新能源電子設(shè)備的安全性與金屬部件的可靠性緊密相連,上海擎奧的金相分析服務(wù)為新能源領(lǐng)域提供關(guān)鍵保障。針對(duì)動(dòng)力電池極耳、連接器等重心部件,技術(shù)人員通過(guò)金相切片觀察其焊接界面的微觀結(jié)構(gòu),評(píng)估熔合線形態(tài)、氣孔分布等關(guān)鍵指標(biāo),精細(xì)識(shí)別虛焊、未熔合等潛在風(fēng)險(xiǎn)。依托團(tuán)隊(duì)在材料分析與可靠性測(cè)試領(lǐng)域的復(fù)合能力,可結(jié)合新能源設(shè)備的充放電循環(huán)工況,分析金相組織變化與部件失效的關(guān)聯(lián),為客戶(hù)改進(jìn)電極結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、提升電池安全性能提供專(zhuān)業(yè)技術(shù)支持。擎奧的金相分析服務(wù)滿足客戶(hù)多樣化檢測(cè)需求。江蘇工業(yè)金相分析方案設(shè)計(jì)
上海擎奧的金相分析實(shí)驗(yàn)室配備了從樣品制備到圖像分析的全流程先進(jìn)設(shè)備,為檢測(cè)質(zhì)量提供堅(jiān)實(shí)保障。實(shí)驗(yàn)室擁有全自動(dòng)金相研磨拋光機(jī),可實(shí)現(xiàn)從粗磨到精拋的無(wú)人化操作,確保樣品表面粗糙度≤0.02μm;蔡司 Axio Scope A1 金相顯微鏡配備 500 萬(wàn)像素相機(jī),能捕捉細(xì)微的組織特征;Image-Pro Plus 圖像分析軟件可自動(dòng)測(cè)量晶粒尺寸、孔隙率等參數(shù),誤差控制在 3% 以?xún)?nèi)。30 余名專(zhuān)業(yè)技術(shù)人員中,有 5 人具備 10 年以上金相分析經(jīng)驗(yàn),能處理各類(lèi)復(fù)雜材料的檢測(cè)需求,為客戶(hù)提供兼具精度與深度的技術(shù)服務(wù)。浦東新區(qū)智能金相分析答疑解惑照明電子材料的金相分析為產(chǎn)品改進(jìn)提供數(shù)據(jù)。
汽車(chē)電子部件的金屬連接件可靠性直接關(guān)系到行車(chē)安全,而金相分析是評(píng)估其結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性的重心手段。擎奧檢測(cè)的行家團(tuán)隊(duì)擅長(zhǎng)對(duì)發(fā)動(dòng)機(jī)控制模塊的端子引腳、傳感器引線等關(guān)鍵部位進(jìn)行截面分析,通過(guò)觀察金屬晶粒大小、氧化層厚度及鍍層結(jié)合狀態(tài),判斷部件在振動(dòng)、高低溫循環(huán)環(huán)境下的抗疲勞能力。例如在新能源汽車(chē)電機(jī)控制器的檢測(cè)中,技術(shù)人員通過(guò)金相圖像量化分析焊接熔深與熱影響區(qū)范圍,精細(xì)評(píng)估焊接工藝對(duì)導(dǎo)電性能的潛在影響,幫助車(chē)企規(guī)避因連接失效引發(fā)的電路故障風(fēng)險(xiǎn)。
在材料研發(fā)階段,金相分析是評(píng)估材料性能的重要手段,上海擎奧憑借完善的檢測(cè)能力,為各類(lèi)新材料研發(fā)提供支持。實(shí)驗(yàn)室可對(duì)芯片用封裝材料、汽車(chē)電子耐高溫合金等進(jìn)行金相檢測(cè),通過(guò)觀察材料的內(nèi)部組織結(jié)構(gòu),如相分布、晶粒形態(tài)等,分析材料成分與工藝對(duì)性能的影響。公司的行家團(tuán)隊(duì)具備豐富的材料科學(xué)背景,能結(jié)合金相分析結(jié)果,為客戶(hù)提供材料優(yōu)化建議,加速新材料的研發(fā)進(jìn)程,助力客戶(hù)在激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中占據(jù)先機(jī)。面對(duì)產(chǎn)品失效問(wèn)題,金相分析是追溯根源的有效方法,上海擎奧的失效物理分析團(tuán)隊(duì)擅長(zhǎng)通過(guò)金相檢測(cè)破除失效謎團(tuán)。當(dāng)芯片出現(xiàn)短路、汽車(chē)電子元件發(fā)生斷裂等問(wèn)題時(shí),技術(shù)人員通過(guò)對(duì)失效部位進(jìn)行金相切片,觀察其微觀結(jié)構(gòu)變化,如金屬遷移、疲勞裂紋擴(kuò)展路徑等,精細(xì)定位失效原因。結(jié)合 30 余人技術(shù)團(tuán)隊(duì)的實(shí)戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn),能快速還原失效過(guò)程,為客戶(hù)提供針對(duì)性的改進(jìn)措施,降低同類(lèi)失效問(wèn)題的再次發(fā)生概率。擎奧的金相分析為客戶(hù)產(chǎn)品質(zhì)量改進(jìn)提供支持。
在芯片封裝工藝的質(zhì)量管控中,金相分析扮演著不可替代的角色。上海擎奧檢測(cè)技術(shù)有限公司依托 2500 平米實(shí)驗(yàn)室里的先進(jìn)設(shè)備,能對(duì)芯片內(nèi)部的鍵合線、焊球及封裝界面進(jìn)行精確切片與研磨。通過(guò)高倍顯微鏡觀察金屬間化合物的生長(zhǎng)狀態(tài),工程師可快速判斷焊接工藝是否存在虛焊、空洞等隱患,為客戶(hù)提供芯片可靠性評(píng)估的關(guān)鍵數(shù)據(jù)。這支由 30 余名專(zhuān)業(yè)技術(shù)人員組成的團(tuán)隊(duì),憑借豐富的失效分析經(jīng)驗(yàn),能從金相組織的細(xì)微變化中追溯工藝缺陷的根源,助力芯片廠商優(yōu)化生產(chǎn)流程。照明電子材料的金相分析助力客戶(hù)優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)。浦東新區(qū)智能金相分析答疑解惑
芯片材料的金相分析在擎奧實(shí)驗(yàn)室規(guī)范流程下進(jìn)行。江蘇工業(yè)金相分析方案設(shè)計(jì)
在芯片封裝工藝的質(zhì)量管控中,金相分析扮演著不可替代的角色。上海擎奧檢測(cè)技術(shù)有限公司依托 2500 平米實(shí)驗(yàn)室中的先進(jìn)切片與研磨設(shè)備,可對(duì)芯片內(nèi)部的鍵合結(jié)構(gòu)、焊球形態(tài)及層間界面進(jìn)行精密觀察。通過(guò)將芯片樣品進(jìn)行鑲嵌、拋光與腐蝕處理,技術(shù)人員能在高倍顯微鏡下識(shí)別鍵合線偏移、焊點(diǎn)空洞等微觀缺陷,這些缺陷往往是導(dǎo)致芯片高溫失效或信號(hào)傳輸異常的根源。針對(duì)車(chē)規(guī)級(jí)芯片的嚴(yán)苛要求,團(tuán)隊(duì)還會(huì)結(jié)合失效物理分析,通過(guò)金相切片追溯封裝工藝參數(shù)對(duì)微觀結(jié)構(gòu)的影響,為客戶(hù)優(yōu)化封裝流程提供數(shù)據(jù)支撐。江蘇工業(yè)金相分析方案設(shè)計(jì)