APPH系列相噪分析儀相位噪聲測(cè)量

相位噪聲是許多現(xiàn)代電子系統(tǒng)和設(shè)備的一項(xiàng)重要技術(shù)指標(biāo)和關(guān)鍵性技術(shù)問(wèn)題，通過(guò)相位噪聲的表征和測(cè)試的研究，找到影響頻率源穩(wěn)定性的因素，可應(yīng)用于測(cè)控系統(tǒng)，衡量其頻率源的質(zhì)量。相位噪聲是許多現(xiàn)代電子系統(tǒng)和設(shè)備(包括測(cè)控、雷達(dá)、通信、導(dǎo)航、干涉儀、射電天文、電子測(cè)量和近代物理實(shí)驗(yàn)等)的一項(xiàng)重要技術(shù)指標(biāo)和關(guān)鍵性技術(shù)問(wèn)題，通過(guò)相位噪聲的表征和測(cè)試的研究，找到影響頻率源穩(wěn)定性的因素，可應(yīng)用于頻率源的設(shè)計(jì)和研制提高頻率源的質(zhì)量。相位噪聲從頻域描述了信號(hào)頻率的穩(wěn)定度，是描述信號(hào)質(zhì)量的重要指標(biāo)。APPH系列相噪分析儀相位噪聲測(cè)量

相位噪聲與幅度噪聲相位噪聲可以通過(guò)多種方式引入電路，尤其是在使用頻率合成器時(shí)。然而，對(duì)于振蕩器，相位噪聲的來(lái)源是“熱”和“閃爍”或1/f噪聲。由于大多數(shù)振蕩器在飽和狀態(tài)下運(yùn)行，這限制了噪聲的振幅分量，通常比相位噪聲分量低20dB左右。這意味著相位噪聲占主導(dǎo)地位，因此幅度噪聲通常被忽略。這個(gè)假設(shè)對(duì)于大多數(shù)應(yīng)用都是正確的，但不應(yīng)忘記振幅分量，因?yàn)樵谀承?yīng)用中可能需要考慮它們。相位噪聲是由于存在相位抖動(dòng)而散布到信號(hào)兩側(cè)的噪聲頻譜。相位噪聲對(duì)RF設(shè)計(jì)人員尤為重要。相位抖動(dòng)本身表現(xiàn)為相位噪聲，散布在主要有用載波的任一側(cè)。在大多數(shù)情況下，與載波的偏移越遠(yuǎn)，它的電平就越低。上海APPH40G相噪分析儀價(jià)格AnaPico APPH系列高性能相位噪聲分析儀頻率輸入范圍分別覆蓋1MHz至65GHz，頻偏范圍0.01Hz至100MHz。

    相位噪聲指標(biāo)是射頻、微波領(lǐng)域一項(xiàng)非常關(guān)鍵的指標(biāo)，相位噪聲指標(biāo)的測(cè)試是研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、調(diào)試必須進(jìn)行測(cè)試的一項(xiàng)指標(biāo)，測(cè)試準(zhǔn)確度要求較高，需要考慮的因素較多。數(shù)字相位解調(diào)法不需要鎖相環(huán)，無(wú)需環(huán)路帶寬內(nèi)的噪聲抑制補(bǔ)償，相同靈敏度下，極大提高測(cè)試效率。數(shù)字相位解調(diào)法非常易于實(shí)現(xiàn)脈沖相位噪聲，附加相位噪聲，脈沖附加相位噪聲測(cè)試，VCO測(cè)試及瞬態(tài)測(cè)試等多項(xiàng)測(cè)試要求，可以極大的滿(mǎn)足多方面測(cè)試要求。并且可以進(jìn)行多種測(cè)試需求的并行測(cè)量。同時(shí)數(shù)字相位解調(diào)法測(cè)試比較簡(jiǎn)單，無(wú)需復(fù)雜的操作設(shè)置，測(cè)試速度快。尤其是數(shù)字相位解調(diào)法基礎(chǔ)之上增加互相關(guān)算法進(jìn)行測(cè)試，使得測(cè)試靈敏度極高，是目前進(jìn)行相位噪聲測(cè)試以及其他相關(guān)測(cè)試比較好異的測(cè)試方法和手段。

隨機(jī)抖動(dòng)與相位噪聲有什么關(guān)系呢？時(shí)間抖動(dòng)就是指載波信號(hào)上升沿或者下降沿在時(shí)間軸上的短期波動(dòng)，隨機(jī)抖動(dòng)是由于寬帶噪聲引起的邊沿?zé)o規(guī)則隨機(jī)波動(dòng)，這與相位噪聲是一一對(duì)應(yīng)的，邊沿的波動(dòng)是各個(gè)頻偏處相噪的綜合體現(xiàn)。載波邊沿的隨機(jī)波動(dòng)，存在一個(gè)波動(dòng)范圍，從概率密度上講，基本服從高斯分布，通常采用標(biāo)準(zhǔn)差表征隨機(jī)抖動(dòng)，這也是隨機(jī)抖動(dòng)的有效值，也是通常要測(cè)試的參數(shù)。時(shí)間抖動(dòng)引起了相位的波動(dòng)，只要確定了相位波動(dòng)的量，那么也就確定了時(shí)間抖動(dòng)。相位噪聲分析儀可測(cè)量相位噪聲、剩余相位噪聲、附加相位噪聲。

目前的相位噪聲測(cè)試方法是進(jìn)行直接I/Q調(diào)整測(cè)量，轉(zhuǎn)換為Sf(f)，然后計(jì)算L(f)的直接數(shù)字調(diào)整方法。直接數(shù)字解調(diào)法沒(méi)有相位檢測(cè)器和鎖相環(huán)，因此不需要修改環(huán)路帶寬，從而簡(jiǎn)化了校準(zhǔn)過(guò)程。該測(cè)試方法不僅可以測(cè)量CW相位噪聲，還可以在測(cè)量相位噪聲的同時(shí)測(cè)量振幅噪聲，還可以使用極低的參考源相位噪聲、高速互相關(guān)硬件，提高測(cè)試的靈敏度。另外，在有大信號(hào)的情況下，可以測(cè)量小水平信號(hào)的相位噪聲。目前，RS相噪聲分析儀FSPN和FSWP采用了這一技術(shù)。APPH系列是是一款功能齊全的高性能信號(hào)源分析儀/相噪分析儀。福建APPH6040相噪分析儀廠家現(xiàn)貨

APPH相位噪聲分析儀具有極低的儀器本底噪聲。APPH系列相噪分析儀相位噪聲測(cè)量

延遲線法是把被測(cè)信號(hào)分成兩路，一路信號(hào)經(jīng)過(guò)延遲線后與另一路經(jīng)過(guò)一個(gè)移相器移相后的信號(hào)進(jìn)行鑒相，然后再濾波放大分析。延遲線的作用是將頻率的變化轉(zhuǎn)化為相位的變化，當(dāng)頻率變化時(shí)，將在延遲線中引起相位正比例的變化。雙平衡混頻器將相位變化轉(zhuǎn)化為電壓變化。該測(cè)試方法具有載波抑制、調(diào)幅噪聲測(cè)試功能，測(cè)試時(shí)不需要額外的參考源，不需要信號(hào)同步，頻率漂移不再是問(wèn)題。但是該測(cè)試方法比較大頻偏范圍受限，高頻時(shí)損耗較大，使得測(cè)試靈敏度較低，而且測(cè)試時(shí)需要校準(zhǔn)，操作較為復(fù)雜。APPH系列相噪分析儀相位噪聲測(cè)量

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