(2)InSb探測(cè)器(PC&PV)InSb屬于Ⅲ-Ⅴ族化合物半導(dǎo)體材料,它是**早應(yīng)用于IR探測(cè)技術(shù)的材料之一,其生長(zhǎng)技術(shù)已發(fā)展得非常成熟?在液氮溫度下,InSb帶隙所對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)稍稍大于5μm,此時(shí)InSb探測(cè)器的響應(yīng)范圍完美覆蓋MIR波段,且探測(cè)率能在整個(gè)MIR波段維持很高的水平,因此InSb探測(cè)器在MIR波段探測(cè)方面有著舉足輕重的地位?下圖是InSb半導(dǎo)體材料及完成后的芯片。隨著紅外熱像儀工作溫度的上升,InSb探測(cè)器的量子效率可維持不變,直至160K才開始逐漸衰減?InSb FPA探測(cè)器被廣泛應(yīng)用到了***與天文領(lǐng)域,美國(guó)RVS(Raytheon Vision Systems)是這類探測(cè)器比較大且**出色的制造商?直到紅外熱像儀可以接入智能手機(jī),并通過APP與互聯(lián)網(wǎng)相連,才刷新了人們對(duì)這個(gè)專業(yè)儀器的純工具印象。新型紅外熱像儀廠家批發(fā)價(jià)
對(duì)于該類探測(cè)器,基底由Si變?yōu)镚e時(shí),其探測(cè)波段可從IR延伸到THz,在這里姑且將Si基與Ge基兩類放在一起加以闡述?傳統(tǒng)的非本征探測(cè)器是基于被摻雜的Ge或Si作為吸收材料制作而成的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的PC探測(cè)器,主要有Ge:X[X=Hg?Ga?鈹(Be)?鋅(Zn)]?Si:Y[Y=Ga?砷(As)?銦(In)]等類型?這類探測(cè)器的響應(yīng)范圍取決于雜質(zhì)元素在基底里的離化能量,一般可覆蓋LWIR?VLWIR乃至THz波段,但需要在低溫(<10K)下工作?由于響應(yīng)波段很寬,非本征探測(cè)器被應(yīng)用到了航天領(lǐng)域,然而困境也隨之出現(xiàn):在太空中核輻射對(duì)探測(cè)器響應(yīng)的影響較大,需要減薄探測(cè)器吸收層來降低影響,但這樣也會(huì)使量子效率降低電力測(cè)溫**紅外熱像儀性價(jià)比紅外熱像儀的圖像是否可以進(jìn)行后期處理?
紅外熱像儀的工作原理是基于物體發(fā)出的紅外輻射和熱量分布。它利用紅外傳感器和光學(xué)系統(tǒng)來捕捉和轉(zhuǎn)換紅外輻射成為可見圖像。具體來說,紅外熱像儀包括以下幾個(gè)關(guān)鍵組件:紅外傳感器:紅外傳感器是紅外熱像儀的主要部件,它能夠感知物體發(fā)出的紅外輻射。紅外輻射是物體由于熱量而發(fā)出的電磁波,其波長(zhǎng)范圍通常在0.7至1000微米之間。光學(xué)系統(tǒng):紅外熱像儀的光學(xué)系統(tǒng)包括透鏡、反射鏡和光學(xué)濾波器等。透鏡用于聚焦紅外輻射,反射鏡用于將紅外輻射反射到紅外傳感器上,光學(xué)濾波器則用于選擇特定波長(zhǎng)范圍的紅外輻射。紅外圖像處理器:紅外圖像處理器負(fù)責(zé)接收紅外傳感器捕捉到的紅外輻射信號(hào),并將其轉(zhuǎn)換為可見圖像。它會(huì)對(duì)紅外輻射信號(hào)進(jìn)行放大、濾波、調(diào)整和處理,以生成高質(zhì)量的熱圖像。顯示器:紅外熱像儀通常配備顯示器,用于顯示紅外圖像。顯示器可以是內(nèi)置于熱像儀本身的屏幕,也可以是通過連接到其他設(shè)備上的外部顯示器。
鉛鹽探測(cè)器一般指基于PbS和PbSe等IV-VI族半導(dǎo)體材料制作的PC探測(cè)器,它們中的PbS探測(cè)器早在二戰(zhàn)期間就已經(jīng)投入到***的實(shí)際應(yīng)用之中?直至現(xiàn)在,紅外熱像儀因其低廉的生產(chǎn)成本與室溫下優(yōu)良的靈敏度等優(yōu)勢(shì),這類探測(cè)器仍占據(jù)著一定比例的商用市場(chǎng),許多**制造商對(duì)此均有涉足,如美國(guó)CalSensors?NewEngland Photodetectors?Thorlabs?TJT,西班牙New Infrared Technologies以及日本濱松(Hamamatsu)等?然而,由于銀鹽材料的介電常數(shù)很高,這類探測(cè)器的響應(yīng)速度比一般的光子探測(cè)器都要慢,這一劣勢(shì)很大程度上限制了相應(yīng)的大規(guī)模FPA探測(cè)器的發(fā)展,截至2014年,鉛鹽FPA探測(cè)器像元達(dá)到了320x256中等規(guī)模?紅外熱像儀已廣泛應(yīng)用于包括電力、科研、制造等領(lǐng)域內(nèi)的各行各業(yè)。
測(cè)量表面溫度一般采用非接觸紅外高溫計(jì),必須注意在測(cè)量時(shí)需要調(diào)整紅外熱像儀所使用的發(fā)射率ε,發(fā)射率是材料及其表面狀況的特性,采用不正確的發(fā)射率會(huì)產(chǎn)生明顯的測(cè)量誤差。有兩種方法可以在靜態(tài)表面上校準(zhǔn)發(fā)射率,***個(gè)方法是使用接觸式高溫計(jì)測(cè)量溫度,然后將紅外高溫計(jì)指向同一點(diǎn)并調(diào)整發(fā)射率,直到溫度讀數(shù)與接觸式溫度計(jì)的讀數(shù)相同;第二個(gè)方法是在被測(cè)表面粘上黑膠布,或者涂上黑漆,然后用測(cè)得的溫度校準(zhǔn)紅外高溫計(jì)。常用特定溫度下水泥窯系統(tǒng)表面發(fā)射率見表1。紅外熱像儀還有哪些應(yīng)用?便攜式紅外熱像儀代理品牌
近日,順德公安交警啟用了紅外熱像儀,讓過往客車途經(jīng)檢疫站的同時(shí),乘客更快地完成體溫檢測(cè)。新型紅外熱像儀廠家批發(fā)價(jià)
二、熱探測(cè)器的分類熱探測(cè)器一般分為測(cè)輻射熱計(jì)、熱電堆和熱釋電探測(cè)器三種類型。(1)測(cè)輻射熱計(jì)這種探測(cè)器是由具有非常小熱容量和大電阻溫度系數(shù)的材料制成的,吸收IR后探測(cè)器的電阻會(huì)發(fā)生明顯的變化,因此它們也被稱為熱敏電阻。常見的IR熱輻射熱計(jì)有以下幾種類型:金屬測(cè)輻射熱計(jì)、半導(dǎo)體測(cè)輻射熱計(jì)和微型室溫硅測(cè)輻射熱計(jì)(簡(jiǎn)稱微測(cè)輻射熱計(jì)),此外還有用于THz探測(cè)的測(cè)輻射熱計(jì)。這些類型中,以微測(cè)輻射熱計(jì)的技術(shù)**成熟、應(yīng)用*****,它們?cè)诿裼檬袌?chǎng)深受消費(fèi)者的推崇,甚至在***市場(chǎng)也有一定的應(yīng)用空間。氧化釩(Vox)與非晶Si是制作微測(cè)輻射熱計(jì)**常用的材料。新型紅外熱像儀廠家批發(fā)價(jià)