X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer)。本儀器分析的對(duì)象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團(tuán)均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會(huì)發(fā)生衍射，由對(duì)衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規(guī)律，也即解出晶體的結(jié)構(gòu)。物質(zhì)或由其構(gòu)成的材料的性能是與晶體的結(jié)構(gòu)密切相關(guān)的，如金剛石和石墨都是由純的碳構(gòu)成的，由于它們的晶體結(jié)構(gòu)不同就有著截然不同的性質(zhì)。粉末衍射儀要求樣品試片具有一個(gè)十分平整的平面，而且對(duì)平面中的晶粒的取向常常要求是完全無(wú)序的，不存在擇優(yōu)取向（在粘土分析中有時(shí)又要求制作定向的試片）。上海澤權(quán)的衍射儀質(zhì)量可靠嗎？歡迎來(lái)電咨詢上海澤權(quán)！奧林巴斯XRD價(jià)格哪家便宜
多晶材料中晶粒取向沿一定方位偏聚的現(xiàn)象稱為織構(gòu),常見(jiàn)的織構(gòu)有絲織構(gòu)和板織構(gòu)兩種類(lèi)型。為反映織構(gòu)的概貌和確定織構(gòu)指數(shù),有三種方法描述織構(gòu):極圖、反極圖和三維取向函數(shù),這三種方法適用于不同的情況。對(duì)于絲織構(gòu),要知道其極圖形式,只要求出其絲軸指數(shù)即可,照相法和衍射儀法是可用的方法。板織構(gòu)的極點(diǎn)分布比較復(fù)雜,需要兩個(gè)指數(shù)來(lái)表示,且多用衍射儀進(jìn)行測(cè)定。X射線衍射技術(shù)在材料分析領(lǐng)域有著十分多方面的應(yīng)用,在無(wú)機(jī)材料、有機(jī)材料、鋼鐵冶金、納米材料等研究領(lǐng)域中發(fā)揮越來(lái)越重要的作用。X射線衍射技術(shù)已經(jīng)成為人們研究材料尤其是晶體材料很方便、很重要的手段。隨著技術(shù)手段的不斷創(chuàng)新和設(shè)備的不斷完善升級(jí),X射線衍射技術(shù)在材料分析領(lǐng)域必將擁有更廣闊的應(yīng)用前景。無(wú)錫衍射儀代理哪家專(zhuān)業(yè)X射線衍射儀是利用X射線衍射法對(duì)物質(zhì)進(jìn)行非破壞性分析的儀器。
X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，精確的進(jìn)行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應(yīng)用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教學(xué)、材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。研究和發(fā)展先進(jìn)材料，這項(xiàng)工作涉及研究各種物質(zhì)的特性和使用，如金屬，陶瓷和塑料，應(yīng)用范圍從空間科學(xué)和**科技到消費(fèi)類(lèi)產(chǎn)品。X射線衍射（XRD）是研究先進(jìn)材料的主要技術(shù)，包括下列功能：相的識(shí)別和定量，相的結(jié)晶度判定，晶體結(jié)構(gòu)，晶體取向和織構(gòu)，極圖等。這些功能的非環(huán)境條件影響也同XRD技術(shù)一起經(jīng)常研究。搜索可針對(duì)各種樣品類(lèi)型，從粉末到各種形狀和尺寸的固體材料，液體和半導(dǎo)體晶片。專(zhuān)業(yè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)為材料科學(xué)應(yīng)用提供一系列解決方案。
X射線衍射儀的形式多種多樣,用途各異,但其基本構(gòu)成很相似,主要部件包括4部分。 （1）高穩(wěn)定度X射線源提供測(cè)量所需的X射線, 改變X射線管陽(yáng)極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng), 調(diào)節(jié)陽(yáng)極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。 （2）樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng) 樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。 （3）射線檢測(cè)器 檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向,通過(guò)儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。 （4）衍射圖的處理分析系統(tǒng) 現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有特用衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng), 它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。x射線粉末衍射可以判斷物質(zhì)是否為晶體。
使用粉末多晶衍射儀測(cè)量單晶體樣品時(shí)得到的X射線衍射譜，相對(duì)于與所測(cè)單晶體同種類(lèi)的多晶樣品的X射線衍射譜來(lái)說(shuō)，它的譜圖特征可能是：衍射峰數(shù)量可能會(huì)變少，峰強(qiáng)度會(huì)有變化:有的會(huì)變強(qiáng)、有的會(huì)變?nèi)酰蝗绻麥y(cè)試時(shí)單晶樣品不旋轉(zhuǎn)，有些峰可能就根本不出現(xiàn)，因?yàn)槠湔丈浣桥缮?θ滿足不了布拉格公式而發(fā)生衍射；其峰強(qiáng)弱依賴于單晶樣品在譜儀樣品架上的作固定安裝的立體角參數(shù)。 若將一束單色X射線照射到一粒靜止的單晶體上，入射線與晶粒內(nèi)的各晶面族都有一定的交角θ，其中只有很少數(shù)的晶面能符合布拉格公式而發(fā)生衍射。要使各晶面族都發(fā)生衍射，常用的方法就是轉(zhuǎn)動(dòng)晶體。轉(zhuǎn)動(dòng)中各晶面族時(shí)刻改變著與入射線的交角，會(huì)在某個(gè)時(shí)候符合布拉格方程而產(chǎn)生衍射。目前常用的收集單晶體衍射數(shù)據(jù)的方法是：一為回?cái)[法，二為四圓衍射儀法。X射線單晶體衍儀器分析的對(duì)象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀廠家哪家好
上海澤權(quán)衍射儀質(zhì)量保證。歡迎來(lái)電咨詢上海澤權(quán)！奧林巴斯XRD價(jià)格哪家便宜
當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。新材料開(kāi)發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開(kāi)發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。產(chǎn)品在使用過(guò)程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力。納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法可以測(cè)定納米粒子的平均粒徑。奧林巴斯XRD價(jià)格哪家便宜