輻射區(qū)內(nèi)，電磁場(chǎng)開(kāi)始輻射，標(biāo)志著遠(yuǎn)場(chǎng)的開(kāi)始。場(chǎng)的強(qiáng)度和天線的距離成反比(1/r3)。輻射出的正弦波和近場(chǎng)、遠(yuǎn)場(chǎng)。近場(chǎng)通常分為兩個(gè)區(qū)域，反應(yīng)區(qū)和輻射區(qū)。在反應(yīng)區(qū)里，電場(chǎng)和磁場(chǎng)是很強(qiáng)的，并且可以單獨(dú)測(cè)量。根據(jù)天線的種類(lèi)，某一種場(chǎng)會(huì)成為主導(dǎo)。例如環(huán)形天線主要是磁場(chǎng)，環(huán)形天線就如同變壓器的初級(jí)，因?yàn)樗a(chǎn)生的磁場(chǎng)很大。近場(chǎng)和遠(yuǎn)場(chǎng)的邊界、運(yùn)行頻段的波長(zhǎng)。天線應(yīng)位于正弦波左側(cè)起始的位置。和近場(chǎng)類(lèi)似，遠(yuǎn)場(chǎng)的起始也沒(méi)有統(tǒng)一的定義。有認(rèn)為是2λ，有堅(jiān)持說(shuō)是距離天線3λ或10λ以外。還有一種說(shuō)法是5λ/2π，另有人認(rèn)為應(yīng)該根據(jù)天線的很大尺寸D，距離為50D2/λ。實(shí)際上電場(chǎng)和磁場(chǎng)互相產(chǎn)生，這樣的“單獨(dú)”波就是無(wú)線電波。鄭州消費(fèi)電子近場(chǎng)輻射測(cè)試方法
為什么要進(jìn)行EMC合規(guī)性預(yù)測(cè)試？隨著電氣電子技術(shù)的發(fā)展，家用電器產(chǎn)品日益普及和電子化，廣播電視、郵電通訊和計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)的日益發(fā)達(dá)，電磁環(huán)境日益復(fù)雜和惡化，使得電氣電子產(chǎn)品的電磁兼容性（EMC電磁干擾EMI與電磁抗EMS）問(wèn)題也受到各國(guó)有關(guān)部門(mén)和生產(chǎn)企業(yè)的日益重視。電子、電器產(chǎn)品的電磁兼容性（EMC）是一項(xiàng)非常重要的質(zhì)量指標(biāo)，它不只關(guān)系到產(chǎn)品本身的工作可靠性和使用安全性，而且還可能影響到其他設(shè)備和系統(tǒng)的正常工作，關(guān)系到電磁環(huán)境的保護(hù)問(wèn)題。鄭州消費(fèi)電子近場(chǎng)輻射測(cè)試方法根據(jù)天線的種類(lèi)，一種場(chǎng)會(huì)成為主導(dǎo)。
實(shí)際測(cè)量時(shí)，用一個(gè)輻射單元（探頭）進(jìn)行一維掃描（等效的看，相當(dāng)于同時(shí)激勵(lì)的狀態(tài)）并在計(jì)算機(jī)上用軟件完成各個(gè)方向上的平面波的綜合，因此，稱(chēng)其為數(shù)字緊縮場(chǎng)。這種測(cè)量方法的優(yōu)點(diǎn)是很大降低了為實(shí)現(xiàn)平面波對(duì)測(cè)量系統(tǒng)硬件的要求。該方法不只能測(cè)量典型導(dǎo)體目標(biāo)的RCS，而且能夠?qū)σ恍?shí)用導(dǎo)體目標(biāo)（如飛機(jī)、導(dǎo)彈等）小雙站角的RCS進(jìn)行測(cè)量。典型導(dǎo)體目標(biāo)（如板、球、柱）小雙站角的RCS測(cè)量已經(jīng)完成，測(cè)得的不同方向照射待測(cè)目標(biāo)后向散射方向圖（照射波傳播方向指向目標(biāo)的方向規(guī)定為0°）及空間散射方向圖與理論計(jì)算結(jié)果完全吻合；測(cè)量所得到的目標(biāo)小雙站角RCS的一定值與理論計(jì)算值相比較還有誤差。
輻射近場(chǎng)測(cè)量的研究起始于50年代，70年代中期處于推廣應(yīng)用階段（商品化階段）。目前，分布在世界各地的近場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)已有100多套。該技術(shù)的基本理論已基本成熟，這種測(cè)量方法的電參數(shù)測(cè)量精度比常規(guī)遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量方法的測(cè)量精度要高得多，而且可全天候工作，并具有較高的保密性，因此，在民用中都顯示出了它獨(dú)特的優(yōu)越性。輻射近場(chǎng)測(cè)量研究的主要成果，幾十年來(lái)，輻射近場(chǎng)測(cè)量的研究在以下4個(gè)方面取得了突破性的進(jìn)展：常規(guī)天線電參數(shù)的測(cè)量，天線近場(chǎng)測(cè)量可以給出天線各個(gè)截面的方向圖以及立體方向圖，可以分析出方向圖上的所有電參數(shù)（波束寬度、副瓣電平、零值深度、零深位置等）和天線的極化參數(shù)（軸比、傾角和旋向）以及天線的增益。遠(yuǎn)場(chǎng)分量的強(qiáng)度距離衰減二次組件。
克服難題需要對(duì)智能終端設(shè)備進(jìn)行有效的測(cè)試和測(cè)量，這樣能確保準(zhǔn)確地生成和分析信號(hào)，從而正確地測(cè)試和測(cè)量通信鏈路（如發(fā)射機(jī)和接收機(jī)）。采用的信號(hào)生成和分析解決方案應(yīng)當(dāng)提供快速的測(cè)量時(shí)間和切換速度，并且具有可擴(kuò)展性，讓測(cè)試工具可以適應(yīng)用戶不斷變化的測(cè)試需要。另外解決方案還應(yīng)具有靈活性，以確保它們支持當(dāng)前和未來(lái)的制式。有了這些解決方案后，我們才能放心的在研發(fā)、調(diào)試、驗(yàn)證中尋找出合適的、較優(yōu)的、低成本的方案從而縮短開(kāi)發(fā)周期，進(jìn)而搶先獲得消費(fèi)市場(chǎng)認(rèn)可。對(duì)近場(chǎng)似乎還沒(méi)有正式的定義，它取決于應(yīng)用本身和天線。鄭州消費(fèi)電子近場(chǎng)輻射測(cè)試方法
根據(jù)天線的種類(lèi)，某一種場(chǎng)會(huì)成為主導(dǎo)。鄭州消費(fèi)電子近場(chǎng)輻射測(cè)試方法
傳統(tǒng)的EMI輻射測(cè)試往往借助EMI接收機(jī)，在專(zhuān)業(yè)實(shí)驗(yàn)室的暗室里進(jìn)行，這固然可以對(duì)產(chǎn)品的整體EMI輻射做嚴(yán)格的測(cè)試，但往往測(cè)試周期長(zhǎng)、費(fèi)用較高，加之遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試只能測(cè)出結(jié)果，而不能給出具體輻射的位置，所以給產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和改善帶來(lái)不小的麻煩。隨著測(cè)試測(cè)量?jī)x器的發(fā)展，近幾年，近場(chǎng)探頭和頻譜分析儀的組合個(gè)EMI輻射的測(cè)試定位帶來(lái)了新的方向。為采用一個(gè)近場(chǎng)探頭和實(shí)時(shí)頻譜分析儀對(duì)一個(gè)電路進(jìn)行輻射源的查找，我們可以很清楚的觀測(cè)到在近場(chǎng)探頭附件有四個(gè)主要頻率的輻射，這對(duì)于硬件工程師進(jìn)行設(shè)計(jì)的改善是具有極大幫助的。鄭州消費(fèi)電子近場(chǎng)輻射測(cè)試方法
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