技術(shù)實現(xiàn)要素：本發(fā)明的目的是提供一種條狀芯片智能打點系統(tǒng)，以能夠?qū)l狀芯片產(chǎn)品中的不良品進行自動識別和打點。本發(fā)明的另一目的是提供一種條狀芯片智能打點方法，以對條狀芯片產(chǎn)品中的不良品進行自動識別和打點。為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明公開了一種條狀芯片智能打點系統(tǒng)，用于對條狀芯片中的不良品進行打點。條狀芯片包括有呈行列排布的多個芯片。該條狀芯片智能打點系統(tǒng)包括handler和用于對條狀芯片中測試結(jié)果為不良品的芯片打點的打標(biāo)機，所述handler包括載臺、掃碼器、處理器以及攝像機。芯片打點機在半導(dǎo)體行業(yè)中不斷的創(chuàng)新，推動了該行業(yè)的發(fā)展。湖北芯片打點機平臺
在設(shè)定打點坐標(biāo)文件與打標(biāo)機20的打點模板時，將打標(biāo)機20的光標(biāo)預(yù)覽設(shè)定到待打點條狀芯片200的左上角頭一顆芯片201，設(shè)置為打標(biāo)的頭一顆坐標(biāo)“(01,01)”，即是，設(shè)定條狀芯片200的左上角為打點坐標(biāo)原點；再根據(jù)待打點條狀芯片200的芯片單體201行、列排列順序及排列間距進行打點坐標(biāo)匹配。在打點過程中，打標(biāo)機20解析打點坐標(biāo)文件中的坐標(biāo)點的bin項來判斷是否打點，如坐標(biāo)點“(01,01)：bin1”對應(yīng)為良品，坐標(biāo)點“(01,01)：binx”對應(yīng)為外觀不良品，坐標(biāo)點“(01,01)：bin2～255”為測試結(jié)果不良品，打標(biāo)機20在解析的過程中只要知道哪些為良品即可，而剩下的均為不良品，然后對這些不良品對應(yīng)的坐標(biāo)位置進行打點。海南LED芯片打點機參考價芯片打點機可以通過多角度打標(biāo)的方式保證打標(biāo)效果更加準(zhǔn)確。
優(yōu)點：構(gòu)造精密，使用方便，效率高，打點準(zhǔn)確，亦便于檢查和修理。操作方法：打10mm標(biāo)距點，使用兩用高盛標(biāo)距儀時將試樣材料放入試樣座槽內(nèi)。打5mm標(biāo)距點，使用兩用高盛標(biāo)距儀打印5mm的間距要先打印要10mm間距，再用左手輕推（或輕拉）絲桿搖手，使試樣移位5mm。繼續(xù)打印一次，打印完后，拿下試樣即可 。全自動8寸IC探針臺 半導(dǎo)體晶圓點測機 芯片測試設(shè)備，配備 TTL、GPIB、COM 之開放式的接口，可與目前市面上各家芯片測試儀進行搭配使用； 日制高精密絲桿導(dǎo)軌，配合高分辨率光柵尺/磁柵尺，品質(zhì)穩(wěn)定，磨損少，機械剛性強，運行平穩(wěn)，機構(gòu)尺寸優(yōu)化縮小，提高廠房利用率。全自動上下片可選配。
芯片打點機的優(yōu)勢，芯片打點機相對于傳統(tǒng)的加工設(shè)備有以下幾個優(yōu)勢：高精度，芯片打點機可以實現(xiàn)很高的加工精度，可達到數(shù)微米的級別。這使得它成為許多高精度應(yīng)用的理想選擇。高效率，芯片打點機可以在較短的時間內(nèi)完成大量的加工任務(wù)。這是因為它采用連續(xù)激光加工，不需要像傳統(tǒng)的機械加工那樣進行切削?？煽啃愿撸酒螯c機通常采用光學(xué)控制系統(tǒng)和自動化控制系統(tǒng)，因此具有很高的可靠性和穩(wěn)定性。它可以長時間運行而不需要停機維護。芯片打點機的運行平穩(wěn)，噪聲小，不會對生產(chǎn)環(huán)境產(chǎn)生影響。
芯片打點機的分類：1. 激光打點機，激光打點機是一種高精度的設(shè)備，它使用激光束在芯片表面上打上微小的點。激光打點機具有高速、高精度、高效率等優(yōu)點，適用于各種芯片的打點。2. 噴墨打點機，噴墨打點機是一種使用噴墨技術(shù)在芯片表面上打上微小的點的設(shè)備。噴墨打點機具有成本低、易于操作等優(yōu)點，適用于一些低要求的芯片打點。3. 電化學(xué)打點機，電化學(xué)打點機是一種使用電化學(xué)反應(yīng)在芯片表面上打上微小的點的設(shè)備。電化學(xué)打點機具有高精度、高效率等優(yōu)點，適用于一些高要求的芯片打點。芯片打點機在芯片表面打印必要的信息，可以提高芯片品質(zhì)和可靠性。深圳全自動芯片打點機廠家直銷
芯片打點機的標(biāo)記速度和效果做到了行業(yè)靠前水平，快速提高生產(chǎn)效率。湖北芯片打點機平臺
具體實施方式。一種芯片測試打點機，包括打點標(biāo)記針、芯片承載運動平臺I、測試探針和用于固定測試探針的固定架2,所述打點標(biāo)記針包括頭一打點標(biāo)記針3和第二打點標(biāo)記針4,所述測試探針包括與頭一打點標(biāo)記針3配合的頭一測試探針5和與第二打點標(biāo)記針4配合的第二測試探針6，頭一測試探針5和第二測試探針6位于頭一打點標(biāo)記針3和第二打點標(biāo)記針4之間，頭一打點標(biāo)記針3和頭一測試探針5之間的距離為一個芯片的長度，第二打點標(biāo)記4針和第二測試探針6之間的距離為一個芯片的長度。湖北芯片打點機平臺