光學(xué)檢測(cè)技術(shù)提升汽車(chē)玻璃質(zhì)量的研究與發(fā)展--領(lǐng)先光學(xué)技術(shù)公司
銷(xiāo)售常州市汽車(chē)玻璃檢測(cè)設(shè)備行情領(lǐng)先光學(xué)技術(shù)公司供應(yīng)
供應(yīng)常州市光學(xué)檢測(cè)設(shè)備排名領(lǐng)先光學(xué)技術(shù)公司供應(yīng)
供應(yīng)晶圓平整度顆粒度排名領(lǐng)先光學(xué)技術(shù)公司供應(yīng)
提供常州市光學(xué)檢測(cè)報(bào)價(jià)領(lǐng)先光學(xué)技術(shù)公司供應(yīng)
電子散斑干涉技術(shù)特點(diǎn):技術(shù)優(yōu)勢(shì)納米級(jí)位移靈敏度全場(chǎng)實(shí)時(shí)測(cè)量能力對(duì)振動(dòng)不敏感可測(cè)微小變形系統(tǒng)配置要點(diǎn)激光光源穩(wěn)定性<0.5%防振光學(xué)平臺(tái)相移裝置精度λ/100溫控環(huán)境建議±1℃典型應(yīng)用場(chǎng)景微電子器件熱變形MEMS器件測(cè)試薄膜殘余應(yīng)力分析微納尺度力學(xué)行為,系統(tǒng)集成解決方案與力學(xué)測(cè)試設(shè)備聯(lián)用原位加載系統(tǒng)同步控制多物理場(chǎng)數(shù)據(jù)融合實(shí)時(shí)應(yīng)變反饋系統(tǒng)異構(gòu)圖譜數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)特殊環(huán)境集成(1)高溫環(huán)境:耐高溫鏡頭保護(hù)熱輻射校正算法藍(lán)光照明方案(2)真空環(huán)境:光學(xué)窗口長(zhǎng)距顯微配置防污染設(shè)計(jì)(3)液體環(huán)境:防水觀測(cè)窗折射率補(bǔ)償懸浮粒子示蹤。通過(guò)測(cè)量材料在受力情況下的應(yīng)變分布,可以了解材料的強(qiáng)度、韌性、疲勞壽命等性能指標(biāo)。安徽掃描電鏡數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)應(yīng)變測(cè)量
光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量技術(shù)是近年來(lái)快速發(fā)展的材料力學(xué)性能測(cè)試方法,其原理是通過(guò)光學(xué)手段獲取材料表面變形信息,進(jìn)而計(jì)算應(yīng)變場(chǎng)分布。與傳統(tǒng)接觸式測(cè)量相比,該技術(shù)具有全場(chǎng)測(cè)量、不干擾被測(cè)對(duì)象等優(yōu)勢(shì)。研索儀器科技(上海)有限公司在該領(lǐng)域的技術(shù)積累已形成完整解決方案。當(dāng)前主流的光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量技術(shù)主要包括:數(shù)字圖像相關(guān)法(DIC)電子散斑干涉術(shù)(ESPI)數(shù)字全息干涉術(shù)光柵投影輪廓術(shù),數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)詳解系統(tǒng)組成架構(gòu)(1)圖像采集系統(tǒng):高分辨率工業(yè)相機(jī)(500萬(wàn)像素以上)長(zhǎng)工作距顯微鏡頭(可選)同步觸發(fā)控制單元多相機(jī)立體視覺(jué)配置(2)照明系統(tǒng):同軸冷光源照明高均勻度面光源脈沖式激光光源(高速應(yīng)用)(3)軟件分析平臺(tái):三維位移場(chǎng)重構(gòu)算法應(yīng)變計(jì)算引擎數(shù)據(jù)可視化模塊第三方數(shù)據(jù)接口關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)位移測(cè)量分辨率:0.01像素應(yīng)變測(cè)量范圍:0.005%-200%,采集幀率:100,000fps(高速型)視場(chǎng)范圍:1mm2-1m2(可調(diào))。安徽全場(chǎng)三維非接觸式應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)光學(xué)測(cè)量技術(shù)不只精度高,還能適應(yīng)各種環(huán)境和條件,是現(xiàn)代建筑物變形監(jiān)測(cè)的理想選擇。
機(jī)械式應(yīng)變測(cè)量方法:機(jī)械式應(yīng)變測(cè)量已經(jīng)有很長(zhǎng)的歷史,其主要利用百分表或千分表測(cè)量變形前后測(cè)試標(biāo)距內(nèi)的距離變化而得到構(gòu)件測(cè)試標(biāo)距內(nèi)的平均應(yīng)變。工程測(cè)量中使用的機(jī)械式應(yīng)變測(cè)量?jī)x器主要包括手持應(yīng)變儀和千分表引伸計(jì)。機(jī)械式應(yīng)變測(cè)量方法主要優(yōu)點(diǎn)是讀數(shù)直觀、環(huán)境適應(yīng)能力強(qiáng)、可重復(fù)性使用等。但需要人工讀數(shù)、費(fèi)時(shí)費(fèi)力、精度差,對(duì)于應(yīng)變測(cè)點(diǎn)數(shù)量眾多的橋梁靜載試驗(yàn)顯然不合適。因此,除了少數(shù)室內(nèi)模型試驗(yàn)的特殊需要,工程結(jié)構(gòu)中很少使用。
對(duì)于復(fù)合材料的拉伸試驗(yàn),可以使用試樣一側(cè)單應(yīng)變測(cè)量來(lái)測(cè)量軸向應(yīng)變。然而,通過(guò)在試樣的相對(duì)兩側(cè)進(jìn)行測(cè)量并計(jì)算它們的平均值,可以得到更一致和準(zhǔn)確的結(jié)果。使用平均應(yīng)變測(cè)量對(duì)于壓縮測(cè)試至關(guān)重要,因?yàn)閮纱螠y(cè)量之間的差異用于檢查試樣是否過(guò)度彎曲。通常在拉伸和壓縮測(cè)試中確定泊松比需要額外測(cè)量橫向應(yīng)變。剪切試驗(yàn)時(shí)需要確定剪切應(yīng)變,剪切應(yīng)變可以通過(guò)測(cè)量軸向和橫向應(yīng)變來(lái)計(jì)算。在V型缺口剪切試驗(yàn)中,應(yīng)變分布不均勻且集中在試樣的缺口之間,為了更加準(zhǔn)確測(cè)量這些局部應(yīng)變需要使用應(yīng)變儀。 在土木工程領(lǐng)域,光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量技術(shù)可用于監(jiān)測(cè)建筑物、橋梁等結(jié)構(gòu)的應(yīng)變情況。
光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量是一種基于光學(xué)原理的高精度測(cè)量技術(shù),通過(guò)非接觸方式獲取物體表面應(yīng)變信息,適用于材料力學(xué)性能分析、工程結(jié)構(gòu)監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域。一、基本原理?數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)(DIC)?通過(guò)追蹤物體表面散斑或紋理特征,對(duì)比變形前后的圖像,計(jì)算全場(chǎng)三維位移和應(yīng)變分布。雙目立體視覺(jué)系統(tǒng)重建物體三維形貌,結(jié)合算法分析應(yīng)變場(chǎng)?23。技術(shù)特點(diǎn):支持動(dòng)態(tài)實(shí)時(shí)測(cè)量,應(yīng)變分辨率可達(dá)5με,位移精度達(dá)0.01像素?78。?光學(xué)干涉法?利用光波干涉原理,通過(guò)分析物體變形引起的光程差變化,獲取表面應(yīng)變信息?1。典型應(yīng)用包括激光散斑干涉和電子散斑干涉。二、關(guān)鍵技術(shù)優(yōu)勢(shì)?非接觸式測(cè)量?:避免對(duì)被測(cè)物體產(chǎn)生干擾,適用于柔性、高溫或易損材料?16。?全場(chǎng)測(cè)量?:覆蓋被測(cè)物體整體表面,提供連續(xù)的應(yīng)變分布云圖,優(yōu)于傳統(tǒng)單點(diǎn)測(cè)量?13。?高精度與動(dòng)態(tài)能力?:應(yīng)變分辨率達(dá)微應(yīng)變級(jí)別(20με~5με),支持高速動(dòng)態(tài)載荷下的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)?27。?環(huán)境適應(yīng)性?:無(wú)需嚴(yán)格避震或特殊光源,可在實(shí)驗(yàn)室或戶外復(fù)雜環(huán)境中使用?
光學(xué)非接觸測(cè)量由于不需要與被測(cè)物體直接接觸,因此避免了傳統(tǒng)接觸式測(cè)量方法可能帶來(lái)的誤差和損傷。福建掃描電鏡數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)應(yīng)變測(cè)量裝置
電阻應(yīng)變測(cè)量(電測(cè)法)是實(shí)驗(yàn)應(yīng)力分析中使用較廣和適應(yīng)性比較強(qiáng)的方法之一。安徽掃描電鏡數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)應(yīng)變測(cè)量
金屬應(yīng)變計(jì)是一種用于測(cè)量物體應(yīng)變的裝置,其實(shí)際應(yīng)變計(jì)因子可以從傳感器制造商或相關(guān)文檔中獲取,通常約為2。由于應(yīng)變測(cè)量通常很小,只有幾個(gè)毫應(yīng)變(10?3),因此需要精確測(cè)量電阻的微小變化。例如,當(dāng)測(cè)試樣本的實(shí)際應(yīng)變?yōu)?00毫應(yīng)變時(shí),應(yīng)變計(jì)因子為2的應(yīng)變計(jì)可以檢測(cè)到電阻變化為2(50010??)=。對(duì)于120Ω的應(yīng)變計(jì),變化值只為Ω。為了測(cè)量如此小的電阻變化,應(yīng)變計(jì)采用基于惠斯通電橋的配置概念。惠斯通電橋由四個(gè)相互連接的電阻臂和激勵(lì)電壓VEX組成。當(dāng)應(yīng)變計(jì)與被測(cè)物體一起安裝在電橋的一個(gè)臂上時(shí),應(yīng)變計(jì)的電阻值會(huì)隨著應(yīng)變的變化而發(fā)生微小的變化。這個(gè)微小的變化會(huì)導(dǎo)致電橋的電壓輸出發(fā)生變化,從而可以通過(guò)測(cè)量輸出電壓的變化來(lái)計(jì)算應(yīng)變的大小。除了傳統(tǒng)的應(yīng)變測(cè)量方法外,光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量技術(shù)也越來(lái)越受到關(guān)注。這種技術(shù)利用光學(xué)原理來(lái)測(cè)量材料的應(yīng)變,具有非接觸、高精度和高靈敏度等優(yōu)點(diǎn)。它能夠通常使用光纖光柵傳感器或激光干涉儀等設(shè)備來(lái)測(cè)量材料表面的位移或形變,從而間接計(jì)算出應(yīng)變的大小。這種新興的測(cè)量技術(shù)為應(yīng)變測(cè)量帶來(lái)了新的可能性,并在許多領(lǐng)域中得到了普遍應(yīng)用。 安徽掃描電鏡數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)應(yīng)變測(cè)量