射頻抗干擾(Desense)近場(chǎng)電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場(chǎng)掃描診斷分析系統(tǒng)使用電場(chǎng)近場(chǎng)探頭(H-Probe)、高低頻磁場(chǎng)近場(chǎng)探頭(H-Probe)套裝，支持0.01mm分辨率步進(jìn)電磁掃描，能快速有效的預(yù)防、解決接收感度惡化（DegradationofSensitivity）問(wèn)題，使得產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)化設(shè)計(jì)，滿足研發(fā)級(jí)正向設(shè)計(jì)、整機(jī)、板級(jí)、芯片的射頻抗干擾Desense問(wèn)題自動(dòng)診斷分析，普遍用于2/3/4/5G手機(jī)、藍(lán)牙、WiFi、物聯(lián)網(wǎng)無(wú)線終端模塊等行業(yè)，在電磁兼容可靠性正向研發(fā)、射頻抗干擾源頭定位、器件選型射頻抗干擾評(píng)估、更新方案設(shè)計(jì)的射頻抗干擾性能評(píng)估、天線仿真驗(yàn)證等方面。工程師甚至可以在診斷一個(gè)間歇故障之后，對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行更改，很快再進(jìn)行測(cè)試。武漢快速近場(chǎng)掃描儀器廠家
近場(chǎng)掃描儀的特點(diǎn)：1.適用于大型揚(yáng)聲器：由于揚(yáng)聲器不移動(dòng)，因此可以測(cè)量大型揚(yáng)聲器，并由吊車(chē)從天花板上支撐。2.避免遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量的空氣衍射問(wèn)題：大型揚(yáng)聲器的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量需要大型消聲室以確保遠(yuǎn)場(chǎng)條件。這樣的測(cè)量將遭受由空氣在距離和時(shí)間上的溫度差異引起的衍射問(wèn)題，導(dǎo)致較高頻帶中的相位響應(yīng)出現(xiàn)高誤差。在5m測(cè)量距離上，只2°C的溫度變化將在10kHz處產(chǎn)生180度的相位誤差。3.不需要消聲室可以使用場(chǎng)分離技術(shù)將輻射聲從房間反射聲中分離出來(lái)。比消聲室測(cè)量精度更高100Hz以下，不需要房間校正曲線。武漢快速近場(chǎng)掃描儀器廠家在第三代芯片組中，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)采用了一種不同的技術(shù)并升級(jí)了傳輸能力。
散射近場(chǎng)測(cè)量：1.天線口徑場(chǎng)分布診斷：天線口徑場(chǎng)分布診斷是通過(guò)測(cè)量天線近區(qū)場(chǎng)的分布逆推出天線口徑場(chǎng)分布，從而判斷出口徑場(chǎng)畸變處所對(duì)應(yīng)的輻射單元，這就是天線口徑分布診斷的基本原理。該方法對(duì)具有一維圓對(duì)稱(chēng)天線口徑分布的分析是可靠的，尤其對(duì)相控陣天線的分析與測(cè)量已有了充分的可信度。2.測(cè)量精度及誤差分析：輻射近場(chǎng)測(cè)量的研究與誤差分析的探討是同時(shí)進(jìn)行的，研究結(jié)果表明：輻射近場(chǎng)測(cè)量的主要誤差源為18項(xiàng)，大致分為4個(gè)方面，即探頭誤差、機(jī)械掃描定位誤差、測(cè)量系統(tǒng)誤差以及測(cè)量環(huán)境誤差。對(duì)于平面輻射近場(chǎng)測(cè)量的誤差分析已經(jīng)完成，計(jì)算機(jī)模擬及各項(xiàng)誤差的上界也已給出；柱面、球面輻射近場(chǎng)測(cè)量的誤差分析尚未完成。
某一大型半導(dǎo)體廠商在解串器的并行總線上實(shí)現(xiàn)了SSCG功能。SSCG功能能夠通過(guò)將輻射峰值能量擴(kuò)展到更寬的頻帶上來(lái)減少輻射。，頻率變化發(fā)生在額定時(shí)鐘中心頻率（中心擴(kuò)頻調(diào)制）附近，擴(kuò)展的頻譜為正或負(fù)1.0%（fdev）。在接收器并行總線端，輸出以千赫茲（fmod）的調(diào)制速率隨時(shí)間調(diào)制時(shí)鐘頻率和數(shù)據(jù)頻譜。定制的串行解串器芯片組的目標(biāo)客戶(hù)是要求所安裝電子設(shè)備具有低EMI輻射特性的汽車(chē)廠商。該公司期望用令人信服的量化證據(jù)來(lái)向汽車(chē)廠商說(shuō)明SSCG功能可以有效降低EMI輻射。為了實(shí)現(xiàn)這個(gè)目標(biāo)，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)首先在SSCG功能為“關(guān)”的情況下將待測(cè)器件（DUT）放其內(nèi)部掃描儀上，加電，然后在PC中捕獲輻射特性。為了進(jìn)行有效的對(duì)比，在打開(kāi)SSCG功能的情況下，對(duì)同一待測(cè)器件進(jìn)行了掃描。高信噪比：近場(chǎng)中聲壓級(jí)高，對(duì)環(huán)境噪聲的要求不需要太嚴(yán)格。
近場(chǎng)掃描分系統(tǒng)是一種用于化學(xué)領(lǐng)域的分析儀器，于2016年12月1日啟用。用擴(kuò)展光源照射光纖輸入端面，而在光纖輸出端面上逐點(diǎn)測(cè)量出射度，從而測(cè)出光纖折射率分布以及其他幾何特性參數(shù)的測(cè)試方法。也可用于測(cè)量模場(chǎng)直徑，其條件是要使輸入端面照明只激勵(lì)光纖基模。此法被推薦作為幾何參數(shù)測(cè)定的基準(zhǔn)測(cè)試法和單模光纖模場(chǎng)直徑的替代測(cè)試法，也被推薦作為多模光纖幾何參數(shù)和折射率分布測(cè)定的替代測(cè)試法。低頻測(cè)量更準(zhǔn)確，不需要房間校準(zhǔn)曲線。掃描系統(tǒng)以疊加在Gerber文件上的形式顯示空間輻射特性。武漢快速近場(chǎng)掃描儀器廠家
用戶(hù)可以自行對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行測(cè)試，而不必依賴(lài)另外一個(gè)部門(mén)、測(cè)試工程師或進(jìn)行耗時(shí)的場(chǎng)外測(cè)試。武漢快速近場(chǎng)掃描儀器廠家
輻射近場(chǎng)測(cè)量需要解決的問(wèn)題：（1）考慮探頭與被測(cè)天線多次散射耦合的理論公式：在前述的理論中，所有的理論公式都是在忽略多次散射耦合條件下而得出的，這些公式對(duì)常規(guī)天線的測(cè)量有一定的精度，但對(duì)低副瓣或很低副瓣天線測(cè)量就必需考慮這些因素，因此，需要建立嚴(yán)格的耦合方程。（2）近場(chǎng)測(cè)量對(duì)天線口徑場(chǎng)診斷的精度和速度：近場(chǎng)測(cè)量對(duì)常規(guī)陣列天線口徑場(chǎng)的診斷有較好的診斷精度，但對(duì)于很低副瓣天線陣列而言，診斷精度和速度還需要進(jìn)一步研究。（3）輻射近場(chǎng)掃頻測(cè)量的研究：就一般情況而言，天線都在一個(gè)頻帶內(nèi)工作，因此，各項(xiàng)電指標(biāo)都是頻率的函數(shù)，為了快速獲得各個(gè)頻率點(diǎn)的電指標(biāo)，就需要進(jìn)行掃頻測(cè)量。掃頻測(cè)量的理論與點(diǎn)頻的理論完全一樣，只是在探頭掃描時(shí)，收發(fā)測(cè)量系統(tǒng)作掃頻測(cè)量。武漢快速近場(chǎng)掃描儀器廠家