掃描系統(tǒng)由一個(gè)掃描儀、小型適配器、一個(gè)客戶提供的頻譜分析儀和運(yùn)行掃描系統(tǒng)軟件的PC組成。臺(tái)式掃描儀包括2，436條回路，可產(chǎn)生1，218個(gè)間隔為7.5mm的磁場(chǎng)探針，形成一個(gè)電子開關(guān)陣列并提供高達(dá)3.75mm的分辨率。系統(tǒng)工作頻率范圍為50kHz至4GHz，通過可選的軟件密鑰啟用。這樣，用戶就可以自行對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行測(cè)試，而不必依賴另外一個(gè)部門、測(cè)試工程師或進(jìn)行耗時(shí)的場(chǎng)外測(cè)試。工程師甚至可以在診斷一個(gè)間歇故障之后，對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行更改，很快再進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試的結(jié)果可以對(duì)設(shè)計(jì)更改的影響進(jìn)行精確的驗(yàn)證。目前為止，關(guān)于輻射、散射近場(chǎng)測(cè)量以及近場(chǎng)成像技術(shù)溶為一體的綜述性文章還未見到公開的報(bào)導(dǎo)。西安自動(dòng)連續(xù)近場(chǎng)掃描測(cè)試儀
電磁場(chǎng)近場(chǎng)掃描裝置包括探頭、空間移動(dòng)平臺(tái)、顯微攝像裝置、信號(hào)分析裝置和計(jì)算機(jī)，探頭固定于空間移動(dòng)平臺(tái)，空間移動(dòng)平臺(tái)根據(jù)計(jì)算機(jī)的指令移動(dòng)，以使探頭移動(dòng)，探頭逐點(diǎn)掃描待測(cè)物品的電磁場(chǎng)近場(chǎng)，獲得電信號(hào)數(shù)據(jù)(例如電壓數(shù)據(jù)、電流數(shù)據(jù)等)，信號(hào)分析裝置分析電信號(hào)數(shù)據(jù)獲得測(cè)量數(shù)據(jù)，同時(shí)顯微攝像裝置準(zhǔn)確監(jiān)測(cè)探頭在移動(dòng)過程中與待測(cè)物品之間的距離，獲得距離數(shù)據(jù)，計(jì)算機(jī)根據(jù)測(cè)量數(shù)據(jù)和距離數(shù)據(jù)處理獲得待測(cè)物品的電磁場(chǎng)近場(chǎng)掃描結(jié)果。另外本發(fā)明還提供上述電磁場(chǎng)近場(chǎng)掃描裝置的掃描方法。北京可視化近場(chǎng)掃描應(yīng)用全部的輻射數(shù)據(jù)集從近場(chǎng)測(cè)量獲得的輻射數(shù)據(jù)集中可獲取3D空間中任何點(diǎn)的SPL。
近場(chǎng)掃描分系統(tǒng)是一種用于化學(xué)領(lǐng)域的分析儀器，于2016年12月1日啟用。用擴(kuò)展光源照射光纖輸入端面，而在光纖輸出端面上逐點(diǎn)測(cè)量出射度，從而測(cè)出光纖折射率分布以及其他幾何特性參數(shù)的測(cè)試方法。也可用于測(cè)量模場(chǎng)直徑，其條件是要使輸入端面照明只激勵(lì)光纖基模。此法被推薦作為幾何參數(shù)測(cè)定的基準(zhǔn)測(cè)試法和單模光纖模場(chǎng)直徑的替代測(cè)試法，也被推薦作為多模光纖幾何參數(shù)和折射率分布測(cè)定的替代測(cè)試法。低頻測(cè)量更準(zhǔn)確，不需要房間校準(zhǔn)曲線。
IC高頻近場(chǎng)掃描儀的日常使用和保養(yǎng)都包括哪些內(nèi)容：1.一旦IC高頻近場(chǎng)掃描儀通電后，千萬不要熱插拔SCSI、EPP接口的電纜，這樣會(huì)損壞掃描儀或計(jì)算機(jī)，當(dāng)然USB接口除外，因?yàn)樗旧砭椭С譄岵灏巍?.掃描儀在工作時(shí)請(qǐng)不要中途切斷電源，一般要等到掃描儀的鏡組完全歸位后，再切斷電源，這對(duì)掃描儀電路芯片的正常工作是非常有意義的。3.由于一些CCD的掃描儀可以掃小型立體物品，所儀在掃描時(shí)應(yīng)當(dāng)注意：放置鋒利物品時(shí)不要隨便移動(dòng)以免劃傷玻璃，包括反射稿上的釘書針；放下上蓋時(shí)不要用力過猛，以免打碎玻璃。對(duì)于供應(yīng)商而言，極近場(chǎng)EMI掃描技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)極具說服力的頻譜掃描。
射頻抗干擾(Desense)近場(chǎng)電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場(chǎng)掃描診斷分析系統(tǒng)使用電場(chǎng)近場(chǎng)探頭(H-Probe)、高低頻磁場(chǎng)近場(chǎng)探頭(H-Probe)套裝，支持0.01mm分辨率步進(jìn)電磁掃描，能快速有效的預(yù)防、解決接收感度惡化（DegradationofSensitivity）問題，使得產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)化設(shè)計(jì)，滿足研發(fā)級(jí)正向設(shè)計(jì)、整機(jī)、板級(jí)、芯片的射頻抗干擾Desense問題自動(dòng)診斷分析，普遍用于2/3/4/5G手機(jī)、藍(lán)牙、WiFi、物聯(lián)網(wǎng)無線終端模塊等行業(yè)，在電磁兼容可靠性正向研發(fā)、射頻抗干擾源頭定位、器件選型射頻抗干擾評(píng)估、更新方案設(shè)計(jì)的射頻抗干擾性能評(píng)估、天線仿真驗(yàn)證等方面。汽車電子工程師很大的挑戰(zhàn)在于減少EMI輻射。江蘇連續(xù)近場(chǎng)掃描功能
低頻測(cè)量更準(zhǔn)確，不需要房間校準(zhǔn)曲線。西安自動(dòng)連續(xù)近場(chǎng)掃描測(cè)試儀
EMI近場(chǎng)輻射特性：新一代串行解串器例子這是同一家半導(dǎo)體供應(yīng)商的第二個(gè)例子，該公司開發(fā)了一個(gè)通過串行解串器進(jìn)行點(diǎn)到點(diǎn)傳輸?shù)牡诙酒M解決方案。在第三代芯片組中，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)采用了一種不同的技術(shù)并升級(jí)了傳輸能力。他們將雙向控制通道一起嵌入高速串行鏈路中，從而實(shí)現(xiàn)了雙向傳輸（全雙工）。對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比較之后，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)發(fā)現(xiàn)由于使用了SSCG功能導(dǎo)致電磁輻射顯著減少。汽車電子工程師很大的挑戰(zhàn)在于減少EMI輻射?？蛻糁С謭F(tuán)隊(duì)每次向汽車廠商客戶展示這些結(jié)果時(shí)，他們普遍都表現(xiàn)出了極大的興趣。任何降低EMI的功能（此案例中為SSCG功能）都可以縮短上市時(shí)間、降低屏蔽和成本支出。西安自動(dòng)連續(xù)近場(chǎng)掃描測(cè)試儀