微懸臂被壓電驅(qū)動(dòng)器激發(fā)到共振振蕩。振蕩振幅用來作為反饋信號(hào)去測(cè)量樣品的形貌變化。在相位成像中，微懸臂振蕩的相角和微懸臂壓電驅(qū)動(dòng)器信號(hào)，同時(shí)被EEM（extenderelectronicsmodule）記錄，它們之間的差值用來測(cè)量表面性質(zhì)的不同（如圖）。可同時(shí)觀...

并與該活塞的往復(fù)運(yùn)動(dòng)協(xié)同工作；下部過濾材料固定板，所述下部過濾材料固定板具有設(shè)置在半徑小于該濾網(wǎng)的半徑的范圍內(nèi)的固定裝置，并且被固定在該濾網(wǎng)下方；和纖維過濾材料，該纖維過濾材料分別在其上端和下端固定到所述上部過濾材料固定板的所述固定裝置上和所述下部過濾材料固定...

徠卡顯微鏡由物鏡、目鏡、照明系統(tǒng)和樣品臺(tái)等組成。物鏡是顯微鏡重要的組成部分之一，負(fù)責(zé)將樣品的細(xì)節(jié)放大。目鏡提供了一個(gè)放大倍數(shù)，會(huì)將物鏡捕捉到的細(xì)微結(jié)構(gòu)顯示出來。照明系統(tǒng)提供了適當(dāng)?shù)牧炼群徒嵌?，使樣品能夠被觀察到。樣品臺(tái)則用于支撐樣品，以防止樣品在觀察過程中移動(dòng)...

透射電子顯微鏡TEM透射電子顯微鏡（TransmissionElectronMicroscope,簡(jiǎn)稱TEM），是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關(guān)，因此可...

徠卡顯微鏡性能特點(diǎn)：1、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，使用可靠：通過白光(4500K)LED照明和徠卡高質(zhì)量光學(xué)設(shè)備更佳匹配。2、大功率LED照明：適用于明場(chǎng)、暗場(chǎng)、微分干涉和偏光的多功能光源。3、光學(xué)部件：具有鮮明對(duì)比度和銳化的圖像與高分辨率視場(chǎng)和優(yōu)化圖像視場(chǎng)結(jié)合。4、使用可靠...

孔隙率檢測(cè)儀的原理：主要基于電阻率測(cè)量技術(shù)或BET（Brunauer-Emmett-Teller）比表面積分析方法。其中，基于電阻率測(cè)量的孔隙率檢測(cè)儀是通過測(cè)量巖石等樣品的電阻率來推算其孔隙率。由于孔隙對(duì)電流的流動(dòng)產(chǎn)生阻礙，孔隙率越高，樣品的電阻率就越低。因此...

表面清潔度分析儀是一種可以測(cè)量物體表面污染和清潔度的儀器。它可以通過分析物體表面的光學(xué)圖像和化學(xué)成分，評(píng)估物體表面的清潔度和處理效果，廣應(yīng)用于制造業(yè)、醫(yī)療衛(wèi)生、食品加工、環(huán)境保護(hù)等領(lǐng)域。什么是表面清潔度分析儀？應(yīng)用領(lǐng)域：表面清潔度分析儀可以應(yīng)用于多...

清潔度檢測(cè)儀是一種用于檢測(cè)工業(yè)制造過程中零件和設(shè)備的清潔度的儀器。它通過測(cè)量待測(cè)物體表面殘留的污染物，如顆粒、油脂、金屬切屑等，來判斷其清潔程度是否符合要求。清潔度檢測(cè)儀的應(yīng)用范圍廣泛，包括汽車制造、航空航天、電子設(shè)備等領(lǐng)域。清潔度檢測(cè)儀的工作原理主要基于顆粒...

技術(shù)清潔度分析測(cè)試總覽零件清潔度與產(chǎn)品質(zhì)量以及使用壽命息息相關(guān)，清潔度檢測(cè)設(shè)備包括清洗、過濾、烘干、濾膜制備等整套流程。1.濾膜制備制作清潔度樣品濾膜需要對(duì)于顆粒物以及濾膜進(jìn)行稱重，在萃取顆粒物污染物之前需要測(cè)量出濾膜本身的重量。2-1.噴淋提取顆粒物制作用于...

LeicaM80經(jīng)濟(jì)型清潔度檢測(cè)儀適合檢測(cè)粒徑25微米以上的顆粒。是汽車零部件客戶一個(gè)比較經(jīng)濟(jì)型的選擇方案。該清潔度檢測(cè)儀支持標(biāo)準(zhǔn)、ISO16232,VDA19,ISO4406,ISO4407,NAS1638等，同時(shí)支持自定義標(biāo)準(zhǔn)?？梢员鎰e金屬非金屬，纖維，自...

我們已經(jīng)很習(xí)慣多功能電鉆這種工具的使用體驗(yàn)了。遇到不同的工作需要，切換不同的工具組件。這樣使用工具既方便。FLUX也是這樣一把多功能電鉆，只不過它的科技含量要高得多，因?yàn)樗鼡Q的鉆頭，是3D打印鉆、3D掃描鉆以及激光雕刻鉆。沒錯(cuò)，這貨長這個(gè)樣子。FLUX擁有不...

經(jīng)久耐用：儀器自身具備防水防塵功能，并可以在高溫高濕環(huán)境下連續(xù)使用，其保護(hù)箱采用**度**用品，有良好的防潮防震防壓三防功能。技術(shù)指標(biāo):u測(cè)量元素范圍：鎂（Mg）～鈾（U）u同時(shí)檢測(cè)元素：數(shù)十種元素可同時(shí)分析u處理器和內(nèi)存：CPU：667MHz，內(nèi)存：256M...

高精度三維測(cè)量提升模具檢測(cè)效率思看科技的三維測(cè)量技術(shù)不斷進(jìn)步，在精度要求十分嚴(yán)格的模具制造領(lǐng)域也發(fā)揮著越來越重要的作用。三維掃描儀憑著極高的精度、極快的測(cè)量速度、極便攜的測(cè)量方式越來越被模具制造商所青睞，在模具的修復(fù)、檢測(cè)、設(shè)計(jì)等各個(gè)環(huán)節(jié)都起到了舉...

孔隙率是指對(duì)于多孔的固體塊體材料如磚材、巖石、鋼材、矽等內(nèi)部孔隙的體積占材料總體積的百分?jǐn)?shù)，表示的是材料孔隙的多少。孔隙率把原物體是一個(gè)整體，但這個(gè)整體不是*致密的，存在一些孔洞之類，注意:孔洞分開口和閉口。所謂開口，就是與外界空氣聯(lián)通的，閉口就是*與外界隔絕...

08年推出比表面積測(cè)試價(jià)格：89500供貨量：1000最小起訂量：1有效期至：2016-11-02關(guān)鍵字：比表面積測(cè)試比表面積測(cè)比表面積產(chǎn)品簡(jiǎn)介：比表面積測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)總體概括：3H-2000BET-A型全自動(dòng)氮吸附比表面積測(cè)試儀是目前國內(nèi)多項(xiàng)測(cè)試功能***并...

專為鑄件孔隙分析設(shè)計(jì)DevelopmentforPorousInspection孔隙率檢測(cè)儀軟件專為鑄件孔隙分析設(shè)計(jì)，與使用常規(guī)含量測(cè)量軟件相比具有如下優(yōu)勢(shì)：全自動(dòng)孔隙常規(guī)含量測(cè)量硬件支持顯微鏡、2.5x物鏡、電動(dòng)臺(tái)顯微鏡、2.5x物鏡采集模式設(shè)定區(qū)域，自動(dòng)掃...

”ArtecLeo采用***二合一**光學(xué)系統(tǒng)，以及二合一3D彩色攝像頭，可以mp的分辨率實(shí)現(xiàn)****的精細(xì)紋理映射。得益于干擾式VCSEL光源，ArtecLeo能夠在戶外明亮的地方捕獲掃描，而這類環(huán)境通常是無法實(shí)現(xiàn)3D掃描的。此外，這一先進(jìn)技術(shù)也幫助...

孔隙率測(cè)試儀的原理主要基于物質(zhì)內(nèi)部的孔隙對(duì)物理性質(zhì)（如電阻率、氣體吸附等）的影響來進(jìn)行測(cè)量。以下是幾種常見的孔隙率測(cè)試儀的原理：電阻率法孔隙率測(cè)試儀：這類儀器利用巖石或其他材料的電阻率與孔隙率之間的關(guān)系進(jìn)行測(cè)量。當(dāng)微小電流通過樣品時(shí)，孔隙的存在會(huì)影響電流的流動(dòng)...

孔隙率是指對(duì)于多孔的固體塊體材料如磚材、巖石、鋼材、矽等內(nèi)部孔隙的體積占材料總體積的百分?jǐn)?shù)，表示的是材料孔隙的多少。孔隙率把原物體是一個(gè)整體，但這個(gè)整體不是*致密的，存在一些孔洞之類，注意:孔洞分開口和閉口。所謂開口，就是與外界空氣聯(lián)通的，閉口就是*與外界隔絕...

孔隙率測(cè)量儀（靜態(tài)容量法）自主研發(fā)的全自動(dòng)智能化比表面積和孔徑檢測(cè)儀器,采用靜態(tài)容量法測(cè)試原理,眾多科研院所及500強(qiáng)企業(yè)應(yīng)用案例,相比國內(nèi)同類產(chǎn)品,多項(xiàng)技術(shù)的采用使產(chǎn)品整體性能更加完善,測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性進(jìn)一步提高,測(cè)試過程的穩(wěn)定性更強(qiáng),達(dá)到國際同類產(chǎn)...

”ArtecLeo采用***二合一**光學(xué)系統(tǒng)，以及二合一3D彩色攝像頭，可以mp的分辨率實(shí)現(xiàn)****的精細(xì)紋理映射。得益于干擾式VCSEL光源，ArtecLeo能夠在戶外明亮的地方捕獲掃描，而這類環(huán)境通常是無法實(shí)現(xiàn)3D掃描的。此外，這一先進(jìn)技術(shù)也幫助...

影像測(cè)量儀的計(jì)量特性和評(píng)定方法：根據(jù)影像測(cè)量儀的工作原理和影像探頭的誤差特點(diǎn)，中國計(jì)量科學(xué)研究院參照德國標(biāo)準(zhǔn)起草的《光學(xué)探頭坐標(biāo)測(cè)量機(jī)校準(zhǔn)規(guī)范》，對(duì)影像探頭規(guī)定了多點(diǎn)測(cè)量的探測(cè)誤差、成像歧變的探測(cè)誤差和照明影響的探測(cè)誤差。與接觸式坐標(biāo)測(cè)量機(jī)一樣，影像測(cè)量儀也需...

影像測(cè)量儀的計(jì)量特性和評(píng)定方法：根據(jù)影像測(cè)量儀的工作原理和影像探頭的誤差特點(diǎn)，中國計(jì)量科學(xué)研究院參照德國標(biāo)準(zhǔn)起草的《光學(xué)探頭坐標(biāo)測(cè)量機(jī)校準(zhǔn)規(guī)范》，對(duì)影像探頭規(guī)定了多點(diǎn)測(cè)量的探測(cè)誤差、成像歧變的探測(cè)誤差和照明影響的探測(cè)誤差。與接觸式坐標(biāo)測(cè)量機(jī)一樣，影像測(cè)量儀也需...

影像測(cè)量儀的發(fā)展，不同的手段和不同的價(jià)值觀念都會(huì)給各種領(lǐng)域要求的方式中尋求一個(gè)過程。影像測(cè)量儀準(zhǔn)確的測(cè)量數(shù)值，必須通過各種服務(wù)的手段去實(shí)現(xiàn)，所以我們的生活應(yīng)當(dāng)對(duì)影像測(cè)量儀的發(fā)展創(chuàng)造更好的使用價(jià)值。二次元影像測(cè)量儀角度數(shù)值準(zhǔn)確測(cè)量方法分享：回歸直線偏差小。有很多...

所采直線會(huì)更貼近被測(cè)工件的實(shí)際邊線，直線偏差就會(huì)減少，同時(shí)，測(cè)量誤差也會(huì)減少許多，測(cè)值重復(fù)性改善。角度測(cè)量技巧三：放大倍率盡量大。很多機(jī)械零件，被測(cè)角度邊線很短，只有2mm～3mm，例如，軸類零件倒角。如果我們還使用鏡頭小檔，或者1來采點(diǎn)測(cè)量的話，工件成像也只...

一鍵式影像測(cè)量儀又被稱作影像測(cè)量標(biāo)尺、閃測(cè)影像尺寸測(cè)量儀，是一種新型影像測(cè)量技術(shù)的。該技術(shù)由一些外企較早將此先進(jìn)技術(shù)引進(jìn)國內(nèi)，并在2013年前后實(shí)現(xiàn)國產(chǎn)化。一鍵式影像儀結(jié)構(gòu)組成：一鍵式影像測(cè)量儀的核芯硬件是由上下光源、高像素CCD相機(jī)、大視角大景深遠(yuǎn)心鏡頭及固...

影像測(cè)量儀動(dòng)態(tài)技術(shù)產(chǎn)品應(yīng)用案例解決方案思瑞影像測(cè)量儀醫(yī)藥瓶及膠塞檢測(cè)案..復(fù)合式影像測(cè)量儀，提升產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)..思瑞影像測(cè)量儀醫(yī)藥瓶及膠塞檢測(cè)案例醫(yī)療行業(yè)，是離生活距離很近的制造業(yè)之一。隨著科技的快速更新?lián)Q代，醫(yī)療產(chǎn)品生產(chǎn)要求也在逐步提高。..影像測(cè)量儀光學(xué)測(cè)...

影像測(cè)量儀的功能測(cè)量組合測(cè)量、中心點(diǎn)構(gòu)造、交點(diǎn)構(gòu)造，線構(gòu)造、圓構(gòu)造、角度構(gòu)造此外，影像測(cè)量儀還可以檢測(cè)圓形物體的圓度、直線度、以及弧度可選購接觸式探針測(cè)量,用于接觸式測(cè)量不規(guī)則的產(chǎn)品,如橢圓、弧度、平面度等尺寸;聚集指令，同一種工件批量測(cè)量更加方便快捷，提高測(cè)...

影像測(cè)量儀是基于機(jī)器視覺的自動(dòng)邊緣提取、自動(dòng)理匹、自動(dòng)對(duì)焦、測(cè)量合成、影像合成等人工智能技術(shù)，具有點(diǎn)哪走哪自動(dòng)測(cè)量、CNC走位自動(dòng)測(cè)量、自動(dòng)學(xué)習(xí)批量測(cè)量的功能，影像地圖目標(biāo)指引，全視場(chǎng)鷹眼放大等優(yōu)異的功能。同時(shí)，基于機(jī)器視覺與微米精確控制下的自動(dòng)對(duì)焦過程，可以...

影像測(cè)量儀的特點(diǎn)：影像測(cè)量儀，通過捕捉工件表面影像的邊緣，進(jìn)行圖像處理，獲得影像幾何要素的數(shù)據(jù)。影像特征點(diǎn)在測(cè)頭坐標(biāo)系中的坐標(biāo)（x，y）與探頭參考點(diǎn)在坐標(biāo)測(cè)量機(jī)基礎(chǔ)坐標(biāo)系中的坐標(biāo)（x"，y"）合成，構(gòu)成被測(cè)點(diǎn)坐標(biāo)（X，Y）。作為光學(xué)成像探頭，成像光路質(zhì)量、成像...