透射電子顯微鏡TEM透射電子顯微鏡(TransmissionElectronMicroscope,簡稱TEM),是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關(guān),因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如熒光屏,膠片以及感光耦合組件)上顯示出來的顯微鏡。1背景知識在光學(xué)顯微鏡下無法看清小于,這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或超細(xì)結(jié)構(gòu)。要想看清這些結(jié)構(gòu),就必須選擇波長更短的光源,以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發(fā)明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡,電子束的波長比可見光和紫外光短得多,并且電子束的波長與發(fā)射電子束的電壓平方根成反比,也就是說電壓越高波長越短。目前TEM分辨力可達(dá)。▽電子束與樣品之間的相互作用圖來源:《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[書]透射的電子束包含有電子強(qiáng)度、相位以及周期性的信息,這些信息將被用于成像。2TEM系統(tǒng)組件TEM系統(tǒng)由以下幾部分組成:l電子.:發(fā)射電子。由陰極,柵極和陽極組成。陰極管發(fā)射的電子通過柵極上的小孔形成射線束,經(jīng)陽極電壓加速后射向聚光鏡,起到對電子束加速和加壓的作用。茂鑫實業(yè)的金相顯微鏡,值得選擇。衢州多功能顯微鏡廠家哪家好
它們各成像在分劃板的a和a′點。在目鏡中觀察到的即為具有與被測表面一樣的齒狀亮帶,通過目鏡的分劃板與測微器測出a點至a′點之間的距離n,被測表面的微觀平面度h即為h=(1)式中:v—物鏡放大倍數(shù)。四、9j光切法顯微鏡的結(jié)構(gòu)儀器的結(jié)構(gòu)如圖示2(a)、圖2(b)所示?;?)上裝有立柱(2),顯微鏡的主體通過橫臂(5)和立柱聯(lián)結(jié),轉(zhuǎn)動手輪(3)將橫臂(5)沿立柱(2)上下移動,進(jìn)行顯微鏡粗調(diào)焦,而后用旋手(6)將橫臂緊固在立柱上。顯微鏡的光學(xué)系統(tǒng)壓縮在一個封閉的殼體(18)內(nèi),在殼上裝有可替換的物鏡組(13)(它們插在滑板上用手柄(12)借彈簧力固緊),測微目鏡(11)、照明燈(7)及攝像裝置的插座(10)等。微調(diào)手輪(4)用于顯微鏡的精細(xì)調(diào)焦。儀器的數(shù)碼相機(jī)適配鏡(9)裝在插座(10)處(使用時需將防塵蓋拿去),可與測微目鏡(11)并用。攝像時,裝上數(shù)碼相機(jī)適配鏡(9)及數(shù)碼相機(jī)(8),此時將手輪(21)轉(zhuǎn)向攝像部位即可進(jìn)行攝像(數(shù)碼相機(jī)和適配鏡選購)。在儀器的坐標(biāo)工作臺(16)上,利用手輪(15)可對工件進(jìn)行坐標(biāo)測量與調(diào)整,松開旋手(14)并可作360°轉(zhuǎn)動;對平面形工件,可直接放在工作臺上進(jìn)行測量;對圓柱形工件。石家莊測量顯微鏡茂鑫顯微鏡的光學(xué)儀器設(shè)備研發(fā),放心的銷售,多年的生產(chǎn)經(jīng)驗。
東西南北)完全一致每次手術(shù)者調(diào)整完顯微鏡后,再調(diào)整助手鏡的位置,不要在手術(shù)者調(diào)整顯微鏡時調(diào)整助手鏡每次調(diào)整助手鏡的位置之后都要再次調(diào)整助手鏡的圖像方向保持適當(dāng)?shù)娘@微鏡工作距離(目鏡前端至術(shù)野的距離),盡量在顯微鏡可用工作距離的中間段距離內(nèi)手術(shù)距離太近手術(shù)器械容易觸碰顯微鏡前端,造成污染或妨礙操作距離太遠(yuǎn)則增加手術(shù)疲勞中間段距離手術(shù)顯微鏡的成像比較好檢查錄像系統(tǒng)的圖像曝光是否合適對于采用外置接口連接的攝像裝置,可通過調(diào)整外置接口上的光圈來調(diào)節(jié)曝光在不影響正常曝光的前提下盡量將攝像接口的光圈調(diào)小,以增大圖像景深也可通過調(diào)整攝像頭的曝光速度等調(diào)節(jié)曝光(需要有一定攝影知識,并閱讀攝像頭使用說明書)還可通過調(diào)整顯微鏡的光源亮度來調(diào)節(jié)曝光對于內(nèi)置于鏡身內(nèi)的內(nèi)置式攝像頭,一般只能通過調(diào)整顯微鏡光源亮度來調(diào)整攝像曝光也可通過調(diào)整攝像頭的曝光時間等調(diào)整曝光如果你具備較深厚的攝影攝像知識,將攝像頭完全調(diào)整至手動曝光。
這就是觀察到橫向力和對應(yīng)形貌圖像中峰谷移動的原因。同時,所觀察到的摩擦力變化是由樣品與LFM針尖間內(nèi)在橫向力變化引起的,而不一定是原子尺度粘附-滑移過程造成的。對HOPG在微米尺度上進(jìn)行研究也觀察到摩擦力變化,它們是由于解離過程中結(jié)構(gòu)發(fā)生變化引起的。解離的石墨表面雖然原子級平坦,但也存在線形區(qū)域,該區(qū)域摩擦系數(shù)要高近一個數(shù)量級。TEM結(jié)果顯示這些線形區(qū)域包括有不同取向和無定形碳的石墨面。另一關(guān)于原子尺度表面摩擦力特征研究的重要實例是云母表面。利用LFM系統(tǒng)研究了氮化硅針尖與云母表面間的摩擦行為,考察了摩擦力與應(yīng)力、針尖幾何形狀、云母表面晶格取向和濕度等因素之間的對應(yīng)關(guān)系。云母表面微觀摩擦系數(shù)與掃描方向、掃描速度、樣品面積、針尖半徑、針尖具體結(jié)構(gòu)以及高于70%的濕度變化無關(guān)。然而,針尖大小和結(jié)構(gòu)以及濕度又會影響云母樣品表面摩擦力的.值大小。此外,應(yīng)力較低時,摩擦力與應(yīng)力之間有非線性關(guān)系,這是由于彈性形變引起了接觸面積變化。利用LFM對邊界潤滑效應(yīng)的研究已有報道。LB膜技術(shù)沉積的花生酸鎘單層與硅基底相比,摩擦力.下降了1/10,而且很容易觀察到膜上的缺點。具有雙層膜高度的小島被整片移走。茂鑫為您提供徠卡金相材料分析顯微鏡DM4M的參數(shù)、價格、型號、原理等信息。
1.斥力模式原子力顯微鏡(AFM)微懸臂是原子力顯微鏡(AFM)關(guān)鍵組成部分之一,通常由一個一般100~500μm長和大約500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。微懸臂頂端有一個尖銳針尖,用來檢測樣品-針尖間的相互作用力。對于一般的形貌成像,探針尖連續(xù)(接觸模式)或間斷(輕敲模式)與樣品接觸,并在樣品表面上作光柵模式掃描。通過計算機(jī)控制針尖與樣品位置的相對移動。當(dāng)有電壓作用在壓電掃描器電極時,它會產(chǎn)生微量移動。根據(jù)壓電掃描器的精確移動,就可以進(jìn)行形貌成像和力測量。原子力顯微鏡(AFM)設(shè)計可以有所不同,掃描器即可以使微懸臂下的樣品掃描,也可以使樣品上的微懸臂掃描。原子力顯微鏡(AFM)壓電掃描器通常能在(x,y,z)三個方向上移動,由于掃描設(shè)計尺寸和所選用壓電陶瓷的不同,掃描器比較大掃描范圍x、y軸方向可以在500nm~125μm之間變化,垂直z軸一般為幾微米。好的掃描器能夠在小于1尺度上產(chǎn)生穩(wěn)定移動。通過在樣品表面上掃描原子力顯微鏡(AFM)微懸臂。茂鑫實業(yè)(上海)有限公司作為一家代理德國徠卡清潔度檢測儀DM4M、孔隙率檢測儀、3D掃描儀DVM6、影像測量儀等檢測設(shè)備的公司,茂鑫實業(yè)將在展覽會上展示其新的產(chǎn)品和技術(shù),以滿足客戶的需求。相差顯微鏡、激光掃描共聚焦顯微鏡、偏光顯微鏡、微分干涉差顯微鏡、倒置顯微鏡。襄陽3D超景深顯微鏡
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徠卡顯微鏡操作簡單,高對比度,可以接裝照相、攝影裝置。在連接多達(dá)5個物鏡的基礎(chǔ)上們可以輕松實現(xiàn)多倍數(shù)的觀察操作,便于操作,可以實現(xiàn)快捷高效的研究分析。這是一臺長壽命、高質(zhì)量的顯微鏡,是基礎(chǔ)實驗室和教學(xué)顯微鏡的理想選擇。適用于病理學(xué)、細(xì)胞學(xué)與血液學(xué)研究,它具有電動物鏡轉(zhuǎn)盤、聚光頂鏡、自動光線強(qiáng)度調(diào)節(jié)裝置與可選腳踏開關(guān)。這種直觀的顯微鏡改善了細(xì)胞學(xué)與病理學(xué)研究的操作流程。徠卡顯微鏡性能特點:1、結(jié)構(gòu)簡單,使用可靠:通過白光(4500K)LED照明和徠卡高質(zhì)量光學(xué)設(shè)備更佳匹配。2、大功率LED照明:適用于明場、暗場、微分干涉和偏光的多功能光源。3、光學(xué)部件:具有鮮明對比度和銳化的圖像與高分辨率視場和優(yōu)化圖像視場結(jié)合。4、使用可靠:彩色編碼光圈輔助裝置(CCDA)、內(nèi)置對焦止動裝置、內(nèi)置式斜照明裝置確保使用方便、可靠。5、配置靈活:不但使用功能適用所有樣本,也使得購置更節(jié)省。6、簡化文件記錄過程:攝像頭與軟件結(jié)合,實現(xiàn)數(shù)據(jù)快速準(zhǔn)確地分析、歸檔。衢州多功能顯微鏡廠家哪家好