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電容耦合等離子體刻蝕(CCP)是通過匹配器和隔直電容把射頻電壓加到兩塊平行平板電極上進(jìn)行放電而生成的,兩個(gè)電極和等離子體構(gòu)成一個(gè)等效電容器。這種放電是靠歐姆加熱和鞘層加熱機(jī)制來維持的。由于射頻電壓的引入,將在兩電極附近形成一個(gè)電容性鞘層,而且鞘層的邊界是快速振蕩的。當(dāng)電子運(yùn)動(dòng)到鞘層邊界時(shí),將被這種快速移動(dòng)的鞘層反射而獲得能量。電容耦合等離子體刻蝕常用于刻蝕電介質(zhì)等化學(xué)鍵能較大的材料,刻蝕速率較慢。電感耦合等離子體刻蝕(ICP)的原理,是交流電流通過線圈產(chǎn)生誘導(dǎo)磁場,誘導(dǎo)磁場產(chǎn)生誘導(dǎo)電場,反應(yīng)腔中的電子在誘導(dǎo)電場中加速產(chǎn)生等離子體。通過這種方式產(chǎn)生的離子化率高,但是離子團(tuán)均一性差,常用于刻蝕硅,金屬等化學(xué)鍵能較小的材料。電感耦合等離子體刻蝕設(shè)備可以做到電場在水平和垂直方向上的控制,可以做到真正意義上的De-couple,控制plasma密度以及轟擊能量。深硅刻蝕設(shè)備在光電子領(lǐng)域也有著重要的應(yīng)用,制作光波導(dǎo)、光諧振器、光調(diào)制器等 。河北氮化鎵材料刻蝕加工廠
深硅刻蝕設(shè)備的技術(shù)發(fā)展之一是氣體分布系統(tǒng)的改進(jìn),該系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)氣體在反應(yīng)室內(nèi)的均勻分布和動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié),從而提高刻蝕速率和均勻性,降低荷載效應(yīng)和扇形效應(yīng)。例如,LamResearch公司推出了一種新型的氣體分布系統(tǒng),可以根據(jù)不同的工藝需求,自動(dòng)調(diào)整氣體流量、壓力和方向1。該系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)高效率、高精度和高靈活性的深硅刻蝕。深硅刻蝕設(shè)備的技術(shù)發(fā)展之二是檢測系統(tǒng)的改進(jìn),該系統(tǒng)可以實(shí)時(shí)監(jiān)測樣品表面的反射光強(qiáng)度,從而反推出樣品的刻蝕深度和形狀,從而實(shí)現(xiàn)閉環(huán)控制和自適應(yīng)調(diào)節(jié)。例如,LamResearch公司推出了一種新型的光纖檢測系統(tǒng),可以通過光纖傳輸樣品表面的反射光信號,利用光譜分析技術(shù)計(jì)算出樣品的刻蝕深度1。該系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)高精度、高穩(wěn)定性和高可靠性的深硅刻蝕。中山MEMS材料刻蝕加工廠隨著半導(dǎo)體工業(yè)對集成電路微型化和集成化的需求不斷增加,將在制造高性能、高功能和高可靠性發(fā)揮作用。
干法刻蝕設(shè)備是一種利用等離子體產(chǎn)生的高能離子和自由基,與被刻蝕材料發(fā)生物理碰撞和化學(xué)反應(yīng),從而去除材料并形成所需特征的設(shè)備。干法刻蝕設(shè)備是半導(dǎo)體制造工藝中不可或缺的一種設(shè)備,它可以實(shí)現(xiàn)高縱橫比、高方向性、高精度、高均勻性、高重復(fù)性等性能,以滿足集成電路的不斷微型化和集成化的需求。干法刻蝕設(shè)備的制程主要包括以下幾個(gè)步驟:一是樣品加載,即將待刻蝕的樣品放置在設(shè)備中的電極上,并固定好;二是氣體供應(yīng),即根據(jù)不同的工藝需求,向反應(yīng)室內(nèi)輸送不同種類和比例的氣體,并控制好氣體流量和壓力;三是等離子體激發(fā),即通過不同類型的電源系統(tǒng),向反應(yīng)室內(nèi)施加電場或磁場,從而激發(fā)出等離子體;四是刻蝕過程,即通過控制等離子體的密度、溫度、能量等參數(shù),使等離子體中的活性粒子與樣品表面發(fā)生物理碰撞和化學(xué)反應(yīng),從而去除材料并形成特征;五是終點(diǎn)檢測,即通過不同類型的檢測系統(tǒng),監(jiān)測樣品表面的反射光強(qiáng)度、電容變化、質(zhì)譜信號等指標(biāo),從而確定刻蝕是否達(dá)到預(yù)期的結(jié)果;六是樣品卸載,即將刻蝕完成的樣品從設(shè)備中取出,并進(jìn)行后續(xù)的清洗、檢測和封裝等工藝。
深硅刻蝕通是MEMS器件中重要的一環(huán),其中使用較廣的是Bosch工藝,Bosch工藝的基本原理是在刻蝕腔體內(nèi)循環(huán)通入SF6和C4F8氣體,SF6在工藝中作為刻蝕氣體,C4F8作為保護(hù)氣體,C4F8在腔體內(nèi)被激發(fā)會生成CF2-CF2高分子薄膜沉積在刻蝕區(qū)域,在SF6和RFPower的共同作用下,底部的刻蝕速率高于側(cè)壁,從而對側(cè)壁形成保護(hù),這樣便能實(shí)現(xiàn)高深寬比的硅刻蝕,通常深寬比能達(dá)到40:1。離子束蝕刻 (Ion beam etch) 是一種物理干法蝕刻工藝。由此,氬離子以約1至3keV的離子束輻射到表面上。離子束刻蝕為大功率激光系統(tǒng)提供達(dá)到波長級精度的衍射光學(xué)元件。
深硅刻蝕設(shè)備的工藝參數(shù)是指影響深硅刻蝕反應(yīng)結(jié)果的各種因素,它包括以下幾個(gè)方面:一是氣體參數(shù),即影響深硅刻蝕反應(yīng)氣相化學(xué)反應(yīng)和物理碰撞過程的因素,如氣體種類、氣體流量、氣體壓力等;二是電源參數(shù),即影響深硅刻蝕反應(yīng)等離子體產(chǎn)生和加速過程的因素,如射頻功率、射頻頻率、偏置電壓等;三是時(shí)間參數(shù),即影響深硅刻蝕反應(yīng)持續(xù)時(shí)間和循環(huán)次數(shù)的因素,如總時(shí)間、循環(huán)時(shí)間、循環(huán)次數(shù)等;四是溫度參數(shù),即影響深硅刻蝕反應(yīng)溫度分布和熱應(yīng)力產(chǎn)生的因素,如反應(yīng)室溫度、電極溫度、樣品溫度等;五是幾何參數(shù),即影響深硅刻蝕反應(yīng)空間分布和方向性的因素,如樣品尺寸、樣品位置、樣品傾角等。深硅刻蝕設(shè)備的缺點(diǎn)包含扇形效應(yīng),荷載效應(yīng),表面粗糙度,環(huán)境影響,成本壓力等。北京半導(dǎo)體材料刻蝕價(jià)錢
深硅刻蝕設(shè)備在光電子領(lǐng)域也有著重要的應(yīng)用,主要用于制作光波導(dǎo)、光諧振器、光調(diào)制器等 。河北氮化鎵材料刻蝕加工廠
深硅刻蝕設(shè)備的主要組成部分有以下幾個(gè):反應(yīng)室:反應(yīng)室是深硅刻蝕設(shè)備中進(jìn)行刻蝕反應(yīng)的空間,它由一個(gè)密封的金屬或石英容器和一個(gè)加熱系統(tǒng)組成。反應(yīng)室內(nèi)部有一個(gè)放置硅片的載臺,載臺上有一個(gè)電極,可以通過射頻電源產(chǎn)生偏置電壓,加速等離子體中的離子對硅片進(jìn)行刻蝕。反應(yīng)室外部有一個(gè)感應(yīng)線圈,可以通過射頻電源產(chǎn)生高密度等離子體,提供刻蝕所需的活性物種。反應(yīng)室內(nèi)部還有一個(gè)氣路系統(tǒng),可以向反應(yīng)室內(nèi)送入不同的氣體,如SF6、C4F8、O2、N2等,控制刻蝕反應(yīng)的化學(xué)性質(zhì)。河北氮化鎵材料刻蝕加工廠