江門輻射測(cè)量低本底Alpha譜儀適配進(jìn)口探測(cè)器

來源: 發(fā)布時(shí)間:2025-05-18

微分非線性校正與能譜展寬控制微分非線性(DNL≤±1%)的突破得益于動(dòng)態(tài)閾值掃描技術(shù):系統(tǒng)內(nèi)置16位DAC陣列,對(duì)4096道AD通道執(zhí)行碼寬均勻化校準(zhǔn),在23?U能譜測(cè)量中,將4.2MeV(23?U)峰的FWHM從18.3keV壓縮至11.5keV,峰對(duì)稱性指數(shù)(FWTM/FWHM)從2.1改善至1.8?14。針對(duì)α粒子能譜的Landau分布特性,開發(fā)脈沖幅度-道址非線性映射算法,使2?1Am標(biāo)準(zhǔn)源5.485MeV峰積分非線性(INL)≤±0.03%,確保能譜庫自動(dòng)尋峰算法的誤匹配率<0.1‰?。系統(tǒng)支持用戶導(dǎo)入NIST刻度數(shù)據(jù),通過17階多項(xiàng)式擬合實(shí)現(xiàn)跨量程非線性校正,在0.5-8MeV寬能區(qū)內(nèi)能量線性度誤差<±0.015%?。樣品尺寸 最大直徑51mm(2.030 in.)。江門輻射測(cè)量低本底Alpha譜儀適配進(jìn)口探測(cè)器

江門輻射測(cè)量低本底Alpha譜儀適配進(jìn)口探測(cè)器,低本底Alpha譜儀

一、國(guó)產(chǎn)α譜儀的高性價(jià)比與靈活擴(kuò)展能力國(guó)產(chǎn)α譜儀采用模塊化架構(gòu)設(shè)計(jì),支持多通道自由擴(kuò)展(如8通道系統(tǒng)由4組**模塊搭建),每個(gè)通道配備真空計(jì)、電磁閥及偏壓調(diào)節(jié)功能(0~+100V可調(diào)),可實(shí)現(xiàn)單通道**維護(hù)而無需中斷其他樣品檢測(cè)?4。相比進(jìn)口設(shè)備,其價(jià)格降低40%-60%,但性能參數(shù)已實(shí)現(xiàn)國(guó)際對(duì)標(biāo):真空控制精度達(dá)0.15-2.00kPa,脈沖發(fā)生器覆蓋0-10MeV范圍,漏電流監(jiān)測(cè)靈敏度≤0.1nA?。軟件系統(tǒng)集成硬件控制、數(shù)據(jù)采集與實(shí)時(shí)校準(zhǔn)功能,通過網(wǎng)線/USB線連接即可完成多設(shè)備協(xié)同操作,***降低實(shí)驗(yàn)室布線復(fù)雜度?。在核環(huán)保領(lǐng)域,國(guó)產(chǎn)設(shè)備憑借快速響應(yīng)優(yōu)勢(shì),可在48小時(shí)內(nèi)完成定制化改造(如深海耐壓艙或無人機(jī)適配),而進(jìn)口設(shè)備同類服務(wù)周期長(zhǎng)達(dá)3-6個(gè)月?。濟(jì)南PIPS探測(cè)器低本底Alpha譜儀投標(biāo)是否支持多核素同時(shí)檢測(cè)?軟件是否提供自動(dòng)核素識(shí)別功能?

江門輻射測(cè)量低本底Alpha譜儀適配進(jìn)口探測(cè)器,低本底Alpha譜儀

探測(cè)單元基于離子注入硅半導(dǎo)體技術(shù)(PIPS),能量分辨率在真空環(huán)境下可達(dá)6.7%,配合3-10MeV能量范圍及≥25%的探測(cè)效率,可精細(xì)區(qū)分Po-218(6.00MeV)與Po-210(5.30MeV)等相鄰能量峰?。信號(hào)處理單元采用數(shù)字濾波算法,結(jié)合積分非線性≤0.05%、微分非線性≤1%的高精度電路,確保核素識(shí)別誤差低于25keV?。低本底設(shè)計(jì)使本底計(jì)數(shù)≤1/h(>3MeV),結(jié)合內(nèi)置脈沖發(fā)生器的穩(wěn)定性跟蹤功能,***提升痕量核素檢測(cè)能力?。與閃爍瓶法等傳統(tǒng)技術(shù)相比,RLA 200系列在能量分辨率和多核素識(shí)別能力上具有***優(yōu)勢(shì),其模塊化設(shè)計(jì)(2路**小單元,可擴(kuò)展至24路)大幅提升批量檢測(cè)效率?。真空腔室與程控化操作將單樣品測(cè)量時(shí)間縮短至30分鐘以內(nèi),同時(shí)維護(hù)成本低于進(jìn)口設(shè)備,適用于核設(shè)施監(jiān)測(cè)、環(huán)境輻射評(píng)估及考古樣本分析等領(lǐng)域?。

α粒子脈沖整形與噪聲抑制集成1μs可編程數(shù)字濾波器,采用CR-(RC)^4脈沖成形算法,時(shí)間常數(shù)可在50ns-2μs間調(diào)節(jié)。針對(duì)α粒子特有的微秒級(jí)電流脈沖,設(shè)置0.8μs成形時(shí)間時(shí),系統(tǒng)等效噪聲電荷(ENC)降至8e? RMS,使22?Ra衰變鏈中4.6MeV(222Rn)與6.0MeV(21?Po)雙峰的峰谷比從1.2:1優(yōu)化至3.5:1?。數(shù)字濾波模塊支持噪聲譜分析,自動(dòng)識(shí)別50/60Hz工頻干擾與RF噪聲,在核設(shè)施巡檢場(chǎng)景中,即使存在2Vpp級(jí)電磁干擾仍能維持5.48MeV峰位的道址偏移<±0.1%?。死時(shí)間控制采用智能雙緩沖架構(gòu),在10?cps高計(jì)數(shù)率下有效數(shù)據(jù)通過率>99.5%,特別適用于鈾礦石樣品中短壽命α核素的快速測(cè)量?。結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,模塊化設(shè)計(jì),可擴(kuò)展為4路、8路、12路、16路、20路。

江門輻射測(cè)量低本底Alpha譜儀適配進(jìn)口探測(cè)器,低本底Alpha譜儀

PIPS探測(cè)器α譜儀采用模塊化樣品盤系統(tǒng)樣品盤采用插入式設(shè)計(jì),直徑覆蓋13mm至51mm范圍,可適配不同尺寸的PIPS硅探測(cè)器及樣品載體?。該結(jié)構(gòu)通過精密機(jī)械加工實(shí)現(xiàn)快速定位安裝,配合腔體內(nèi)部導(dǎo)軌系統(tǒng),可在不破壞真空環(huán)境的前提下完成樣品更換,***提升測(cè)試效率?。樣品盤表面經(jīng)特殊拋光處理,確保與探測(cè)器平面緊密貼合,減少因接觸不良導(dǎo)致的測(cè)量誤差,同時(shí)支持多任務(wù)隊(duì)列連續(xù)測(cè)試功能?。并可根據(jù)客戶需求進(jìn)行定制,在行業(yè)內(nèi)適用性強(qiáng)。


長(zhǎng)期穩(wěn)定性:24h內(nèi)241Am峰位相對(duì)漂移不大于0.2%。江門輻射測(cè)量低本底Alpha譜儀適配進(jìn)口探測(cè)器

軟件采用任務(wù)管理模式執(zhí)行多通道測(cè)量任務(wù)。江門輻射測(cè)量低本底Alpha譜儀適配進(jìn)口探測(cè)器

低本底α譜儀,PIPS探測(cè)器,多尺寸適配與能譜分析?探測(cè)器提供300/450/600/1200mm2四種有效面積選項(xiàng),其中300mm2型號(hào)在探-源距等于直徑時(shí),對(duì)241Am(5.49MeV)的能量分辨率≤20keV,適用于核素精細(xì)識(shí)別?。大尺寸探測(cè)器(如1200mm2)可提升低活度樣本的信噪比,配合數(shù)字多道分析器(≥4096道)實(shí)現(xiàn)0~10MeV全能量覆蓋?。系統(tǒng)內(nèi)置自動(dòng)增益校準(zhǔn)功能,通過內(nèi)置參考源(如241Am)實(shí)時(shí)校正能量刻度,確保不同探測(cè)器間的數(shù)據(jù)一致性?。江門輻射測(cè)量低本底Alpha譜儀適配進(jìn)口探測(cè)器