機(jī)械PCI-E測試修理

要精確產(chǎn)生PCle要求的壓力眼圖需要調(diào)整很多參數(shù)，比如輸出信號的幅度、預(yù)加重、 差模噪聲、隨機(jī)抖動(dòng)、周期抖動(dòng)等，以滿足眼高、眼寬和抖動(dòng)的要求。而且各個(gè)調(diào)整參數(shù)之間 也會(huì)相互制約，比如調(diào)整信號的幅度時(shí)除了會(huì)影響眼高也會(huì)影響到眼寬，因此各個(gè)參數(shù)的調(diào) 整需要反復(fù)進(jìn)行以得到 一個(gè)比較好化的組合。校準(zhǔn)中會(huì)調(diào)用PCI-SIG的SigTest軟件對信號 進(jìn)行通道模型嵌入和均衡，并計(jì)算的眼高和眼寬。如果沒有達(dá)到要求，會(huì)在誤碼儀中進(jìn) 一步調(diào)整注入的隨機(jī)抖動(dòng)和差模噪聲的大小，直到眼高和眼寬達(dá)到參數(shù)要求。PCI-E4.0的標(biāo)準(zhǔn)什么時(shí)候推出？有什么變化？機(jī)械PCI-E測試修理

在之前的PCIe規(guī)范中，都是假定PCIe芯片需要外部提供一個(gè)參考時(shí)鐘(RefClk),在這 種芯片的測試中也是需要使用一個(gè)低抖動(dòng)的時(shí)鐘源給被測件提供參考時(shí)鐘，并且只需要對 數(shù)據(jù)線進(jìn)行測試。而在PCIe4.0的規(guī)范中，新增了允許芯片使用內(nèi)部提供的RefClk(被稱 為Embeded RefClk)模式，這種情況下被測芯片有自己內(nèi)部生成的參考時(shí)鐘，但參考時(shí)鐘的 質(zhì)量不一定非常好，測試時(shí)需要把參考時(shí)鐘也引出，采用類似于主板測試中的Dual-port測 試方法。如果被測芯片使用內(nèi)嵌參考時(shí)鐘且參考時(shí)鐘也無法引出，則意味著被測件工作在 SRIS(Separate Refclk Independent SSC)模式，需要另外的算法進(jìn)行特殊處理。海南PCI-E測試產(chǎn)品介紹PCI-E X16,PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區(qū)別是什么？

PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)在時(shí)鐘架構(gòu)上除了支持傳統(tǒng)的共參考時(shí)鐘(Common Refclk,CC)模式以 外，還可以允許芯片支持參考時(shí)鐘(Independent Refclk,IR)模式，以提供更多的連接靈 活性。在CC時(shí)鐘模式下，主板會(huì)給插卡提供一個(gè)100MHz的參考時(shí)鐘(Refclk),插卡用這 個(gè)時(shí)鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個(gè)參考時(shí)鐘可以在主機(jī)打開擴(kuò)頻時(shí)鐘 (SSC)時(shí)控制收發(fā)端的時(shí)鐘偏差，同時(shí)由于有一部分?jǐn)?shù)據(jù)線相對于參考時(shí)鐘的抖動(dòng)可以互 相抵消，所以對于參考時(shí)鐘的抖動(dòng)要求可以稍寬松一些

Cle4.0測試的CBB4和CLB4夾具無論是Preset還是信號質(zhì)量的測試，都需要被測件工作在特定速率的某些Preset下，要通過測試夾具控制被測件切換到需要的設(shè)置狀態(tài)。具體方法是：在被測件插入測試夾具并且上電以后，可以通過測試夾具上的切換開關(guān)控制DUT輸出不同速率的一致性測試碼型。在切換測試夾具上的Toggle開關(guān)時(shí)，正常的PCle4.0的被測件依次會(huì)輸出2.5Gbps、5Gbps-3dB、5Gbps-6dB、8GbpsP0、8GbpsP1、8GbpsP2、8GbpsP3、8GbpsP4、8Gbps走pcie通道的M.2接口必定是支持NVME協(xié)議的嗎？

PCIe4.0的測試項(xiàng)目PCIe相關(guān)設(shè)備的測試項(xiàng)目主要參考PCI-SIG發(fā)布的ComplianceTestGuide(一致性測試指南)。在PCIe3.0的測試指南中，規(guī)定需要進(jìn)行的測試項(xiàng)目及其目的如下(參考資料：PCIe3.0ComplianceTestGuide):·ElectricalTesting(電氣特性測試):用于檢查主板以及插卡發(fā)射機(jī)和接收機(jī)的電氣性能?！onfigurationTesting(配置測試):用于檢查PCIe設(shè)備的配置空間。·LinkProtocolTesting(鏈路協(xié)議測試):用于檢查設(shè)備的鏈路層協(xié)議行為。PCIE 系統(tǒng)架構(gòu)及物理層一致性測試；測量PCI-E測試代理品牌

PCI-e硬件科普:PCI-e到底是什么?機(jī)械PCI-E測試修理

PCle5.0接收端CILE均衡器的頻率響應(yīng)PCIe5.0的主板和插卡的測試方法與PCIe4.0也是類似，都需要通過CLB或者CBB的測試夾具把被測信號引出接入示波器進(jìn)行發(fā)送信號質(zhì)量測試，并通過誤碼儀的配合進(jìn)行LinkEQ和接收端容限的測試。但是具體細(xì)節(jié)和要求上又有所區(qū)別，下面將從發(fā)送端和接收端測試方面分別進(jìn)行描述。

PCIe5.0發(fā)送端信號質(zhì)量及LinkEQ測試PCIe5.0的數(shù)據(jù)速率高達(dá)32Gbps,因此信號邊沿更陡。對于PCIe5.0芯片的信號測試，協(xié)會(huì)建議的測試用的示波器帶寬要高達(dá)50GHz。對于主板和插卡來說，由于測試點(diǎn)是在連接器的金手指處，信號經(jīng)過PCB傳輸后邊沿會(huì)變緩一些，所以信號質(zhì)量測試規(guī)定的示波器帶寬為33GHz。但是，在接收端容限測試中，由于需要用示波器對誤碼儀直接輸出的比較快邊沿的信號做幅度和預(yù)加重校準(zhǔn)，所以校準(zhǔn)用的示波器帶寬還是會(huì)用到50GHz。 機(jī)械PCI-E測試修理