè) Type-C 口、每一條 lane、每一種速率下信號(hào)做 Preset Calibration、 Equalization Calibration; 然 后以次為基礎(chǔ),  測(cè)試所有抖動(dòng) (TJ/UDJ/ DDJ/LPUDJ/DCD)、眼圖、上升時(shí)間 / 下降時(shí)間、  SSC 等指標(biāo); 并 且每一個(gè)測(cè)試都伴隨著測(cè)試碼型的切換。。。如果用手動(dòng)方式,  做 一次完整的測(cè)試,  這幾乎是不可能的任務(wù)。是德科技 D9040USBC 一致性測(cè)試軟件完美地解決了整個(gè)問(wèn)題。如下所示,可以將示波 器作為控制 PC,  USB-IF 的 USB4ETT 軟件安裝在示波器上,  USB4.0 Microcontroller 也連在示波器上。這樣 D9040USBC 軟件就可以利用 USB4ETT command line interface,通過(guò) USB4.0 Microcontroller 在捕獲 / 分析完所需的信號(hào)后,  控制被測(cè)體產(chǎn)生下一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目所需的測(cè) 試碼型。從而形成一個(gè)閉環(huán)的全自動(dòng)化測(cè)試解決方案USB2.0一致性測(cè)試數(shù)據(jù);多端口矩陣測(cè)試USB測(cè)試USB測(cè)試

多端口矩陣測(cè)試USB測(cè)試USB測(cè)試,USB測(cè)試

選擇測(cè)試項(xiàng)目,一般情況,工程師都會(huì)選擇全部測(cè)試項(xiàng),這樣才能完整的按照規(guī)范要求進(jìn)行測(cè)試,當(dāng)然,這也要看測(cè)試目的,如果只是debug,那么可以選擇相對(duì)應(yīng)的選項(xiàng)即可,這樣可以節(jié)約測(cè)試時(shí)間。

配置測(cè)試條件。一般使用默認(rèn)設(shè)置,常用的調(diào)整配置item有:使用的示波器通道,測(cè)試碼型,測(cè)試的UI數(shù),自動(dòng)切換測(cè)試碼型。

連接測(cè)試系統(tǒng),包含示波器、夾具和DUT。測(cè)試軟件會(huì)指示工程師的每一步連接,連接完成后,

將被測(cè)件接入夾具,觀察示波器是否捕捉到參考波形,如參考波形和示波器顯示波形相同,點(diǎn)擊成這兩個(gè)操作后,點(diǎn)擊OK。

這套測(cè)試軟件可以免除費(fèi)時(shí)的手動(dòng)設(shè)定示波器、放置光標(biāo)以及用USB2.0規(guī)格比較測(cè)試結(jié)果的麻煩。如圖所示,能夠自動(dòng)以總結(jié)和詳細(xì)報(bào)告形式顯示量測(cè)結(jié)果。 多端口矩陣測(cè)試USB測(cè)試USB測(cè)試USB2.0一致性測(cè)試環(huán)境;

多端口矩陣測(cè)試USB測(cè)試USB測(cè)試,USB測(cè)試

3.USB4.0回波損耗測(cè)試高速串行信號(hào)傳輸速率越高,信號(hào)的射頻微波化趨勢(shì)就越明顯,20Gb/s的數(shù)字信號(hào)的Nyquist頻率已經(jīng)高達(dá)10GHz。這種情況下,測(cè)試信號(hào)的時(shí)域指標(biāo)已經(jīng)越來(lái)越難以保證信號(hào)的質(zhì)量;因此從Thunderbolt3.0開(kāi)始,發(fā)送端在正常傳輸數(shù)據(jù)時(shí)的回波損耗測(cè)試也變成了一個(gè)必須的測(cè)試項(xiàng)目,USB4.0當(dāng)然也不例外。USB4.0定義了發(fā)送端和接收端差分回波損耗及共?;夭〒p耗四個(gè)測(cè)試項(xiàng)目。

USB4.0 回波損耗測(cè)試的實(shí)際連接和結(jié)果示意圖。它需要 一臺(tái)至少 20GHz 帶寬、帶 TDR 選件的網(wǎng)絡(luò)分析儀,  同時(shí)被測(cè)體通 過(guò) USB4ETT 軟件和 USB4.0 Microcontroller 產(chǎn)生 PRBS31 的測(cè)試碼型。 是德科技提供詳細(xì)的操作步驟和網(wǎng)絡(luò)分析儀設(shè)定文件 (State File) 供大家參考。

USB測(cè)試

這個(gè)測(cè)試對(duì)于激勵(lì)源即誤碼儀的碼型發(fā)生部分的要求很高。首先,其要能產(chǎn)生高質(zhì)量 的高速數(shù)據(jù)流,碼型發(fā)生器固有抖動(dòng)要非常小才不會(huì)影響正常的抖動(dòng)容限測(cè)試;其次,要能 在數(shù)據(jù)流調(diào)制上幅度、頻率精確可控的抖動(dòng)分量。抖動(dòng)分量中除了要有隨機(jī)抖動(dòng)外,還要有 不同頻率和幅度的周期抖動(dòng),圖3.22是對(duì)接收容限測(cè)試中需要添加的各種抖動(dòng)分量以及信 號(hào)幅度、預(yù)加重的要求。測(cè)試要在多種頻率的周期抖動(dòng)條件下進(jìn)行并保證在所有情況下誤 碼率都小于1.0×10- 12

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

地址:深圳市南山區(qū)南頭街道中祥路8號(hào)君翔達(dá)大廈A棟2樓H區(qū) usb2.0信號(hào)質(zhì)量測(cè)試系統(tǒng);

多端口矩陣測(cè)試USB測(cè)試USB測(cè)試,USB測(cè)試

每一代USB新的標(biāo)準(zhǔn)推出,都考慮到了對(duì)前一代的兼容能力,但是一些新的特性可能只能在新的技術(shù)下支持。比如USB3.2的X2模式、USB4.0的20Gbps速率、更強(qiáng)的供電能力及對(duì)多協(xié)議的支持等,都只能在新型的Type-C連接器上實(shí)現(xiàn)。由于USB總線的信號(hào)速率已經(jīng)很高,且鏈路損耗和鏈路組合的情況非常復(fù)雜,所以給設(shè)計(jì)和測(cè)試驗(yàn)證工作帶來(lái)了挑戰(zhàn),對(duì)于測(cè)試儀器的功能和性能要求也與傳統(tǒng)的USB2.0差別很大。下面將詳細(xì)介紹其相關(guān)的電氣性能測(cè)試方法。由于涉及的標(biāo)準(zhǔn)眾多,為了避免混淆,我們將把USB3.0、USB3.1、USB3.2標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)稱為USB3.x,并與USB4.0標(biāo)準(zhǔn)分開(kāi)介紹。什么是usb3.1的標(biāo)準(zhǔn)?多端口矩陣測(cè)試USB測(cè)試USB測(cè)試

USB 3.2 & 2.0 兼容性測(cè)試;多端口矩陣測(cè)試USB測(cè)試USB測(cè)試

自1995年USB1 .0 的規(guī)范發(fā)布以來(lái), USB(Universal Serial Bus)接口標(biāo)準(zhǔn)經(jīng)過(guò)了20多  年的持續(xù)發(fā)展和更新,已經(jīng)成為PC和外設(shè)連接使用的接口。USB歷經(jīng)了多年的發(fā) 展,從代的USB1 .0低速(Low Speed) 、USB1 . 1全速(Full Speed)標(biāo)準(zhǔn),逐漸演進(jìn)到第 2代的USB2 .0高速(High Speed)標(biāo)準(zhǔn)和第3代的USB3 .0超高速(Super Speed)標(biāo)準(zhǔn)。這   些標(biāo)準(zhǔn)目前都已經(jīng)得到的應(yīng)用。

后來(lái),為了應(yīng)對(duì)eSATA 、ThunderBolt等標(biāo)準(zhǔn)對(duì)USB標(biāo)準(zhǔn)的威脅, USB協(xié)會(huì)又分別在  2013年和2017年發(fā)布了USB3. 1及USB3.2的標(biāo)準(zhǔn)。在USB3. 1標(biāo)準(zhǔn)中新定義了10Gbps 速率以及對(duì)Type-C接口的支持;在USB3.2標(biāo)準(zhǔn)中,又基于Type-C接口提供了對(duì)X2模 式的支持,可以通過(guò)收發(fā)方向各捆綁2條10Gbps的鏈路實(shí)現(xiàn)20Gbps的數(shù)據(jù)傳輸。而新 的USB4.0標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)于2019年發(fā)布,可以通過(guò)捆綁2條20Gbps的鏈路實(shí)現(xiàn)40Gbps的接 口速率。表3. 1是USB各代總線的技術(shù)對(duì)比。

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

地    址: 深圳市南山區(qū)南頭街道中祥路8號(hào)君翔達(dá)大廈A棟2樓H區(qū) 多端口矩陣測(cè)試USB測(cè)試USB測(cè)試