輻射近場測量的研究起始于50年代，70年代中期處于推廣應(yīng)用階段（商品化階段）。目前，分布在世界各地的近場測量系統(tǒng)已有100多套。該技術(shù)的基本理論已基本成熟，這種測量方法的電參數(shù)測量精度比常規(guī)遠場測量方法的測量精度要高得多，而且可全天候工作，并具有較高的保密性，因此，在民用中都顯示出了它獨特的優(yōu)越性。輻射近場測量研究的主要成果，幾十年來，輻射近場測量的研究在以下4個方面取得了突破性的進展：常規(guī)天線電參數(shù)的測量，天線近場測量可以給出天線各個截面的方向圖以及立體方向圖，可以分析出方向圖上的所有電參數(shù)（波束寬度、副瓣電平、零值深度、零深位置等）和天線的極化參數(shù)（軸比、傾角和旋向）以及天線的增益。對近場似乎還沒有正式的定義，它取決于應(yīng)用本身和天線。鄭州家電燈具近場輻射實驗室
多功能輻射檢測儀可普遍用在制藥廠，實驗室，發(fā)電廠，采石場，緊急狀況營救站，金屬處理廠，地下油田和供油管道裝備，環(huán)境保護，警察局等部門，用于：家居裝飾的檢測、檢查地下水,鐳污染、檢查地下鉆管和設(shè)備的放射性、檢查周圍環(huán)境的氡輻射銫污染、檢查石材等建筑材料的放射性、檢查瓷器餐具玻璃杯等的放射性、檢查局部的輻射泄露和核輻射污染、檢查有核輻射危險的填埋地和垃圾場、檢查個人的貴重財產(chǎn)和珠寶的有害輻射、檢測從醫(yī)用到工業(yè)的X射線儀的X射線強度、USB接口，自動存儲記錄xαβγ射線選擇開關(guān)、數(shù)值實時遠傳電腦顯示、屏幕高清晰LCD顯示。鄭州家電燈具近場輻射實驗室在天線的各元件間生成了電場，極性每半個周期變換一次。
低頻電磁輻射檢測儀的優(yōu)勢：1、是由同相振蕩且互相垂直的電場與磁場在空間中以波的形式移動，其傳播方向垂直于電場與磁場構(gòu)成的平面，有效的傳遞能量和動量。2、電磁輻射可以按照頻率分類，從低頻率到高頻率，包括有無線電波、微波、紅外線、可見光、紫外光、X-射線和伽馬射線等等。3、是一款高精度數(shù)字式低頻電磁場強度分析儀，它是一款用于檢測、分析低頻磁場和電場的高精度儀器。4、采用創(chuàng)新的電路元件，確保所有設(shè)備性能在標準條件仍然具有非?？煽康男阅?，內(nèi)置超高靈敏度電/磁場復合傳感器，可對各種低頻環(huán)境中存在電、磁場輻射進行檢測。
低副瓣或很低副瓣天線的測量，天線方向圖副瓣電平在-28～-35dB之間的天線稱為低副瓣天線；副瓣電平小于-40dB的天線稱為很低副瓣天線。對它們的測量要用到“零探頭”技術(shù)，據(jù)文獻報導，副瓣電平在-40dB以上時，測量精度為±3dB，副瓣電平為-55dB時，測量精度為±5dB。天線口徑場分布診斷是通過測量天線近區(qū)場的分布逆推出天線口徑場分布，從而判斷出口徑場畸變處所對應(yīng)的輻射單元，這就是天線口徑分布診斷的基本原理。該方法對具有一維圓對稱天線口徑分布的分析是可靠的，尤其對相控陣天線的分析與測量已有了充分的可信度。在性能評價中，近場向遠場的釋放量構(gòu)成了遠場模式計算的源項。
近場探頭用于在研發(fā)階段測量電子模塊上的電場和磁場，頻率范圍為30MHz到3GHz。利用RF1探頭組的探頭，可以實現(xiàn)緊貼電子模塊測量，比如貼近單個IC引腳、導線、元器件及其連接點測量，從而定位干擾信號源。通過相應(yīng)地操作近場探頭，能夠測量出電子模塊上電磁場的方向及其分布。隨著5G時代的推進，智能終端產(chǎn)品作為寬帶射頻應(yīng)用大的消費市場面臨著一系列開發(fā)與驗證的問題。其中，越來越小的設(shè)計空間與近場探頭電磁輻射雜散性能之間的矛盾，將是商業(yè)研究人員開發(fā)和驗證中面臨的巨大挑戰(zhàn)。若要以更高的精度、更強的自信探索開創(chuàng)性的概念，來推動現(xiàn)有技術(shù)發(fā)展、以創(chuàng)新創(chuàng)造**、將5G愿景轉(zhuǎn)變?yōu)楝F(xiàn)實的過程中，我們不得不在工作中選擇更為適合我們的調(diào)試、測試解決方案。遠場開始于距離為2λ的地方。輻射出的正弦波和近場、遠場。武漢藍牙耳機近場輻射分析儀價格
對于通常的天線，輻射近場區(qū)此區(qū)域也稱為菲涅爾區(qū)。鄭州家電燈具近場輻射實驗室
輻射近場測量方法都需要測量出近場的相位和幅度，才能利用近場理論計算出天線的遠場電特性，為了簡化計算公式和測量系統(tǒng)以及降低測量時間與測量的相位誤差（在頻率f很高的情況下，即f＞80GHz，相位的測量誤差是很大的），于是，有學者提出只用近場測量值的幅度來重建天線遠場的方法。該方法的基本思想為［10］：測出S1，S2兩個面的幅度值（A1，A2），人為選定S1面測量值的相位（φ1），先由S1面的幅度、相位值（A1，φ1）計算出S2面的幅度、相位值（a2，φ2），用A2代替a2，再由A2，φ2求出S1面的a1，φ1，用A1代替a1，重新由A1，φ1求出S2面新的a2，φ2，如此迭代下去，直至A1-a1≤ε，A2-a2≤ε（ε為測量精度），便可得到S1或S2面的相位分布，這時，可由S1或S2實測的幅度和迭代過程所得到的相位求得天線的遠場電特性。由于迭代收斂等原因，這方面的研究還未付諸實施。鄭州家電燈具近場輻射實驗室
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