一體式相噪分析儀基帶噪聲分析

來源: 發(fā)布時間:2023-03-06

隨著電子技術(shù)的發(fā)展,儀器的噪聲系數(shù)越來越低,放大器的動態(tài)范圍也越來越大,增益得到提高,電路系統(tǒng)的靈敏度、選擇性、線性度等主要技術(shù)指標(biāo)都得到了很好的解決。同時,隨著技術(shù)的不斷改進(jìn),對電路系統(tǒng)提出了更高的要求,這就要求電路系統(tǒng)具有較低的相位噪聲,在現(xiàn)代技術(shù)中,相位噪聲已成為限制性電路系統(tǒng)的主要因素。低相位噪聲對提高電路系統(tǒng)性能有重要作用。相位噪聲的好壞對通信系統(tǒng)有很大影響。特別是現(xiàn)代通信系統(tǒng)的狀態(tài)很多,頻道密集,不斷變化,因此對相位噪聲的要求也越來越高。本振信號相位噪聲不好會增加通信的誤碼率,影響載波跟蹤精度。相位噪聲不僅會提高誤碼率,影響載波跟蹤精度,還會影響通信接收機(jī)信道的內(nèi)外性能測量,相位噪聲會影響相鄰信道的選擇性。接收機(jī)的選擇性越高,相位噪聲應(yīng)該越好,接收機(jī)靈敏度越高,相位噪聲也應(yīng)該越好。總之,對于現(xiàn)代通信的各種接收機(jī),相位噪聲指標(biāo)尤為重要,對該指標(biāo)的精密測試要求也越來越高,相應(yīng)的技術(shù)手段要求也越來越高。AnaPico APPH系列高性能相位噪聲分析儀,其不同型號的頻率范圍覆蓋了從1MHz到65GHz.其標(biāo)配互相關(guān)測試功能。一體式相噪分析儀基帶噪聲分析

隨著電子技術(shù)的發(fā)展,器件的噪聲系數(shù)越來越低,放大器的動態(tài)范圍也越來越大,增益也大有提高,使得電路系統(tǒng)的靈敏度和選擇性以及線性度等主要技術(shù)指標(biāo)都得到較好的解決。同時,隨著技術(shù)的不斷提高,對電路系統(tǒng)又提出了更高的要求,這就要求電路系統(tǒng)必須具有較低的相位噪聲,在現(xiàn)代技術(shù)中,相位噪聲已成為限制電路系統(tǒng)的主要因素。低相位噪聲對于提高電路系統(tǒng)性能起到重要作用。相位噪聲指標(biāo)是射頻、微波領(lǐng)域一項(xiàng)非常關(guān)鍵的指標(biāo),相位噪聲指標(biāo)的測試是研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、調(diào)試必須進(jìn)行測試的一項(xiàng)指標(biāo),測試準(zhǔn)確度要求較高,需要考慮的因素較多。安徽便攜式相噪分析儀與頻譜儀APPH相噪分析儀功能包括相位噪聲和加性相位噪聲、抖動和艾倫偏差、瞬態(tài)分析、VCO 表征和頻譜監(jiān)測。

相位噪聲是測量信號時序變化的另一種方法,其結(jié)果顯示在頻域內(nèi)。用振蕩器信號解釋相位噪聲。如果沒有相位噪聲,振蕩器的總功率應(yīng)集中在頻率f=fo上。然而,相位噪聲的出現(xiàn)將振蕩器的部分功率擴(kuò)展到相鄰頻率,從而產(chǎn)生側(cè)帶(sideband)。如下圖所示,在距離中心頻率適當(dāng)距離的偏移頻率上,角帶動力滾下降到1/fm時,fm是偏離中心頻率的頻率差。相位噪聲通常定義為指定偏移頻率下的dBc/Hz值。其中,dBc是以dB為單位在該頻率下的功率與總功率之比。在一個偏移頻率下,振蕩器的相位噪聲被定義為該頻率下1Hz帶寬內(nèi)的信號功率與信號的總功率之比。

相位噪聲表示短期頻率穩(wěn)定性、物理現(xiàn)象的兩種方法,相位噪聲表示為頻域,短期頻率穩(wěn)定性表示為時域。相位噪聲通常是指系統(tǒng)內(nèi)各種噪聲作用引起的輸出信號相位的隨機(jī)波動。相位的隨機(jī)波動一定會引起頻率隨機(jī)波動,這種波動因?yàn)樗俣瓤毂环Q為短期頻率穩(wěn)定度,使用單邊波段、1Hz帶寬內(nèi)的相位噪聲功率譜密度嗎?時域一般用在一定的時間間隔內(nèi),頻率變化的相對值是測量時間的函數(shù),一般用方差說明頻率穩(wěn)定性,可以分為長期穩(wěn)定性和短期穩(wěn)定性,目前沒有嚴(yán)格的界限。APPH相噪分析儀操作簡單,緊湊、輕便、易攜帶。

無論是測試CW信號相位噪聲還是脈沖信號的相位噪聲指標(biāo)或AM噪聲測試等相關(guān)測試,測量結(jié)果都受到參考源和相位噪聲本身的影響。為了進(jìn)一步提高測試靈敏度,減少參考源和逆變器的影響,可以基于逆變器或數(shù)字相位調(diào)整方法使用相互相關(guān)的技術(shù)。該方法是互相關(guān)電路和互相關(guān)算法。測試的信號分為兩種方法,一種是參考信號源和欣賞或數(shù)字調(diào)整,另一種是與其他參考源進(jìn)行欣賞或數(shù)字調(diào)整,兩種輸出信號分別進(jìn)行過濾、放大、ADC采樣,然后進(jìn)行相互相關(guān)的運(yùn)算。(阿爾伯特愛因斯坦,NorthernExposure,成功)相互關(guān)聯(lián)的技術(shù)提高測量靈敏度的程度取決于相互關(guān)聯(lián)的運(yùn)算次數(shù)。參考振蕩器和測試系統(tǒng)的噪聲測試性能可通過10,000次測量結(jié)果之和提高20dB。APPH系列是是一款功能齊全的高性能信號源分析儀(相位噪聲分析儀),其型號范圍為1 MHz至7、26或40 GHz。一體式相噪分析儀供應(yīng)

APPH相噪分析儀可精確給出自身真實(shí)噪底。一體式相噪分析儀基帶噪聲分析

相位噪聲分析儀是一種用于信息科學(xué)與系統(tǒng)科學(xué)領(lǐng)域的儀器.相位噪聲測試,包含PLL法、互相關(guān)法和頻譜儀法,比較大頻偏范圍:300MHz;諧波和雜散測試;通過升級可支持單機(jī)脈沖相噪測試(例如脈沖重復(fù)率、脈沖寬度);支持完整的90GH頻譜分析功能,支持諧波、雜散、三階交調(diào)特性自動測試; 可以直接在頻譜掃描和相位噪聲測試通道間快速無縫切換;可升級噪聲系數(shù)測試、矢量信號解調(diào)功能。

相噪測量目前有多種方法,根據(jù)相位信息提取電路進(jìn)行分類,可分為直接頻譜分析法、鑒相法、鑒頻法、直接數(shù)字解調(diào)法等, 一體式相噪分析儀基帶噪聲分析

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