閔行區(qū)鹽霧可靠性測(cè)試平臺(tái)

新能源電池 CCS 集成母排焊接拉力、剝離力測(cè)試：在新能源電池系統(tǒng)里，CCS 集成母排承擔(dān)電芯串并聯(lián)、信號(hào)采集重任，其焊接質(zhì)量關(guān)乎電池管理系統(tǒng)安全運(yùn)行。聯(lián)華檢測(cè)采用拉力機(jī)對(duì) CCS 集成母排的焊接處進(jìn)行拉力、剝離力測(cè)試。針對(duì)鎳片與鋁巴焊接部位，精細(xì)控制拉力機(jī)拉伸速度與方向，施加拉力直至焊接部位出現(xiàn)變形或斷裂，記錄此時(shí)拉力數(shù)值。同時(shí)，模擬實(shí)際使用中的振動(dòng)、高負(fù)載工況，重復(fù)測(cè)試。如在對(duì)某新能源汽車電池 CCS 集成母排測(cè)試時(shí)，發(fā)現(xiàn)部分焊接處拉力未達(dá)標(biāo)準(zhǔn)，在模擬振動(dòng)環(huán)境下，焊接部位出現(xiàn)松動(dòng)，導(dǎo)致電阻增大，影響電池性能。經(jīng)深入分析，是焊接工藝參數(shù)設(shè)置不當(dāng)，致使焊接強(qiáng)度不足。通過(guò)此類測(cè)試，可確保母排材料及焊接處有足夠抗拉強(qiáng)度，為新能源電池系統(tǒng)可靠性提供保障。工業(yè)自動(dòng)化傳輸設(shè)備經(jīng)兩類測(cè)試，確保連續(xù)運(yùn)行及惡劣環(huán)境下穩(wěn)定可靠。閔行區(qū)鹽霧可靠性測(cè)試平臺(tái)

低溫存儲(chǔ)測(cè)試主要考察產(chǎn)品在低溫環(huán)境下存儲(chǔ)后的性能恢復(fù)情況。把產(chǎn)品放入低溫試驗(yàn)箱，設(shè)置低溫條件，如 -20℃、-40℃。產(chǎn)品在該低溫環(huán)境下存儲(chǔ)規(guī)定時(shí)間，如 24 小時(shí)。存儲(chǔ)結(jié)束后，將產(chǎn)品移至常溫環(huán)境，待溫度平衡后，***檢測(cè)產(chǎn)品各項(xiàng)性能。以一款戶外監(jiān)控?cái)z像頭為例，經(jīng)低溫存儲(chǔ)測(cè)試后，攝像頭的電池出現(xiàn)電量顯示異常問(wèn)題，進(jìn)一步檢測(cè)發(fā)現(xiàn)是電池內(nèi)部電解液在低溫下黏稠度增加，離子傳導(dǎo)受阻，這提示需改進(jìn)電池低溫性能或?yàn)閿z像頭添加低溫加熱裝置。常州極端溫度可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)磨損測(cè)試模擬汽車活塞環(huán)摩擦，優(yōu)化工藝，提升發(fā)動(dòng)機(jī)可靠性與經(jīng)濟(jì)性。

汽車發(fā)動(dòng)機(jī)活塞疲勞壽命測(cè)試：汽車發(fā)動(dòng)機(jī)活塞在發(fā)動(dòng)機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)，持續(xù)承受高溫、高壓及機(jī)械沖擊，其疲勞壽命關(guān)乎發(fā)動(dòng)機(jī)的穩(wěn)定性與耐久性。聯(lián)華檢測(cè)針對(duì)活塞開(kāi)展疲勞壽命測(cè)試，在專業(yè)的發(fā)動(dòng)機(jī)模擬試驗(yàn)臺(tái)上，精細(xì)模擬發(fā)動(dòng)機(jī)不同工況，如怠速、加速、高速行駛等。測(cè)試中，借助壓力傳感器實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)燃燒室內(nèi)壓力，熱電偶測(cè)量活塞溫度，應(yīng)變片采集活塞關(guān)鍵部位應(yīng)力應(yīng)變數(shù)據(jù)。試驗(yàn)臺(tái)按設(shè)定程序，讓活塞經(jīng)歷數(shù)百萬(wàn)次往復(fù)運(yùn)動(dòng)循環(huán)。以某款家用汽車發(fā)動(dòng)機(jī)活塞測(cè)試為例，經(jīng) 300 萬(wàn)次循環(huán)后，活塞頂部出現(xiàn)細(xì)微裂紋，分析得出是長(zhǎng)期熱應(yīng)力與機(jī)械應(yīng)力疊加，致使材料疲勞。基于測(cè)試結(jié)果，可指導(dǎo)活塞材料優(yōu)化，改進(jìn)制造工藝，如調(diào)整熱處理參數(shù)，提升活塞疲勞壽命，保障發(fā)動(dòng)機(jī)長(zhǎng)期可靠運(yùn)行，降低汽車售后故障風(fēng)險(xiǎn)。

芯片高溫反偏（HTRB）測(cè)試：芯片在電子設(shè)備中猶如 “大腦”，其可靠性至關(guān)重要。聯(lián)華檢測(cè)開(kāi)展的芯片高溫反偏測(cè)試，旨在驗(yàn)證芯片長(zhǎng)期可靠性。測(cè)試時(shí)，將芯片置于高溫環(huán)境，如 125℃，并在其引腳施加反向偏置電壓。這一過(guò)程需持續(xù)數(shù)千小時(shí)，期間利用高精度電流測(cè)量設(shè)備，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)芯片漏電流變化。因?yàn)殡S著時(shí)間推移與高溫、反向偏壓作用，芯片內(nèi)部缺陷可能逐漸顯現(xiàn)，漏電流異常便是關(guān)鍵表征。例如，某型號(hào)芯片在測(cè)試 800 小時(shí)后，漏電流出現(xiàn)明顯上升，經(jīng)分析是芯片內(nèi)部的氧化層存在細(xì)微缺陷，在測(cè)試條件下引發(fā)電子遷移，致使漏電流增大。通過(guò)這類測(cè)試，企業(yè)能提前察覺(jué)芯片潛在問(wèn)題，優(yōu)化設(shè)計(jì)與制造工藝，保障產(chǎn)品在長(zhǎng)期使用中的穩(wěn)定性，尤其對(duì)汽車電子、工業(yè)控制等高可靠性需求領(lǐng)域意義重大。拉伸測(cè)試獲取機(jī)械材料關(guān)鍵力學(xué)指標(biāo)，助企業(yè)保障設(shè)備安全。

鹽霧腐蝕測(cè)試主要用于評(píng)估產(chǎn)品在潮濕含鹽環(huán)境下的耐腐蝕性能，對(duì)于一些在戶外或者沿海地區(qū)使用的產(chǎn)品而言，此項(xiàng)測(cè)試尤為重要。聯(lián)華檢測(cè)在進(jìn)行鹽霧腐蝕測(cè)試時(shí)，會(huì)使用鹽霧試驗(yàn)箱，將產(chǎn)品放置其中，通過(guò)向試驗(yàn)箱內(nèi)噴射鹽霧，模擬潮濕含鹽的環(huán)境。依據(jù)產(chǎn)品的使用環(huán)境和標(biāo)準(zhǔn)要求，設(shè)定鹽霧濃度、溫度、濕度以及測(cè)試時(shí)間等參數(shù)。例如，對(duì)于汽車零部件，模擬汽車在沿海地區(qū)行駛時(shí)可能面臨的鹽霧環(huán)境，測(cè)試零部件是否會(huì)出現(xiàn)腐蝕現(xiàn)象。通過(guò)鹽霧腐蝕測(cè)試，企業(yè)能夠了解產(chǎn)品在特定環(huán)境下的耐腐蝕能力，進(jìn)而改進(jìn)產(chǎn)品的防護(hù)設(shè)計(jì)或者材料選擇，提高產(chǎn)品的可靠性和使用壽命。數(shù)據(jù)管理與分析貫穿可靠性測(cè)試全程，運(yùn)用統(tǒng)計(jì)方法評(píng)估數(shù)據(jù)，為產(chǎn)品優(yōu)化提供依據(jù)。黃浦區(qū)防水可靠性測(cè)試服務(wù)

軟件可靠性測(cè)試通過(guò)功能、性能、壓力等多維度測(cè)試，保障軟件穩(wěn)定運(yùn)行，提升用戶體驗(yàn)。閔行區(qū)鹽霧可靠性測(cè)試平臺(tái)

拉伸測(cè)試：拉伸測(cè)試屬于機(jī)械可靠性測(cè)試的一種，主要用于測(cè)量材料的抗拉強(qiáng)度和伸長(zhǎng)率，以此評(píng)估材料的力學(xué)性能。聯(lián)華檢測(cè)在進(jìn)行拉伸測(cè)試時(shí)，會(huì)使用專業(yè)的拉伸試驗(yàn)機(jī)，將材料制成標(biāo)準(zhǔn)試樣并安裝在試驗(yàn)機(jī)上。通過(guò)拉伸試驗(yàn)機(jī)對(duì)試樣施加逐漸增大的拉力，同時(shí)記錄拉力和試樣的伸長(zhǎng)量。當(dāng)試樣被拉斷時(shí)，所記錄的比較大拉力就是材料的抗拉強(qiáng)度，而試樣的伸長(zhǎng)量與原始長(zhǎng)度的比值則為伸長(zhǎng)率。例如，對(duì)于金屬材料，通過(guò)拉伸測(cè)試能夠了解其在承受拉力時(shí)的性能表現(xiàn)，判斷材料是否符合使用要求。拉伸測(cè)試結(jié)果能夠?yàn)楫a(chǎn)品的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和材料選擇提供重要依據(jù)，有助于企業(yè)優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)，提高產(chǎn)品的機(jī)械可靠性。閔行區(qū)鹽霧可靠性測(cè)試平臺(tái)