可控硅模塊選購注意事項:
(1)注明您需要的產品的型號、結構(螺栓、凹臺、凸臺)、配置散熱器型號。
(2)注明您關注的參數要求。
(3)選擇電流電壓時要留有適當的余量;
可控硅模塊使用注意事項:
(1)線路中須有過壓過流保護措施,串并聯使用時必須有均流措施。
(2)用萬用表簡單判斷器件是否損壞: 門陰極間電阻,應有十幾或幾十Ω,否則門極已短路或開路。陰陽極間電阻,應大于1MΩ,(整流管正向除外),電阻小于1MΩ表明器件極間絕緣性能不良,電阻近零時表明器件已擊穿。發(fā)現有短路或斷路現象時,應立即更換。
(3)嚴禁用兆歐表(即搖表)檢查元件的絕緣情況。
(4)電流為5A以上的可控硅模塊要裝散熱器,并且保證所規(guī)定的冷卻條件。為保證散熱器與可控硅模塊管心接觸良好,它們之間應涂上一薄層有機硅油或硅脂,以幫于良好的散熱。
(5)按規(guī)定對主電路中的可控硅模塊采用過壓及過流保護裝置。
(6)要防止可控硅模塊控制極的正向過載和反向擊穿。
誠信是企業(yè)生存和發(fā)展的根本。黑龍江雙向可控硅模塊品牌單向可控硅的檢測
萬用表選用電阻R×1檔,用紅黑兩表筆分別測任意兩引腳間正反向電阻直至找出讀數為數十歐姆的一對引腳,此時黑筆接的引腳為控制極G,紅筆接的引腳為陰極K,另一空腳為陽極A。此時將黑表筆接已判斷了的陽極A,紅表筆仍接陰極K。此時萬用表指針應不動。用短接線瞬間短接陽極A和控制極G,此時萬用表指針應向右偏轉,阻值讀數為10歐姆左右。如陽極A接黑表筆,陰極K接紅表筆時,萬用表指針發(fā)生偏轉,說明該單向可控硅已擊穿損壞。 貴州小功率可控硅模塊報價淄博正高電氣有限公司始終以適應和促進發(fā)展為宗旨。
可控硅鑒別三個極的方法很簡單,根據P-N結的原理,用萬用表測量一下三個極之間的電阻值就可以判斷出來。
陽極與陰極之間的正向和反向電阻在幾百千歐以上,陽極和控制極之間的正向和反向電阻在幾百千歐以上(它們之間有兩個P-N結,而且方向相反,因此陽極和控制極正反向都不通)。
控制極與陰極之間是一個P-N結,因此它的正向電阻大約在幾歐-幾百歐的范圍,反向電阻比正向電阻要大??墒强刂茦O二極管特性是不太理想的,反向不是完全呈阻斷狀態(tài)的,可以有比較大的電流通過,因此,有時測得控制極反向電阻比較小,并不能說明控制極特性不好。另外,在測量控制極正反向電阻時,萬用表應放在R*10或R*1擋,防止電壓過高控制極反向擊穿。
若測得元件陰陽極正反向已短路,或陽極與控制極短路,或控制極與陰極反向短路,或控制極與陰極斷路,說明元件已損壞。
可控硅模塊散熱條件的好壞直接關系到商品的運用壽數和短時過載才華,溫度越低模塊的輸出電流越大,所以在運用中有必要裝備散熱器和風機,主張選用帶有過熱維護功用的商品,有水冷散熱條件的優(yōu)先挑選水冷散熱。咱們經過嚴肅測算,斷定了不一樣類型的商品所大概裝備的散熱器類型,推薦選用廠家配套的散熱器和風機,用戶自備時按以下準則挑選:
1、軸流風機的風速應大于6m/s ;
2、有必要能確保模塊正常作業(yè)時散熱底板溫度不大于80℃;
3、模塊負載較輕時,可減小散熱器的大小或選用天然冷卻;
4、選用天然辦法冷卻時散熱器周圍的空氣能結束對流并恰當增大散熱器面積;
5、悉數緊固模塊的螺釘有必要擰緊,壓線端子聯接強健,以削減次生熱量的發(fā)生,模塊底板和散熱器之間有必要要涂敷一層導熱硅脂或墊上一片底板大小的導熱墊,以抵達良好散熱作用。 淄博正高電氣有限公司以高品質,高質量的產品,滿足廣大新老用戶的需求。
斷一個可控硅元件是否完好,工程師需要從四個方面進行檢查,首先是判斷該元件的三個PN結應完好,其次是當陰極與陽極間電壓反向連接時能夠阻斷不導通,第三是當控制極開路時,陽極與陰極間的電壓正向連接時也不導通,第四是給控制極加上正向電流,給陰極與陽極加正向電壓時,可控硅應當導通,把控制極電流去掉后仍處于導通狀態(tài)。滿足以上四個條件的可控硅元件,才是符合設計使用要求的。
想要看一個可控硅元件是否符合以上要求,其實非常簡單,只需要用萬用表的歐姆擋測量可控硅的極間電阻,就可對前三個方面的好壞進行判斷。具體的操作方法是:用R×1k或R×10k擋測陰極與陽極之間的正反向電阻(控制極不接電壓),此兩個阻值均應很大。電阻值越大,表明正反向漏電電流愈小。如果測得的阻值很低,或近于無窮大,說明可控硅已經擊穿短路或已經開路,此可控硅不能使用了。 淄博正高電氣有限公司憑借多年的經驗,依托雄厚的科研實力。貴州小功率可控硅模塊報價
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過電壓會對可控硅模塊造成損壞,如果要想保護可控硅不受其損壞,就要了解過電壓的產生原因,從而去避免防止受損,下面正高電氣就來講講過電壓會對可控硅模塊造成怎樣的損壞?以及過電壓產生的原因。
可控硅模塊對過電壓非常敏感,當正向電壓超過udrm值時,可控硅會誤導并導致電路故障;當施加的反向電壓超過urrm值時,可控硅模塊會立即損壞。因此,需要研究過電壓產生的原因和過電壓的方法。
過電壓主要是由于供電電源或系統(tǒng)儲能的急劇變化,使系統(tǒng)轉換太晚,或是系統(tǒng)中原本積聚的電磁能量消散太晚。主要研究發(fā)現,由于外界沖擊引起的過電壓主要有兩種類型,如雷擊和開關開啟和關閉引起的沖擊電壓。雷擊或高壓斷路器動作產生的過電壓是幾微秒到幾毫秒的電壓尖峰,對可控硅模塊非常危險。
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