長沙單天線無線性能實(shí)驗(yàn)室

來源: 發(fā)布時(shí)間:2022-05-05

隨著電氣電子技術(shù)的發(fā)展,家用電器產(chǎn)品日益普及和電子化,廣播電視、郵電通訊和計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)的日益發(fā)達(dá),電磁環(huán)境日益復(fù)雜和惡化,使得電氣電子產(chǎn)品的電磁兼容性(EMC電磁干擾EMI與電磁抗EMS)問題也受到各國有關(guān)部門和生產(chǎn)企業(yè)的日益重視。電子、電器產(chǎn)品的電磁兼容性(EMC)是一項(xiàng)非常重要的質(zhì)量指標(biāo),它不只關(guān)系到產(chǎn)品本身的工作可靠性和使用安全性,而且還可能影響到其他設(shè)備和系統(tǒng)的正常工作,關(guān)系到電磁環(huán)境的保護(hù)問題。電磁兼容性(ElectromagneticCompatibility,簡稱EMC)是指設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中符合要求運(yùn)行并不對(duì)其環(huán)境中的任何設(shè)備產(chǎn)生無法忍受的電磁干擾的能力。掃描系統(tǒng)以疊加在Gerber文件上的形式顯示空間輻射特性,因此測試人員可以準(zhǔn)確地找出所有輻射問題的來源。長沙單天線無線性能實(shí)驗(yàn)室

近場掃描測試能計(jì)入環(huán)境影響嗎?近場測試是測的近場的表面電流,或者說很近的電磁場,然后再計(jì)算成遠(yuǎn)場的方向圖,這顯然是無法考慮附近金屬體的影響的,其實(shí)近場測試只是對(duì)方向性高的陣列天線比較適用,到了邊上的話計(jì)算出的場也是不準(zhǔn)的,需要校準(zhǔn).我覺得如果你把金屬考慮進(jìn)去,一起測試比如一塊大的ground,那也會(huì)是比較準(zhǔn)確的。通過上述實(shí)施方式,其具有X、Y、Z及極化軸四軸運(yùn)動(dòng)能力,可以有效捕捉水平方向傳播的波譜信息,能夠容易地調(diào)整掃描架與待測設(shè)備之間的距離,自動(dòng)化程度高,測試效率高。上??焖贌o線性能儀器PCB近場掃描儀FLS106PCBset的目的是,方便近場探頭檢測電子元件組的磁場或電場。

輻射近場測量需要解決的問題:(1)考慮探頭與被測天線多次散射耦合的理論公式:在前述的理論中,所有的理論公式都是在忽略多次散射耦合條件下而得出的,這些公式對(duì)常規(guī)天線的測量有一定的精度,但對(duì)低副瓣或很低副瓣天線測量就必需考慮這些因素,因此,需要建立嚴(yán)格的耦合方程。(2)近場測量對(duì)天線口徑場診斷的精度和速度:近場測量對(duì)常規(guī)陣列天線口徑場的診斷有較好的診斷精度,但對(duì)于很低副瓣天線陣列而言,診斷精度和速度還需要進(jìn)一步研究。(3)輻射近場掃頻測量的研究:就一般情況而言,天線都在一個(gè)頻帶內(nèi)工作,因此,各項(xiàng)電指標(biāo)都是頻率的函數(shù),為了快速獲得各個(gè)頻率點(diǎn)的電指標(biāo),就需要進(jìn)行掃頻測量。掃頻測量的理論與點(diǎn)頻的理論完全一樣,只是在探頭掃描時(shí),收發(fā)測量系統(tǒng)作掃頻測量。

EMI分析整改中有效降低電路EMI的技巧:當(dāng)存在一個(gè)磁場時(shí),一個(gè)由導(dǎo)電材料形成的環(huán)路充當(dāng)了天線,并且把磁場轉(zhuǎn)換為圍繞環(huán)路流動(dòng)的電流。電流的強(qiáng)度與閉合環(huán)路的面積成正比。較小面積環(huán)路中通過的磁通量也少,感應(yīng)出的電流也較小,因此環(huán)路面積必須小。保持訊號(hào)路徑和它的地返回線緊靠在一起將有助于小化地線環(huán)路,避免出現(xiàn)潛在的天線環(huán)。每根訊號(hào)好能做到與地的回流路徑短,回路面積越小,訊號(hào)的抗干擾能力越強(qiáng),對(duì)外的EMI也達(dá)小。例如時(shí)脈訊號(hào)、高頻訊號(hào)等,在PCB設(shè)計(jì)時(shí)進(jìn)行包地處理,并打些地孔,可有效降低EMI。EMI分析整改時(shí)不同的電源有不同的要求。真正的實(shí)際應(yīng)用中還有很多限制的,確實(shí)如此,板框?qū)е虏季值南拗?,空間的限制,EMI線路放不下,比如可控硅調(diào)光電源X電容不能太大,加太大了,燈會(huì)閃爍。有時(shí)電源不能加Y電容等。車載導(dǎo)航儀內(nèi)的DC/DC變換器工作在脈沖狀態(tài)下,本身就會(huì)產(chǎn)生很強(qiáng)的寬帶干擾。

從90年代末至今,近場微波成像已經(jīng)引起了學(xué)者們的濃厚興趣,但由于常規(guī)目標(biāo)散射近場的復(fù)雜性,致使近場微波成像遠(yuǎn)遠(yuǎn)滯后于遠(yuǎn)場成像。近場微波成像中,著眼于潛在的應(yīng)用,目標(biāo)函數(shù)既可以是理想導(dǎo)體目標(biāo)的輪廓函數(shù),也可以是目標(biāo)介電常數(shù)的分布函數(shù)。從照射天線與成像目標(biāo)的相對(duì)運(yùn)動(dòng)方式來看,近場微波成像有兩種模式:即直線掃描模式和轉(zhuǎn)臺(tái)模式,研究方法可分為電磁逆散射法和球背向投影法(SphericalBackProjection,簡寫為SBP)。其中電磁逆散射法散射機(jī)理清晰,但數(shù)學(xué)公式復(fù)雜且有很大的局限性,因而,實(shí)際中使用較少;而球背向投影法在實(shí)際中使用較多。利用球背向投影法在直線掃描模式和轉(zhuǎn)臺(tái)模式情況下的目標(biāo)函數(shù)解析公式已經(jīng)給出。EMI輻射近場探頭是用于配合頻譜分析儀查找干擾源的設(shè)備。西安TRP無線性能價(jià)格

近場存在于距電磁輻射源(例如發(fā)射天線)一個(gè)波長范圍內(nèi)的電磁場,一個(gè)聲源(如揚(yáng)聲器)附近的聲輻射場。長沙單天線無線性能實(shí)驗(yàn)室

可視化近場輻射診斷分析系統(tǒng)—ES67——整體介紹:電子產(chǎn)品在電磁兼容設(shè)計(jì)時(shí),比較大的難點(diǎn)在于不能提前識(shí)別各芯片、組件、器件、走線等的電磁輻射特性。在整機(jī)的架構(gòu)堆疊和布局 布線設(shè)計(jì)中,輻射干擾較強(qiáng)的器件與輻射抗擾度較差的器件之前沒有 充足的隔離度,是導(dǎo)致產(chǎn)品內(nèi)部互干擾問題產(chǎn)生的根本原因。并且, 要解決產(chǎn)品電磁兼容問題,必須清楚的識(shí)別和分析其三要素:干擾 源、傳播路徑、敏感源。可視化近場輻射診斷分析系統(tǒng)可用于芯片、 元器件、模組件、FPC、PCBA等部件和整機(jī)進(jìn)行近場EMI輻射發(fā)射噪 聲的自動(dòng)化測量、可視化呈現(xiàn)、多維度分析,是解決各種復(fù)雜電磁輻 射*擾問題的有效工具。長沙單天線無線性能實(shí)驗(yàn)室

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