近場掃描儀的特點(diǎn)：1.不需要消聲室：可以使用場分離技術(shù)將輻射聲從房間反射聲中分離出來。2.比消聲室測量精度更高100Hz以下，不需要房間校正曲線。3.快速測量：標(biāo)準(zhǔn)3D聲學(xué)測量，可在不到20分鐘內(nèi)完成典型兩分頻系統(tǒng)的聲功率測量。4.高信噪比：近場中聲壓級高，對環(huán)境噪聲的要求不需要太嚴(yán)格。全部的輻射數(shù)據(jù)集從近場測量獲得的輻射數(shù)據(jù)集中可獲取3D空間中任何點(diǎn)的SPL。近場掃描儀使用移動(dòng)的麥克風(fēng)來掃描整體聲源（如揚(yáng)聲器系統(tǒng)或安裝在障板上的換能器）近場中的聲壓。被測設(shè)備（<500kg）在掃描過程中不會(huì)移動(dòng)，這樣，非消聲環(huán)境中的反射就可以保持一致并通過新穎的分析軟件進(jìn)行監(jiān)測，該軟件使用聲學(xué)全息和場分離技術(shù)來提取直達(dá)聲并減少室內(nèi)反射。近場掃描分系統(tǒng)是一種用于化學(xué)領(lǐng)域的分析儀器，于2016年12月1日啟用。山東電磁波近場掃描優(yōu)點(diǎn)
為了量化比較半雙工解串器與新一代全雙工設(shè)計(jì)的輻射特性，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)再次使用了內(nèi)部的EMI極近場掃描儀。對于平面輻射近場測量的誤差分析已經(jīng)完成，計(jì)算機(jī)模擬及各項(xiàng)誤差的上界也已給出；柱面、球面輻射近場測量的誤差分析尚未完成。他們將原來的半雙工板放在掃描儀上，進(jìn)行基線測量。對待測器件加電后，他們在PC上開啟了掃描儀。采用同樣的測試設(shè)置，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)用新一代全雙工芯片組板替代了基線板，同時(shí)也針對每一條特性保持了同樣的規(guī)格。如上文所述，需注意的是，空間掃描疊加在每次生成的Gerber設(shè)計(jì)文件上，以幫助工程師可以確定任何存在的輻射源。長沙連續(xù)近場掃描儀器廠家借助掃描系統(tǒng)，電路板設(shè)計(jì)工程師可以預(yù)先測試和解決電磁兼容問題。
近場掃描系統(tǒng)的制作方法：測量一件介質(zhì)對電磁波的響應(yīng)特征，需要檢測穿過該介質(zhì)后的電磁波其空間各個(gè)點(diǎn)的電磁特性，然后利用一定的處理設(shè)備將檢測到的空間各點(diǎn)的電磁特性值記錄下來并進(jìn)行分析，對比未穿過介質(zhì)以前的電磁波，可以計(jì)算出介質(zhì)對電磁波的響應(yīng)特性。以上過程需要通過三維近場掃描系統(tǒng)完成。現(xiàn)有的三維近場掃描系統(tǒng)I所示，主要包括采集單元2、分析單元3、處理單元6以及移動(dòng)單元4和控制單元5。其中，采集單元2如接收天線用于采集穿過介質(zhì)I后的電磁波在空間各個(gè)點(diǎn)上的電磁參數(shù)，移動(dòng)單元4例如電機(jī)、滑軌則輔助采集單元2在三維空間上以一定的步長上下、左右或前后移動(dòng)，控制單元5用來驅(qū)動(dòng)移動(dòng)單元4的啟動(dòng)、停止等。
射頻干擾（RFI）近場電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場掃描診斷分析系統(tǒng)支持診斷和分析9kHz-40GHz射頻干擾（RFI）電磁波所帶來的干擾問題，使用電場近場探頭(H-Probe)、高低頻磁場近場探頭(H-Probe)套裝，支持0.01mm分辨率步進(jìn)電磁掃描，支持-90dBm以上射頻信號分析。支持頻率分布、功率分布、頻譜分布、諧波分布等多射頻干擾信號可視化分析功能，滿足研發(fā)級正向設(shè)計(jì)、整機(jī)、板級、芯片的輻射雜散問題自動(dòng)診斷分析，普遍用于2/3/4/5G手機(jī)、藍(lán)牙、WiFi、物聯(lián)網(wǎng)無線終端模塊等行業(yè)，在電磁兼容可靠性正向研發(fā)、輻射雜散評估、輻射雜散干擾源頭定位、替代物料輻射雜散評估、器件選型輻射雜散評估、成本降低輻射雜散性能評估、更新方案設(shè)計(jì)的輻射雜散性能評估、電磁仿真驗(yàn)證等方面。測量將遭受由空氣在距離和時(shí)間上的溫度差異引起的衍射問題。
PCB近場掃描儀FLS106PCBset的目的是，方便近場探頭檢測電子元件組的磁場或電場。掃描儀和近場探頭系列（從SX到LF）的組合可以測量頻率范圍為100kHz-10GHz的電場或磁場。該近場探頭可以在元件組上方沿三個(gè)軸運(yùn)動(dòng)。近場探頭在受試設(shè)備上方的光學(xué)定位可以在數(shù)字顯微相機(jī)的協(xié)助下完成。掃描儀支持防撞功能，在探頭沿垂直方向運(yùn)動(dòng)觸碰到受試設(shè)備時(shí)停止運(yùn)動(dòng)。PCB近場掃描儀FLS106PCBset的目的是方便近場探頭檢測電子元件組的磁場和電場，掃描儀和近場探頭系列的組合可以測量頻率范圍為100KHz-10GHz的電磁和磁場。該近場探頭可以在元件組上方沿三個(gè)軸運(yùn)動(dòng)。近場探頭在受測設(shè)備上方的光學(xué)定位可以在數(shù)字顯微鏡的協(xié)助下完成，掃描支持防撞功能，在探頭沿垂直方向運(yùn)動(dòng)觸碰到受試設(shè)備時(shí)停止運(yùn)動(dòng)，在電腦上通過ChipScan-Scanner軟件可以控制FLS106PCB型掃描儀。這款軟件同時(shí)可以從頻譜分析儀中讀取測量數(shù)據(jù)（2D或3D)圖像，以及輸出測量數(shù)據(jù)（CSV文件）。工程師甚至可以在診斷一個(gè)間歇故障之后，對設(shè)計(jì)進(jìn)行更改，很快再進(jìn)行測試。長沙連續(xù)近場掃描儀器廠家
對待測器件加電后，他們在PC上開啟了掃描儀。山東電磁波近場掃描優(yōu)點(diǎn)
近場掃描分系統(tǒng)是一種用于化學(xué)領(lǐng)域的分析儀器，于2016年12月1日啟用。用擴(kuò)展光源照射光纖輸入端面，而在光纖輸出端面上逐點(diǎn)測量出射度，從而測出光纖折射率分布以及其他幾何特性參數(shù)的測試方法。也可用于測量模場直徑，其條件是要使輸入端面照明只激勵(lì)光纖基模。此法被推薦作為幾何參數(shù)測定的基準(zhǔn)測試法和單模光纖模場直徑的替代測試法，也被推薦作為多模光纖幾何參數(shù)和折射率分布測定的替代測試法。低頻測量更準(zhǔn)確，不需要房間校準(zhǔn)曲線。山東電磁波近場掃描優(yōu)點(diǎn)