時(shí)候又需要一個(gè)輔助的角度來進(jìn)行。元器件圖2對一個(gè)穩(wěn)定的工藝過程來說,一個(gè)重要的因素是元器 件,這不僅與PCB上直接的器件布局有關(guān),而且或多或少 也與“工藝流程設(shè)計(jì)”有關(guān)。元器件的采購趨勢是盡 可能地便宜,而不管它在顏色、尺寸等參數(shù)上的不同。不 幸的是,這些選擇在日后對AOI或AXI檢查過程中造成的影 響往往被忽略了。始終采用同樣的材料和產(chǎn)品能夠***地 減少檢查時(shí)間和誤報(bào),而這些問題主要是通過元器件以及 PCB的突然變化而出現(xiàn)的。元器件尺寸PCB的整體布局 對于普通的AXI測試PCB布局,。松江區(qū)生態(tài)AOI檢測詢問報(bào)價(jià)
這 些影響是可以通過PCB的設(shè)計(jì)來預(yù)防甚至減少的。為了推 動這種優(yōu)化設(shè)計(jì),可以運(yùn)用一些看上去很古老的附加手段(這些方法仍在很多領(lǐng)域被推崇),它的優(yōu)點(diǎn)包括:減少編程時(shí)間比較大限度地減少誤報(bào)? 改善失效檢查。制定設(shè)計(jì)方針,可以有效地簡化檢查和***地降低生 產(chǎn)成本。Viscom AG 和 KIRRON GmbH &Co KG 合作開發(fā) 出一項(xiàng)特殊測試方案,目的是為了從根本上研究和證明這 些設(shè)計(jì)在檢查中產(chǎn)生的效果?;贗PC-7350標(biāo)準(zhǔn)的PCB布 局被推薦為針對這些測試的基準(zhǔn)。首先,為了探究每一種 布局的檢查效果,建議在大量PCB布局上采用這種基準(zhǔn); 之后,再有意地利用PCB錯誤布局,使得它產(chǎn)生一些工藝 中的缺陷,如立碑和引腳懸空等。布局建議楊浦區(qū)制造AOI檢測哪家好先通過 檢查整板或已完成組裝的單板上的單個(gè)壞板標(biāo)識來進(jìn)行確 認(rèn)。
貼片后回流焊前:移位,漏料、極性、歪斜、腳彎、錯件回流焊或波峰焊后:少錫/多錫、無錫短接 錫球 漏料-極性-移位腳彎錯件PCB行業(yè)裸板檢測(2)快速便捷的編程系統(tǒng)圖形界面下進(jìn)行運(yùn)用帖裝數(shù)據(jù)自動進(jìn)行數(shù)據(jù)檢測運(yùn)用元件數(shù)據(jù)庫進(jìn)行檢測數(shù)據(jù)的快速編輯(3)運(yùn)用豐富的**多功能檢測算法和二元或灰度水平光學(xué)成像處理技術(shù)進(jìn)行檢測(4)根據(jù)被檢測元件位置的瞬間變化進(jìn)行檢測窗口的自動化校正,達(dá)到高精度檢測(5)通過用墨水直接標(biāo)記于PCB板上或在操作顯示器上用圖形錯誤表示來進(jìn)行檢測電的核對
在AOI中存在的主要問題是,當(dāng)一些檢查對象是 不可見的,或是在PCB上存在一些干擾使得圖像變得模糊 或隱藏起來了。然而,實(shí)際經(jīng)驗(yàn)和系統(tǒng)化測試都表明,這 些影響是可以通過PCB的設(shè)計(jì)來預(yù)防甚至減少的。為了推 動這種優(yōu)化設(shè)計(jì),可以運(yùn)用一些看上去很古老的附加手段(這些方法仍在很多領(lǐng)域被推崇),它的優(yōu)點(diǎn)包括:減少編程時(shí)間比較大限度地減少誤報(bào)? 改善失效檢查。制定設(shè)計(jì)方針,可以有效地簡化檢查和***地降低生 產(chǎn)成本。Viscom AG 和 KIRRON GmbH &Co KG 合作開發(fā) 出一項(xiàng)特殊測試方案,目的是為了從根本上研究和證明這 些設(shè)計(jì)在檢查中產(chǎn)生的效果?;贗PC-7350標(biāo)準(zhǔn)的PCB布 局被推薦為針對這些測試的基準(zhǔn)。首先,為了探究每一種 布局的檢查效果,建議在大量PCB布局上采用這種基準(zhǔn); 之后,再有意地利用PCB錯誤布局,使得它產(chǎn)生一些工藝 中的缺陷,如立碑和引腳懸空等。布局建議假如遵循這個(gè)設(shè)計(jì)原則,可以通過垂直檢測來檢查出缺陷。
刷錫后貼片前:橋接-移位-無錫-錫不足貼片后回流焊前:移位,漏料、極性、歪斜、腳彎、錯件回流焊或波峰焊后:少錫/多錫、無錫短接 錫球 漏料-極性-移位腳彎錯件PCB行業(yè)裸板檢測上各種不同貼裝錯誤及焊接缺陷。PCB板的范圍可從細(xì)間距高密度板到低密度大尺寸板,并可提供在線檢測方案,以提高生產(chǎn)效率,及焊接質(zhì)量。通過使用AOI作為減少缺陷的工具,在裝配工藝過程的早期查找和消除錯誤,以實(shí)現(xiàn)良好的過程控制。早期發(fā)現(xiàn)缺陷將避免將壞板送到隨后的裝配階段,AOI將減少修理成本將避免報(bào)廢不可修理的電路板。中文名自動光學(xué)檢測片式元件、MELF器件和C-leads 器件。蘇州生產(chǎn)AOI檢測包括哪些
必須從其他角度來檢查,而只有通過這樣的輔助檢查。松江區(qū)生態(tài)AOI檢測詢問報(bào)價(jià)
焊盤之間的焊錫橋。在ICT上,相對這些情況的缺陷概率直接與情況的嚴(yán)重性成比例。輕微的少錫很少導(dǎo)致缺陷,而嚴(yán)重的情況,如根本無錫,幾乎總是在ICT造成缺陷。焊錫不足可能是元件丟失或焊點(diǎn)開路的一個(gè)原因。盡管如此,決定哪里放置AOI需要認(rèn)識到元件丟失可能是其它原因下發(fā)生的,這些原因必須放在檢查計(jì)劃內(nèi)。這個(gè)位置的檢查**直接地支持過程跟蹤和特征化。這個(gè)階段的定量過程控制數(shù)據(jù)包括,印刷偏移和焊錫量信息,而有關(guān)印刷焊錫的定性信息也會產(chǎn)生?;亓骱盖八山瓍^(qū)生態(tài)AOI檢測詢問報(bào)價(jià)
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