眾所周知，在離開被測目標(biāo)3λ～5λ（λ為工作波長）距離上測量該區(qū)域電磁場的技術(shù)稱為近場測量技術(shù)。如果被測目標(biāo)是輻射器，則稱為輻射近場測量；若被測目標(biāo)是散射體，則稱為散射近場測量；對測得散射體的散射近場信息進(jìn)行反演或逆推就能得到目標(biāo)的像函數(shù)，這就是目標(biāo)近場成像。但是，截止目前為止，關(guān)于輻射、散射近場測量以及近場成像技術(shù)溶為一體的綜述性文章還未見到公開的報(bào)導(dǎo)，這對從事這方面研究的學(xué)者無疑是一種遺憾。為使同行們能全部地了解該技術(shù)的發(fā)展動(dòng)態(tài)，該文概述了近幾十年來關(guān)于輻射、散射近場測量及近場成像技術(shù)前人所做的工作及其新的進(jìn)展，并指出了未來研究的主要方向。對測試結(jié)果進(jìn)行比較之后，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)發(fā)現(xiàn)由于使用了SSCG功能導(dǎo)致電磁輻射明顯減少。高精度近場掃描方案系統(tǒng)
近場掃描系統(tǒng)的制作方法：其中，采集單元2如接收天線用于采集穿過介質(zhì)I后的電磁波在空間各個(gè)點(diǎn)上的電磁參數(shù)，移動(dòng)單元4例如電機(jī)、滑軌則輔助采集單元2在三維空間上以一定的步長上下、左右或前后移動(dòng)，控制單元5用來驅(qū)動(dòng)移動(dòng)單元4的啟動(dòng)、停止等。采集到的電磁參數(shù)被送到分析單元3，常用的分析單元3如矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(即PNA)，可將電磁參數(shù)表征的模擬信號轉(zhuǎn)化為處理單元6所能識別的數(shù)字信號。這里的處理單元6具備處理運(yùn)算能力，可將數(shù)字信號通過一定的運(yùn)算和處理，計(jì)算出空間各點(diǎn)的電磁參數(shù)分布特性，終得出該介質(zhì)I對電磁波的響應(yīng)特性。由于需要采集空間中非常多的離散點(diǎn)，因此整個(gè)采集過程會(huì)非常漫長，實(shí)驗(yàn)人員不可能始終在掃描系統(tǒng)守候直到掃描完成。但是一旦實(shí)驗(yàn)人員不在現(xiàn)場，當(dāng)掃描系統(tǒng)出現(xiàn)異常如移動(dòng)電機(jī)燒壞、室內(nèi)溫度過高等情況時(shí)，將造成系統(tǒng)損壞甚至其他不可預(yù)測的危害。高精度近場掃描方案系統(tǒng)全部的輻射數(shù)據(jù)集從近場測量獲得的輻射數(shù)據(jù)集中可獲取3D空間中任何點(diǎn)的SPL。
一種電磁場近場掃描裝置與掃描方法，掃描裝置結(jié)構(gòu)簡單，通過探頭實(shí)現(xiàn)對待測物品的電磁場近場數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確采集，通過空間移動(dòng)平臺和計(jì)算機(jī)協(xié)調(diào)工作實(shí)現(xiàn)對探頭位置的準(zhǔn)確控制，通過顯微攝像裝置準(zhǔn)確監(jiān)測探頭與待測物品之間的距離，從而能夠準(zhǔn)確獲得待測物品的電磁場近場掃描結(jié)果，另外，探頭在掃描待測物品電磁場近場時(shí)，采用逐點(diǎn)掃描，實(shí)時(shí)采集傳輸，即每一次探頭移動(dòng)，均采集一次數(shù)據(jù)并及時(shí)將采集到的數(shù)據(jù)發(fā)送至信號分析裝置，避免掃描過程中，掃描裝置自身對待測物品電磁場近場的影響，以及數(shù)據(jù)采集延時(shí)對信號準(zhǔn)確度的影響，從而更進(jìn)一步提高了掃描的精度和掃描結(jié)果的準(zhǔn)確度。
一種電磁場近場掃描裝置，包括探頭、空間移動(dòng)平臺、顯微攝像裝置、信號分析裝置和計(jì)算機(jī)；所述探頭和所述計(jì)算機(jī)分別與所述信號分析裝置連接，所述空間移動(dòng)平臺和所述顯微攝像裝置分別與所述計(jì)算機(jī)連接，所述探頭固定于所述空間移動(dòng)平臺；所述計(jì)算機(jī)發(fā)送指令，控制所述空間移動(dòng)平臺空間移動(dòng)，固定于所述空間移動(dòng)平臺的探頭移動(dòng)，逐點(diǎn)掃描待測物品的電磁場近場，實(shí)時(shí)采集待測物品電磁場近場的電信號數(shù)據(jù)，并將采集到的電信號數(shù)據(jù)發(fā)送至所述信號分析裝置，所述信號分析裝置分析所述電信號數(shù)據(jù)，獲取信號測量數(shù)據(jù)，并將所述信號測量數(shù)據(jù)發(fā)送至所述計(jì)算機(jī)，所述顯微攝像裝置監(jiān)測所述探頭與所述待測物品之間的距離，并將監(jiān)測獲得的距離數(shù)據(jù)發(fā)送至所述計(jì)算機(jī)，所述計(jì)算機(jī)根據(jù)所述信號測量數(shù)據(jù)和所述距離數(shù)據(jù)，處理獲得待測物品的電磁場近場掃描結(jié)果。對測得散射體的散射近場信息進(jìn)行反演或逆推就能得到目標(biāo)的像函數(shù)，這就是目標(biāo)近場成像。
輻射近場測量需要解決的問題：1.時(shí)域輻射近場測量的研究：為了反映脈沖工作狀態(tài)和消除環(huán)境及其他因素對測量數(shù)據(jù)的影響，時(shí)域測量是一個(gè)良好的解決此類問題的途徑，但目前處于研究階段。2.無相位的輻射近場測量的研究：前述的輻射近場測量方法都需要測量出近場的相位和幅度，才能利用近場理論計(jì)算出天線的遠(yuǎn)場電特性，為了簡化計(jì)算公式和測量系統(tǒng)以及降低測量時(shí)間與測量的相位誤差（在頻率f很高的情況下，即f＞80GHz，相位的測量誤差是很大的），于是，有學(xué)者提出只用近場測量值的幅度來重建天線遠(yuǎn)場的方法。近場掃描分系統(tǒng)是一種用于化學(xué)領(lǐng)域的分析儀器，于2016年12月1日啟用。北京電磁波近場掃描儀器價(jià)格
某一大型半導(dǎo)體廠商在解串器的并行總線上實(shí)現(xiàn)了SSCG功能。高精度近場掃描方案系統(tǒng)
EMI近場輻射特性：新一代串行解串器例子這是同一家半導(dǎo)體供應(yīng)商的第二個(gè)例子，該公司開發(fā)了一個(gè)通過串行解串器進(jìn)行點(diǎn)到點(diǎn)傳輸?shù)牡诙酒M解決方案。在第三代芯片組中，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)采用了一種不同的技術(shù)并升級了傳輸能力。他們將雙向控制通道一起嵌入高速串行鏈路中，從而實(shí)現(xiàn)了雙向傳輸（全雙工）。對測試結(jié)果進(jìn)行比較之后，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)發(fā)現(xiàn)由于使用了SSCG功能導(dǎo)致電磁輻射顯著減少。汽車電子工程師很大的挑戰(zhàn)在于減少EMI輻射?？蛻糁С謭F(tuán)隊(duì)每次向汽車廠商客戶展示這些結(jié)果時(shí)，他們普遍都表現(xiàn)出了極大的興趣。任何降低EMI的功能（此案例中為SSCG功能）都可以縮短上市時(shí)間、降低屏蔽和成本支出。高精度近場掃描方案系統(tǒng)