多功能吞吐量性能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6整體介紹：當(dāng)藍(lán)牙、WiFi無線產(chǎn)品存在設(shè)計(jì)缺陷時(shí)，很容易導(dǎo)致其在使用過程中受到外部環(huán)境的電磁干擾。電磁干擾會(huì)影響數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性，從而影響用戶的體驗(yàn)感。在電磁干擾環(huán)境現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)試受多方條件制約變得非常困難，通過將現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境引入實(shí)驗(yàn)室環(huán)境進(jìn)行吞吐量性能測(cè)試仿真復(fù)現(xiàn)問題，對(duì)提供性能改進(jìn)對(duì)策具有重要意義。系統(tǒng)環(huán)境采用小型化或標(biāo)準(zhǔn)電波暗室，通過自動(dòng)化測(cè)試軟件集成矢量源、綜測(cè)儀、頻譜采存放設(shè)備、頻譜儀、功放、天線、轉(zhuǎn)臺(tái)、場(chǎng)強(qiáng)儀等設(shè)備，實(shí)現(xiàn)對(duì)無線產(chǎn)品的電磁干擾發(fā)射強(qiáng)度控制和吞吐量等性能指標(biāo)的監(jiān)控，支持客戶自定義監(jiān)控需求。一般來說我們把菲涅耳衍射稱為近場(chǎng)衍射。山東日本MIC輻射雜散優(yōu)勢(shì)
可視化輻射抗擾度診斷分析系統(tǒng)—IS32整體介紹：帶無線射頻功能的電子產(chǎn)品，除了要解決常規(guī)EMC干擾問題外， 射頻電路和天線與產(chǎn)品中各電路走線、功能組件、關(guān)鍵IC和元器件等 部件之間，也會(huì)發(fā)生電磁干擾問題。主要表現(xiàn)為射頻相關(guān)信號(hào)干擾其 他部件，導(dǎo)致性能功能的下降或喪失。另外，由于產(chǎn)品布局布線、器 件選型不佳等原因，產(chǎn)品內(nèi)一些器件在工作時(shí)產(chǎn)生的無意發(fā)射電磁噪 聲也會(huì)干擾到射頻電路和天線，導(dǎo)致射頻靈敏度指標(biāo)的下降，從而影 響產(chǎn)品的無線性能。以上兩類問題的解決，必須要能夠基于實(shí)際場(chǎng)景 評(píng)估干擾風(fēng)險(xiǎn)，準(zhǔn)確分析關(guān)聯(lián)器件和部件的輻射特性及射頻抗擾度特 性?？梢暬椛淇箶_度診斷分析系統(tǒng)可用于對(duì)芯片、元器件、模組 件、FPC、PCBA等部件和整機(jī)進(jìn)行近場(chǎng)輻射抗擾度故障模擬、自動(dòng)化 測(cè)量、可視化呈現(xiàn)、是解決復(fù)雜電磁輻射抗擾度問題的有效工具。山東GSM輻射雜散優(yōu)勢(shì)以焦斑為中心，落在其前后半個(gè)瑞利長度范圍外的光場(chǎng)為近場(chǎng)，否則稱為遠(yuǎn)場(chǎng)。
一種電磁場(chǎng)近場(chǎng)掃描裝置，包括探頭、空間移動(dòng)平臺(tái)、顯微攝像裝置、信號(hào)分析裝置和計(jì)算機(jī)；所述探頭和所述計(jì)算機(jī)分別與所述信號(hào)分析裝置連接，所述空間移動(dòng)平臺(tái)和所述顯微攝像裝置分別與所述計(jì)算機(jī)連接，所述探頭固定于所述空間移動(dòng)平臺(tái)；所述計(jì)算機(jī)發(fā)送指令，控制所述空間移動(dòng)平臺(tái)空間移動(dòng)，固定于所述空間移動(dòng)平臺(tái)的探頭移動(dòng)，逐點(diǎn)掃描待測(cè)物品的電磁場(chǎng)近場(chǎng)，實(shí)時(shí)采集待測(cè)物品電磁場(chǎng)近場(chǎng)的電信號(hào)數(shù)據(jù)，并將采集到的電信號(hào)數(shù)據(jù)發(fā)送至所述信號(hào)分析裝置，所述信號(hào)分析裝置分析所述電信號(hào)數(shù)據(jù)，獲取信號(hào)測(cè)量數(shù)據(jù)，并將所述信號(hào)測(cè)量數(shù)據(jù)發(fā)送至所述計(jì)算機(jī)，所述顯微攝像裝置監(jiān)測(cè)所述探頭與所述待測(cè)物品之間的距離，并將監(jiān)測(cè)獲得的距離數(shù)據(jù)發(fā)送至所述計(jì)算機(jī)，所述計(jì)算機(jī)根據(jù)所述信號(hào)測(cè)量數(shù)據(jù)和所述距離數(shù)據(jù)，處理獲得待測(cè)物品的電磁場(chǎng)近場(chǎng)掃描結(jié)果。
輻射抗擾度（RS）近場(chǎng)電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場(chǎng)掃描診斷分析系統(tǒng)使用電磁場(chǎng)近場(chǎng)耦合探頭套裝，支持0.01mm分辨率步進(jìn)電磁掃描，采用近場(chǎng)電磁耦合的方式，將10kHz-6GHz的輻射抗擾度(RS)電壓耦合到電路中，從而找到敏感源頭位置，解決輻射抗擾度問題，提高產(chǎn)品的輻射抗擾度能力。普遍用于醫(yī)療、感應(yīng)器、無線終端模塊、儀器儀表、汽車電子部件等行業(yè)的輻射抗擾度問題解決，在電磁兼容可靠性正向研發(fā)、輻射抗擾度敏感源頭定位、器件選型輻射抗擾度性能評(píng)估、更新方案設(shè)計(jì)的輻射抗擾度性能評(píng)估、電磁仿真驗(yàn)證等方面。處理后端輸出整流管的吸收電路和初級(jí)大電路并聯(lián)電容的大小。
可視化ESD抗擾度診斷分析系統(tǒng)—ES26-ESD產(chǎn)品特點(diǎn)■支持標(biāo)準(zhǔn)ESD波形的抗擾度可視化分析；■支持比較低的干擾電壓，可用于芯片等敏感器件的抗擾度分析；■干擾電壓步進(jìn)任意設(shè)置，兼顧測(cè)試效率及測(cè)試精度；■精確定位PCB板上受擾位置，快速找到敏感源；■自動(dòng)化測(cè)試軟件，實(shí)時(shí)記錄干擾等級(jí)；■產(chǎn)品需重點(diǎn)關(guān)注的性能指標(biāo)可依照客戶實(shí)際需求進(jìn)行監(jiān)測(cè)；■選定測(cè)試區(qū)域后，一次性自動(dòng)化完成測(cè)量。應(yīng)用領(lǐng)域：■芯片，元器件ESD抗擾度測(cè)量與診斷；■靜電放電電磁場(chǎng)干擾故障模擬與診斷；■電磁場(chǎng)注入ESD抗擾度測(cè)量與診斷分析；■PCB板級(jí)走線的ESD抗擾度失效故障模擬，測(cè)量與診斷；■模組件、功能模塊及端口抗擾度測(cè)量與診斷；■整機(jī)、線纜等ESD抗擾度測(cè)量與診斷。（EMC電磁干擾EMI與電磁抗EMS）問題也受到各國有關(guān)部門和生產(chǎn)企業(yè)的日益重視。福建SISO無線性能儀器
利用球背向投影法在直線掃描模式和轉(zhuǎn)臺(tái)模式情況下的目標(biāo)函數(shù)解析公式已經(jīng)給出。山東日本MIC輻射雜散優(yōu)勢(shì)
近場(chǎng)掃描測(cè)試能計(jì)入環(huán)境影響嗎?近場(chǎng)測(cè)試是測(cè)的近場(chǎng)的表面電流,或者說很近的電磁場(chǎng),然后再計(jì)算成遠(yuǎn)場(chǎng)的方向圖,這顯然是無法考慮附近金屬體的影響的,其實(shí)近場(chǎng)測(cè)試只是對(duì)方向性高的陣列天線比較適用,到了邊上的話計(jì)算出的場(chǎng)也是不準(zhǔn)的,需要校準(zhǔn).我覺得如果你把金屬考慮進(jìn)去,一起測(cè)試比如一塊大的ground,那也會(huì)是比較準(zhǔn)確的。通過上述實(shí)施方式,其具有X、Y、Z及極化軸四軸運(yùn)動(dòng)能力,可以有效捕捉水平方向傳播的波譜信息,能夠容易地調(diào)整掃描架與待測(cè)設(shè)備之間的距離,自動(dòng)化程度高,測(cè)試效率高。山東日本MIC輻射雜散優(yōu)勢(shì)
揚(yáng)芯科技（深圳）有限公司致力于儀器儀表，以科技創(chuàng)新實(shí)現(xiàn)***管理的追求。公司自創(chuàng)立以來，投身于近場(chǎng)輻射問題解決方案，?輻射抗擾度問題解決方案，輻射雜散預(yù)測(cè)試系統(tǒng)，射頻干擾問題解決方案，是儀器儀表的主力軍。揚(yáng)芯科技致力于把技術(shù)上的創(chuàng)新展現(xiàn)成對(duì)用戶產(chǎn)品上的貼心，為用戶帶來良好體驗(yàn)。揚(yáng)芯科技始終關(guān)注儀器儀表市場(chǎng)，以敏銳的市場(chǎng)洞察力，實(shí)現(xiàn)與客戶的成長共贏。