我們將初步的診斷步驟詳列于下﹐并加以說明其關鍵點﹐這些步驟看來似乎非常平凡簡單﹐不像介紹對策方法各種理論秘籍絕招層出不窮﹐變化奧妙。其實﹐許多很好EMI工程師在其對策處理時﹐大部份的時間都在重復這些步驟與判斷。筆者要再次強調﹐只有真正找到造成EMI問題的關鍵﹐才是解決EMI的好的途徑﹐若只憑理論推測或經驗判斷﹐有時反而會花費更多的時間和精力。將桌子轉到待測（EUT）很大發(fā)射的位置﹐初步診斷可能的原因﹐并關掉EUT電源加以確認。示波器互補的方法為EMI排查診斷打開了全新的天地，提供前所未有的EMI排查能力。福建集成電路EMI診斷測試設備
一個實際使用的設備箱體屏蔽效能測試方法與剛才描述的屏蔽盒測試方法相似，小發(fā)射天線放在設備箱體外部而不是屏蔽盒內部。發(fā)射天線經箱體屏蔽和未屏蔽的兩種情況下，用接收天線和頻譜分析儀測得的兩者之差即屏蔽效能值。如果設備箱體完全是金屬或射頻密封，它能夠很容易地得到100dB以上的屏蔽效能。然而，通常情況下，屏蔽箱體帶有開口，如縫隙、未屏蔽的顯示屏、非金屬區(qū)域以及通風口。如果屏蔽效能值沒滿足要求，這里就可以使用輻射發(fā)射測試中描述的故障診斷和檢測方法。上海研發(fā)級EMI診斷頻譜儀測試室為出EMI報告而開展的掃描通常是在特殊條件下進行的。
電路板上的組件成為輻射來源，由于所使用的IC或CPU本身在運作時產生很大的輻射﹐使得EMI測試無法通過﹐卵石種情往往在經過（1）﹑（2）﹑（3）的分析后噪聲依然存在﹐通常解決的方法不外換一個類似的組件﹐看EMI特性是否會好一些。另外就是電路板重新布線時﹐將其擺放于影響小的位置﹐也就是附近沒有I/OPort及連接線等經過﹐當然若情況允許﹐將整個組件用金屬外殼包覆（Shielding）也是一種快速有效的方法。由以上的分析介紹我們可以了解﹐造成電磁干擾輻射關鍵的地方就是電線的問題﹐當有了適當?shù)奶炀€條件存在很容易就產生干擾﹐另外電源線往往亦是造成天線效應的主因﹐這是在許EMI對策中容易疏忽的。
有時甚至在EMI敏感設備放置一段時間后會突然發(fā)生電磁干擾問題，頻譜分析儀則是標出問題緣由的重要診斷工具。天線用于決定發(fā)射源的方向并標出很大干擾的區(qū)域。RF電流探頭探測UPS電源產生的干擾，通過頻譜分析儀與寬帶天線追隨追查某寬帶電磁干擾到一間裝有UPS電源的房間，用RF電流探頭探出干擾源是蓄電池線纜。注意用天線和電流探頭兩者接收的發(fā)射特性相似。EMI勘測也可用于城市條例或國家法規(guī)中，例如有些城市都有要求對可移動天線之類的廣播天線進行年檢的條例；有時候，這些測試必須在偏遠地區(qū)或山頂進行。OSHA職業(yè)安全與健康標準要求對可能產生高射頻能量的儀器進行安檢的條例。頻譜分析儀可測試場強，并將其轉換為指定的能量密度單位，比如毫瓦每平方厘米（mW/cm2）。準峰值以便對從廣播角度看解釋為“干擾”的信號施加更多的權重。
EMI電磁干擾場地勘測：便攜式的頻譜分析儀與寬帶天線的組合在探測電磁干擾過程中特別有用。在1KHz～1GHz之間的輻射電磁干擾探測只用一臺頻譜分析儀和一根天線就可完成。不同地理位置環(huán)境干擾的勘測有助于確定好的的EMI開闊測試場地。勘測的信息也可用于確定安置EMI敏感校驗或設計組的好的位置。大多數(shù)情況下，來自建筑物外小的環(huán)境電磁干擾區(qū)域趨于建筑物的中間。對于多層建筑物，地下室或較低樓層通常具有小的環(huán)境電磁干擾。頻譜分析儀在電磁敏感度測試過程中用于監(jiān)視被測設備上的傳導或輻射發(fā)射電平。全世界幾乎所有有關部門都在嘗試控制他們國家生產的電子產品產生的有害電磁干擾（EMI）。上海研發(fā)級EMI診斷頻譜儀
但當所發(fā)現(xiàn)的信號超過或接近規(guī)定極限時，也執(zhí)行準峰值測量。福建集成電路EMI診斷測試設備
理解EMI報告在討論排查技術之前，介紹一下EMI測試報告是很有必要的。乍一看，EMI報告似乎直接提供了有關特定頻率點故障的信息，因此事情看起來很簡單，就是使用報告中的數(shù)據(jù)確定設計中的哪個元件包含問題源頻率，并特別加以注意，以便通過下一輪測試。然而，雖然許多測試條件在報告中是明確表示的，但一些需要考慮的重要事情可能并不那么明顯。在審查設計并試圖判斷問題源時，理解測試室如何生成這種報告是很有幫助的。需要記住的一個好規(guī)則是，準峰值檢測值總是小于或等于峰值檢測值，永遠不會大于峰值檢測值。因此你可以使用峰值檢測來開展你的EMI排查和診斷。你不需要達到與EMI部門或實驗室掃描同等程度的精度，因為測量都是相對值。如果你的實驗室報告中的準峰值檢測值表明，設計超過了3dB，峰值檢測值超過了6dB，那么你就知道你需要的修復工作是將信號減小3dB或更多。福建集成電路EMI診斷測試設備
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