長沙消費(fèi)電子EMI診斷儀器

來源: 發(fā)布時(shí)間:2022-01-15

將連接EUT的周邊電纜逐一取下﹐看干擾的噪聲是否降低或消失。若取下某一電纜而干擾的頻率減小或甚而消失﹐則可知此電纜已成為天線將機(jī)板內(nèi)的噪聲輻射出來。事實(shí)上﹐仔細(xì)分析造成EMI的關(guān)鍵﹐我們可以用一個(gè)很簡(jiǎn)單的模式來表示。任何EMI的Source必須要有天線的存在﹐才能產(chǎn)生輻射的情形﹐若只單獨(dú)存在噪聲源而沒有天線的條件﹐此輻射量是很小的﹐若將其連接到天線則由于天線效應(yīng)便把能量輻射到空間。所以EMI的對(duì)策除了針對(duì)噪聲源(Source)做處理外﹐重要的查破壞產(chǎn)生輻射的條件----天線。示波器、頻譜分析儀或測(cè)試接收機(jī)可以從不同角度解決EMI問題。長沙消費(fèi)電子EMI診斷儀器

射頻泄漏區(qū)的信息有利于設(shè)備設(shè)計(jì)的改善。結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)可以通過襯墊密封、附加屏蔽或一個(gè)全新的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)來改善。對(duì)于勉強(qiáng)可接受的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)來說,應(yīng)特別注意箱體內(nèi)的電分布情況。例如:數(shù)字電路板不應(yīng)放在靠近易產(chǎn)生射頻泄漏的區(qū)域。應(yīng)注意屏蔽效能值不只從發(fā)射角度而且從敏感性角度來考慮都是有用的。如果EMI能從箱體出來,同樣它也能進(jìn)入箱體。因此,電路遠(yuǎn)離射頻窗口有助于防止因外界EMI源引起的電路敏感性問題。在大屏蔽間或大屏蔽箱體的屏蔽效能測(cè)試中,頻譜分析儀是一種重要的測(cè)試和診斷工具。成都消費(fèi)電子EMI診斷器件選型準(zhǔn)峰值以便對(duì)從廣播角度看解釋為“干擾”的信號(hào)施加更多的權(quán)重。

起初接觸產(chǎn)品EMI對(duì)策修改時(shí)﹐會(huì)聽到很好EMI工程師說把所有EMI對(duì)策拿掉﹐就可以通過測(cè)試。初聽以為是句玩笑話﹐如今回想這是很寶貴的經(jīng)驗(yàn)談。而后亦聽到許多EMI工程師談到類似的經(jīng)驗(yàn)。本文中將舉出實(shí)際的例子﹐讓讀者更加了解EMI的對(duì)策觀念。一般提到如何解決EMI問題﹐大多說是casebycase,當(dāng)然從對(duì)策上而言﹐每一個(gè)產(chǎn)品的特性及電路板布線(layout)情況不同﹐故無法用幾套方法而解決所有EMI的問題﹐但是長久以來﹐我們一直想要把處理EMI問題并做適當(dāng)?shù)膶?duì)策﹐另外也提供專業(yè)的EMI工程師一種參考方法。在此我們把電磁干擾與對(duì)策的一些心得經(jīng)驗(yàn)整理﹐希望能對(duì)讀者有些幫助。

事實(shí)上﹐當(dāng)然平時(shí)的預(yù)防保養(yǎng)是很重要的﹐而一旦正確的診斷﹐才能得到快速的痊愈﹐沒有正確的診斷﹐找不到病癥的源頭﹐往往事倍功半而拖延費(fèi)時(shí)。故在EMI的問題上﹐常??吹揭粋€(gè)EMI有問題的產(chǎn)品﹐由于未能找到造成EMI問題的關(guān)鍵﹐花了許多時(shí)間﹐下了許多對(duì)策﹐卻始終無法解決﹐其中亦不乏專業(yè)的EMI工程師。以往談到EMI往往強(qiáng)調(diào)對(duì)策方法﹐甚而視許多對(duì)策秘決或絕招﹐然而沒有正確的診斷﹐而在產(chǎn)品上加了一大堆EMI壓制組件﹐其結(jié)果往往只會(huì)使EMI情況更糟。EMI測(cè)試室可能在校準(zhǔn)過的射頻房內(nèi)開展他們的測(cè)量,并報(bào)告作為強(qiáng)場(chǎng)的測(cè)量結(jié)果。

很多公司發(fā)現(xiàn)他們的電子產(chǎn)品在上架銷售前常常栽倒在之后一關(guān),即符合EMC要求。這使他們認(rèn)識(shí)到在早期設(shè)計(jì)階段重視預(yù)測(cè)試和EMI診斷的重要性,以盡量減小測(cè)試不合格的影響——重新設(shè)計(jì)和設(shè)備召回,以及延遲產(chǎn)品上市。等到開發(fā)期結(jié)束才去了解產(chǎn)品是否能夠通過一致性測(cè)試是一場(chǎng)豪賭,因?yàn)槊看胃倪M(jìn)涉及的開發(fā)成本會(huì)以指數(shù)規(guī)律攀升。因此,通過試產(chǎn)原型機(jī),甚至早在研發(fā)階段,從設(shè)計(jì)調(diào)研上排查EMI日益重要。對(duì)問題電路板進(jìn)行實(shí)驗(yàn),并采取預(yù)防措施是能夠?yàn)樵O(shè)計(jì)帶來便利。問題信號(hào)發(fā)生的越頻繁,問題信號(hào)的一定幅度就越可能被準(zhǔn)峰值測(cè)量所屏蔽。福建PCB板EMI診斷測(cè)試設(shè)備

在同一臺(tái)儀器上問時(shí)域和頻域?yàn)榭焖俜治鲇泻椛鋭?chuàng)造了條件。長沙消費(fèi)電子EMI診斷儀器

MIL-STD-285和NSA65-6是兩種常用的屏蔽效能標(biāo)準(zhǔn),其測(cè)試目的類似于設(shè)備箱體的屏蔽效能測(cè)試,只不過它是在一個(gè)較大規(guī)模上進(jìn)行罷了。測(cè)試要求通常會(huì)用到磁場(chǎng)、電場(chǎng)、平面波和微波發(fā)射接收設(shè)備;被測(cè)的頻率范圍從幾十Hz到幾十GHz;可能會(huì)要求屏蔽效能值大于100dB。近場(chǎng)探頭和天線與頻譜分析儀一起用于標(biāo)定射頻泄漏區(qū)域,就象在一個(gè)物理小規(guī)模上測(cè)試電子設(shè)備所做的一樣。在這里會(huì)碰到許多同樣的問題,通常的射頻泄漏區(qū)域?yàn)殄e(cuò)誤的導(dǎo)電封裝、襯墊、濾波器以及很可怕的“暗道”。所謂“暗道”指的是箱體外部的一個(gè)射頻泄漏點(diǎn)在箱體內(nèi)部的一個(gè)不同點(diǎn)上引起了射頻泄漏。在短波頻率上定位“暗道”是一項(xiàng)極具挑戰(zhàn)性的工作。長沙消費(fèi)電子EMI診斷儀器

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