深圳市芯技科技有限公司2025-06-28
電參數(shù)測(cè)試:VR=0.8×VZ時(shí)IR>10μA(標(biāo)稱(chēng)<1μA),芯技提供老化測(cè)試閾值
外觀檢測(cè):封裝開(kāi)裂/變色,芯技X光檢測(cè)空洞率>5%判失效
熱成像定位:通電后ΔT>20℃(正常<5℃),芯技IR報(bào)告標(biāo)注熱點(diǎn)
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