EMI整改：1、對(duì)于差模干擾超標(biāo)可調(diào)整X電容量,添加差模電感器，調(diào)差模電感量；2、對(duì)于共模干擾超標(biāo)可添加共模電感,選用合理的電感量來壓制；3、也可改變整流二極管特性來處理一對(duì)快速二極管如FR107一對(duì)普通整流二極管1N4007。5M以上，以共摸干擾為主，采用壓制共摸的方法（整改建議）對(duì)于外殼接地的，在地線上用一個(gè)磁環(huán)串繞2-3圈會(huì)對(duì)10MHZ以上干擾有較大的衰減作用；可選擇緊貼變壓器的鐵芯粘銅箔,銅箔閉環(huán)。處理后端輸出整流管的吸收電路和初級(jí)大電路并聯(lián)電容的大小。電磁干擾也是變頻器驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的一個(gè)主要問題。保持訊號(hào)路徑和它的地返回線緊靠在一起將有助于小化地線環(huán)路，避免出現(xiàn)潛在的天線環(huán)。廣州快速無線性能哪里有
可視化輻射抗擾度診斷分析系統(tǒng)—IS32整體介紹：帶無線射頻功能的電子產(chǎn)品，除了要解決常規(guī)EMC干擾問題外， 射頻電路和天線與產(chǎn)品中各電路走線、功能組件、關(guān)鍵IC和元器件等 部件之間，也會(huì)發(fā)生電磁干擾問題。主要表現(xiàn)為射頻相關(guān)信號(hào)干擾其 他部件，導(dǎo)致性能功能的下降或喪失。另外，由于產(chǎn)品布局布線、器 件選型不佳等原因，產(chǎn)品內(nèi)一些器件在工作時(shí)產(chǎn)生的無意發(fā)射電磁噪 聲也會(huì)干擾到射頻電路和天線，導(dǎo)致射頻靈敏度指標(biāo)的下降，從而影 響產(chǎn)品的無線性能。以上兩類問題的解決，必須要能夠基于實(shí)際場(chǎng)景 評(píng)估干擾風(fēng)險(xiǎn)，準(zhǔn)確分析關(guān)聯(lián)器件和部件的輻射特性及射頻抗擾度特 性?？梢暬椛淇箶_度診斷分析系統(tǒng)可用于對(duì)芯片、元器件、模組 件、FPC、PCBA等部件和整機(jī)進(jìn)行近場(chǎng)輻射抗擾度故障模擬、自動(dòng)化 測(cè)量、可視化呈現(xiàn)、是解決復(fù)雜電磁輻射抗擾度問題的有效工具。廣州手機(jī)無線性能全部的輻射數(shù)據(jù)集從近場(chǎng)測(cè)量獲得的輻射數(shù)據(jù)集中可獲取3D空間中任何點(diǎn)的SPL。
輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)— TS13整體介紹：輻射雜散性能是帶有無線射頻功能的電子產(chǎn)品的關(guān)鍵性能指標(biāo)，并且，影響輻射雜散性能的因素特別復(fù)雜，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)階段都需要保證輻射雜散方案性能的可靠性和一致性。標(biāo)準(zhǔn)全電波暗室測(cè)試方案成本高，測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，不能滿足研發(fā)階段的快速分析測(cè)試及生產(chǎn)階段的批量一致性抽檢。輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)，采用多天線、多角度快速切換測(cè)試，既保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性，又縮短了測(cè)試時(shí)間，提升了測(cè)試效率，并且在性能分析時(shí)可以快速定位雜散信號(hào)的方向。系統(tǒng)占用空間小，可便捷移動(dòng)，可用于產(chǎn)品研發(fā)階段輻射雜散問題分析及生產(chǎn)階段的批量抽檢。
近場(chǎng)掃描儀的特點(diǎn)：1.不需要消聲室：可以使用場(chǎng)分離技術(shù)將輻射聲從房間反射聲中分離出來。2.比消聲室測(cè)量精度更高100Hz以下，不需要房間校正曲線。3.快速測(cè)量：標(biāo)準(zhǔn)3D聲學(xué)測(cè)量，可在不到20分鐘內(nèi)完成典型兩分頻系統(tǒng)的聲功率測(cè)量。4.高信噪比：近場(chǎng)中聲壓級(jí)高，對(duì)環(huán)境噪聲的要求不需要太嚴(yán)格。全部的輻射數(shù)據(jù)集從近場(chǎng)測(cè)量獲得的輻射數(shù)據(jù)集中可獲取3D空間中任何點(diǎn)的SPL。近場(chǎng)掃描儀使用移動(dòng)的麥克風(fēng)來掃描整體聲源（如揚(yáng)聲器系統(tǒng)或安裝在障板上的換能器）近場(chǎng)中的聲壓。被測(cè)設(shè)備（<500kg）在掃描過程中不會(huì)移動(dòng)，這樣，非消聲環(huán)境中的反射就可以保持一致并通過新穎的分析軟件進(jìn)行監(jiān)測(cè)，該軟件使用聲學(xué)全息和場(chǎng)分離技術(shù)來提取直達(dá)聲并減少室內(nèi)反射。（DC-9G）包括4個(gè)磁場(chǎng)探頭和1個(gè)電場(chǎng)探頭，所有探頭均覆蓋絕緣層。
EMI分析整改方法：在晶片電源接腳、I/O接口、重要訊號(hào)介面等位置增加旁路電容，有助于濾除積體電路的開關(guān)雜訊。晶片電源接腳增加旁路電容(0.1μF)處理，電容要靠近接腳擺放。訊號(hào)線下方的地要完整，要有完整的參考面。訊號(hào)電流經(jīng)過一個(gè)低阻抗的路徑返還其驅(qū)動(dòng)源，能夠有效減小輻射，而且由于地層的遮罩作用，使得電路對(duì)外輻射的靈敏度也會(huì)降低。如果兩個(gè)電路的參考電平不一致，就會(huì)產(chǎn)生功能問題，如雜訊容限和邏輯開關(guān)門限電平紊亂，這個(gè)接地雜訊電壓就會(huì)導(dǎo)致地環(huán)路干擾的產(chǎn)生。任何信號(hào)的傳輸都存在一個(gè)閉環(huán)的回路，當(dāng)電流從驅(qū)動(dòng)端流入接收端的時(shí)候，必然會(huì)有一個(gè)回流電流通過與之相鄰的導(dǎo)體從接收端回流至驅(qū)動(dòng)端，構(gòu)成一個(gè)閉合的環(huán)路，而環(huán)路的大小卻和EMI的產(chǎn)生有著很大的關(guān)系，我們都知道，每一個(gè)環(huán)路都可以等效為一個(gè)天線，環(huán)路數(shù)量或者面積越大，引起的EMI也越強(qiáng)。我們知道，交流信號(hào)會(huì)自動(dòng)選取阻抗小的路徑返回驅(qū)動(dòng)端，但實(shí)際情況中，信號(hào)不可能始終保持的理想路徑，特別是在高密度布線的PCB板上，過孔，縫隙等都可能降低參考平面理想的特性，而是表現(xiàn)為更復(fù)雜的回流形式。電源是EMI干擾噪聲的主要來源，示波器的電源諧波分析在這類排查工作中很有潛力。山東電氣電力無線性能
（EMC電磁干擾EMI與電磁抗EMS）問題也受到各國(guó)有關(guān)部門和生產(chǎn)企業(yè)的日益重視。廣州快速無線性能哪里有
可視化ESD抗擾度診斷分析系統(tǒng)—ES26-ESD整體介紹：電子產(chǎn)品在做ESD抗擾度測(cè)試時(shí)，一般會(huì)出現(xiàn)硬損壞和軟失效兩類故障現(xiàn)象，對(duì)于硬損壞類的故障，需要找到損壞位置、分析干擾傳遞的路徑，并在合適的位置增加或提升防護(hù)能力。對(duì)于軟失效類的故 障，比較大的難點(diǎn)在干擾范圍大，干擾路徑復(fù)雜，無法準(zhǔn)確的定位敏感源?？梢暬疎SD抗擾度診斷分析系統(tǒng)，按照IEC 61000-4-2 ESD抗擾度 標(biāo)準(zhǔn)，通過自動(dòng)控制系統(tǒng)的驅(qū)動(dòng)，用耦合探頭對(duì)待測(cè)物精細(xì)的施加干擾，測(cè)試過程中，外面監(jiān)測(cè)設(shè)備示波器、綜測(cè)儀等可實(shí)時(shí)的測(cè)量產(chǎn)品受擾后的性能異常，通過測(cè)試軟件可實(shí)時(shí)記錄靜電干擾的量級(jí)和產(chǎn)品的性能指標(biāo)，當(dāng)性能下降到預(yù)設(shè)的失效門限，對(duì)應(yīng)的干擾等級(jí)和位置就是PCB板上較為敏感的部位。方便的進(jìn)行受擾源頭、抗擾度分析，快速的給出產(chǎn)品級(jí)解決方案。廣州快速無線性能哪里有
揚(yáng)芯科技（深圳）有限公司主要經(jīng)營(yíng)范圍是儀器儀表，擁有一支專業(yè)技術(shù)團(tuán)隊(duì)和良好的市場(chǎng)口碑。揚(yáng)芯科技致力于為客戶提供良好的近場(chǎng)輻射問題解決方案，?輻射抗擾度問題解決方案，輻射雜散預(yù)測(cè)試系統(tǒng)，射頻干擾問題解決方案，一切以用戶需求為中心，深受廣大客戶的歡迎。公司注重以質(zhì)量為中心，以服務(wù)為理念，秉持誠(chéng)信為本的理念，打造儀器儀表良好品牌。揚(yáng)芯科技立足于全國(guó)市場(chǎng)，依托強(qiáng)大的研發(fā)實(shí)力，融合前沿的技術(shù)理念，飛快響應(yīng)客戶的變化需求。