測試室為出EMI報告而開展的掃描通常是在特殊條件下進行的，你的公司實驗室也許無法復制這些條件。舉例來說，待測設備（DUT）可能放在一個轉盤上，以便于從多個角度收集信號。這種方位角信息是很有用的，因為它能指示問題發(fā)生的DUT區(qū)域?；蛘逧MI測試室可能在校準過的射頻房內開展他們的測量，并報告作為強場的測量結果。幸運的是，你并不需要完全復制測試室的條件才能排查EMI測試故障。與在高度受控的EMI測試線上執(zhí)行的一定測量不同，可以使用測試報告中的信息、深入理解用于產生報告的測量技術以及對待測設備周邊的相對觀察以隔離問題源并估計糾正有效性來開展問題的排查工作。MDO還能捕獲或觀察頻譜和時域軌跡。重慶 集成電路EMI診斷方法
起初接觸產品EMI對策修改時﹐會聽到很好EMI工程師說把所有EMI對策拿掉﹐就可以通過測試。初聽以為是句玩笑話﹐如今回想這是很寶貴的經驗談。而后亦聽到許多EMI工程師談到類似的經驗。本文中將舉出實際的例子﹐讓讀者更加了解EMI的對策觀念。一般提到如何解決EMI問題﹐大多說是casebycase，當然從對策上而言﹐每一個產品的特性及電路板布線（layout）情況不同﹐故無法用幾套方法而解決所有EMI的問題﹐但是長久以來﹐我們一直想要把處理EMI問題并做適當的對策﹐另外也提供專業(yè)的EMI工程師一種參考方法。在此我們把電磁干擾與對策的一些心得經驗整理﹐希望能對讀者有些幫助。重慶 集成電路EMI診斷方法待測設備（DUT）可能放在一個轉盤上，以 便于從多個角度收集信號。
改變帶寬法：通過改變頻譜分析儀分辨帶寬，信號的幅值可能也可能不發(fā)生變化。一個真正的窄帶或連續(xù)波信號的幅值將不發(fā)生變化。由持續(xù)時間為零、幅值無限大的脈沖產生的純寬帶發(fā)射，將產生量值為20log（BW1/BW2）的變化。然而在確定發(fā)射是寬帶還是窄帶的過程中，實際上允許與理想情況存在偏差。測試人員在使用這種方法時不可避免地要運用較好的工程經驗進行判斷。峰值／平均值比較法：同帶寬改變法相似，這種方法是以信號幅值的變化為基礎的。窄帶信號的幅值電平在采用峰值或平均值檢波時基本保持不變，而寬帶信號在用平均值檢波時幅值將變小。
電磁輻射干擾的遠場測量是指在半電波暗室或者EMC開闊場進行的測量，測量天線與被測物的距離一般為3米或3米以上，給出的結果是一張頻譜圖，即各個頻率點的電磁輻射干擾強度。標準GB13837-1997（CISPR13）和GB4343-1995（CISPR14）規(guī)定，應分別測試EUT外接連線，如電源線、AV線、耳機線、話筒線等線纜的干擾功率。傳導干擾是測試EUT運行過程中端口干擾電壓，包括電源端口、射頻端口、天線端口、電信端口等。如果被測設備有一個或者幾個頻率點的電磁干擾超過了標準的限值，被測設備就不符合EMC標準要求。準峰值根據信號的持續(xù)時間和重復率對信號進行加權。
EMC測試伴隨著產品研制的全過程，眾所周知，一個產品的電磁兼容性能是否達標靠什么證明呢？無疑是試驗，試驗是檢驗產品性能好壞的單獨手段。然而，EMC試驗不單單承擔對產品性能終檢驗的任務，在產品設計階段也需要有輔助試驗手段檢驗每一個設計思想及每一項設計措施是否正確。特別是復雜的電子系統，在方案論證階段需要制定EMC試驗規(guī)范，在單機設備初樣、正樣研制階段需要對每項EMC指標進行測量，組成系統之后需要進行系統級的EMC測試。系統級EMC測試的目的一方面檢驗系統自身兼容性，另一方面檢驗該電子系統與特定的工作環(huán)境是否兼容。全世界幾乎所有有關部門都在嘗試控制他們國家生產的電子產品產生的有害電磁干擾（EMI）。廣州EMI診斷原理
混合域示波器（MDO）的推出使情況有了改觀，它能提供同步的而且與時間相關聯的觀察和測量功能。重慶 集成電路EMI診斷方法
EMI診斷在電子設備設計、調試階段，隨時進行EMI診斷是保證電子設備通過EMC認證行之有效且費用低的手段。如果終產品EMC認證不合格，設計者需要重新進行EMI診斷，找出EMI問題的根源，但此時可用的整改手段已經不多，進行重新設計，費用將倍增。由此可見EMI診斷是日常工作中經常進行的，而EMI預認證以及認證測試只有在電子產品定型階段才進行。傳導類EMI可以用示波器追蹤，同時需要用頻譜儀測試，需要兩種儀器結合運用。結合示波器中現有的在EMI排查方面的分析工具，將幫助您快速發(fā)現您設計中的潛在問題。重慶 集成電路EMI診斷方法