舟山衍射儀價(jià)格哪家便宜

X射線衍射儀的形式多種多樣,用途各異,但其基本構(gòu)成很相似,主要部件包括4部分。 （1）高穩(wěn)定度X射線源提供測(cè)量所需的X射線, 改變X射線管陽(yáng)極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng), 調(diào)節(jié)陽(yáng)極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。 （2）樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)　樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。 （3）射線檢測(cè)器　檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向,通過(guò)儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。 （4）衍射圖的處理分析系統(tǒng)　現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有特用衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng), 它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。特征X射線用于進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)研究的旋轉(zhuǎn)單體法和進(jìn)行物相鑒定的粉末法。舟山衍射儀價(jià)格哪家便宜

X射線衍射法，對(duì)樣品測(cè)試收費(fèi)要遠(yuǎn)高于紅外光譜的。如果你是單純想測(cè)量薄膜的精確厚度，可以用紅外光譜法（IR),精確度可達(dá)cm^(-1)量級(jí)。在紅外光譜范圍內(nèi)，1000cm^(-1)=10μm,1cm^(-1)=0.01μm. 由于入射到膜的內(nèi)外層表面的反射光達(dá)到一定相位差時(shí)會(huì)引起干涉，通過(guò)薄膜兩個(gè)表面對(duì)紅外線的透射-反射-反射光與一次透射光形成的干涉條紋。干涉條紋有三四十個(gè)波峰-波谷之多，分布在一定的波長(zhǎng)范圍內(nèi)；根據(jù)測(cè)定結(jié)果，利用公式計(jì)算出薄膜的厚度。該方法操作簡(jiǎn)便,測(cè)定速度快,應(yīng)用于實(shí)際樣品的無(wú)損測(cè)定,結(jié)果滿意。 上海奧林巴斯XRD售價(jià)X射線衍射方法具有不損傷樣品、無(wú)污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。

分析電子衍射與x射線衍射有何異同？ 多晶金屬材料經(jīng)機(jī)械加工、熱處理等工藝，往往使晶粒的某些晶向或晶面與材料加工方向趨于一致。這種晶體取向稱為擇優(yōu)取向或織構(gòu)，它引起X射線衍射花樣發(fā)生 變化，使得連續(xù)均勻的衍射環(huán)成不連續(xù)、強(qiáng)度加強(qiáng)的斑點(diǎn)或弧段，而另一些晶面的衍射線強(qiáng)度變小甚至消失。測(cè)定織構(gòu)的方法有多種中，但X射線方法具有準(zhǔn)確、全 面等特點(diǎn)，所以成為研究織構(gòu)主要的方法。 在X射線衍射法中，一般用“極圖”來(lái)表達(dá)織構(gòu)。

衍射儀是為材料研究和工業(yè)產(chǎn)品分析設(shè)計(jì)的，是常規(guī)分析與特殊目的測(cè)量相結(jié)合的完善產(chǎn)品。 硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的有效結(jié)合，滿足不同應(yīng)用領(lǐng)域?qū)W者、科研者的需要 高精度的衍射角度測(cè)量系統(tǒng)，獲取更準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果 高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器控制系統(tǒng)，得到更穩(wěn)定的重復(fù)測(cè)量精度 各種功能附件滿足不同測(cè)試目的需要 程序化操作、一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，操作簡(jiǎn)便、儀器外型更美觀 X射線衍射儀是揭示材料晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)信息的一種通用性測(cè)試儀器： 未知樣品中一種和多種物相鑒定 混合樣品中已知相定量分析 晶體結(jié)構(gòu)解析（Rietveld結(jié)構(gòu)分析） 非常規(guī)條件下晶體結(jié)構(gòu)變化（高溫、低溫條件下） 薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度 微區(qū)樣品的分析 金屬材料織構(gòu)、應(yīng)力分析。X射線發(fā)生器由X射線管、高壓發(fā)生器、管壓和管流穩(wěn)定電路以及保護(hù)電路等組成。

便攜式XRD衍射儀是一種用于能源科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域的科學(xué)儀器X射線發(fā)生器，射線管功率：10W，X射線輻射劑量：儀器表面2cm處輻射能級(jí)0.5mRad/H；樣品振動(dòng)系統(tǒng)，測(cè)量角度范圍：5°—55°，微量樣品室：小可檢測(cè)樣品量15mg，掃描方式：全譜掃描；探測(cè)器，探測(cè)效率：98%，XRD 分辨率 0.25°(2θFWHM)，XRF 分辨率230eV；冷卻系統(tǒng)：制冷方式：2D Peltier 電子制冷，儀器制冷效率：儀器正常工作持續(xù)8時(shí)機(jī)箱溫度不超過(guò)35℃；數(shù)據(jù)庫(kù)：PDF2由國(guó)際衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)中心提供，至少包含3000多種礦物30000多個(gè)礦物數(shù)據(jù)。 X射線衍射儀是集光學(xué)、電學(xué)、機(jī)械傳動(dòng)、水冷卻循環(huán)及計(jì)算機(jī)控制為一體的高精度復(fù)雜設(shè)備。安徽奧林巴斯BTX小型臺(tái)式XRD價(jià)錢(qián)多少

x射線粉末衍射可以判斷物質(zhì)是否為晶體。舟山衍射儀價(jià)格哪家便宜

分析電子衍射與x射線衍射有何異同： 相同點(diǎn)是兩者都是可以把晶體看做一個(gè)三維的光柵，對(duì)不同位置的原子散射的波進(jìn)行疊加求和，反映的晶格的對(duì)稱性信息；不同點(diǎn)是電子衍射是電子受到在空間上周期性變化勢(shì)場(chǎng)的散射，電子與樣品的相互作用往往比x射線衍射與樣品作用要強(qiáng)烈一些，往往不止發(fā)生一次散射，即要考慮動(dòng)力學(xué)效應(yīng)（多次散射），x射線是與核外電子發(fā)生作用，與核外的電子分布情況相關(guān)。實(shí)用角度的答案，在確定晶體對(duì)稱性上，通常是用x射線來(lái)定的，因?yàn)閯?dòng)力學(xué)效應(yīng)很弱，不會(huì)出現(xiàn)本來(lái)消光的斑點(diǎn)位置因?yàn)槎啻紊⑸涞脑蛴殖霈F(xiàn)亮斑的情況，因此便于分析，另外很重要的一個(gè)原因是x射線的制樣更加容易。舟山衍射儀價(jià)格哪家便宜

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