天津針座方法

來源: 發(fā)布時(shí)間:2021-09-30

針座分類針座從操作上來區(qū)分有:手動(dòng)針座、半自動(dòng)針座和全自動(dòng)針座。從功能上來區(qū)分有:溫控針座、真空針座(很低溫針座)、RF針座、LCD平板針座、霍爾效應(yīng)針座和表面電阻率針座。高精度針座:目前世界出貨量的型號吸收了新的工藝科技例如OTS,QPU和TTG相關(guān)技術(shù),這種全新的高精度系統(tǒng)為下一代小型化的設(shè)計(jì)及多種測試條件提供保證。特性-近的位置對正系統(tǒng)(光學(xué)目標(biāo)對準(zhǔn))OTS通過對照相機(jī)相對位置的測量來保證其位置的精度。這是非常引人注目的技術(shù),來源于東京精密的度量技術(shù)。實(shí)現(xiàn)了以自己為參照的光學(xué)對準(zhǔn)系統(tǒng)。如果是合格的芯片,打點(diǎn)器不動(dòng)作。天津針座方法

電纜安裝針座既可以手動(dòng)使用,也可以與多軸針座定位器一起使用。與典型的針座不同,這些針座足夠大,操作員可以手動(dòng)使用,非??煽?。針座定位器的位置精度和可重復(fù)性更高,而且本身可以放置,便于進(jìn)行測試。與針座不同,同軸電纜安裝針座和定位器可以在工程師或技術(shù)人員的典型測試臺(tái)上用作網(wǎng)絡(luò)分析儀、信號發(fā)生器、頻譜分析儀、示波器和其他用于射頻/微波、毫米波和高速數(shù)字應(yīng)用的配件。電纜安裝射頻針座的占位面積小、無損壞,并且具有非侵入式設(shè)計(jì),可在高密度應(yīng)用中進(jìn)行測試,例如天線陣列、超材料、分形天線、微帶傳輸線、緊湊組件以及具有微小表面安裝包裝組件的印刷電路板。天津針座方法通常用戶得到電路,直接安裝在印刷電路板(PCB)上。

近來出現(xiàn)的一種選擇是使用同軸射頻電纜安裝針座,它結(jié)合了針座準(zhǔn)確性和可重復(fù)性的功能以及用針座可及性的功能。這些針座的邊緣類似于針座針座夾具——接地-信號-接地(GSG)或者接地-信號(GS)——一端帶有pogo-pin針座,另一端帶有典型的同軸連接器。這些新型針座可以達(dá)到40 GHz,回波損耗優(yōu)于10 dB。針座的針距范圍在800微米到1500微米之間,這些針座通常使用的終端是3.5毫米母頭或2.92毫米母頭同軸連接器。與針座一樣,可以在特定的測試區(qū)域中設(shè)計(jì)一個(gè)影響小的焊盤端口,或者可以將針座放置在靠近組件的端子或微帶傳輸線上。

頂端壓力主要由針座的驅(qū)動(dòng)器件控制,額外的Z運(yùn)動(dòng)(垂直行程)會(huì)令其直線上升。此外,針座材質(zhì)、針座直徑、光束長度、和尖錐長度都在決定頂端壓力時(shí)起重要的作用。解釋了觸點(diǎn)壓力和接觸電阻的關(guān)系。從本質(zhì)上來說,隨著針座開始接觸并逐漸深入焊點(diǎn)氧化物和污染物的表層,接觸電阻減小而電流流動(dòng)迅速開始。隨著針座接觸到焊點(diǎn)金屬的亞表層,這些效應(yīng)將增加。盡管隨著針座壓力的增強(qiáng),接觸電阻逐漸降低,終它會(huì)達(dá)到兩金屬的標(biāo)稱接觸電阻值。通常針座是由鎢制成的,它如果長期不用,針尖要形起氧化。

針座是用于檢測每片晶圓上各個(gè)芯片電信號,保證半導(dǎo)體產(chǎn)品品質(zhì)的重要檢測設(shè)備。下面我們來了解下利用針座進(jìn)行在片測試的一些相關(guān)問題,首先為什么需要進(jìn)行在片測試?因?yàn)槲覀冃枰榔骷嬲男阅?,而不是封裝以后的,雖然可以去嵌,但還是會(huì)引入一些誤差和不確定性。因?yàn)槲覀冃枰_定哪些芯片是好的芯片來降低封裝的成本并提高產(chǎn)量。因?yàn)橛袝r(shí)我們需要進(jìn)行自動(dòng)化測試,在片進(jìn)行自動(dòng)化測試成本效益高而且更快。一個(gè)典型的在片測試系統(tǒng),主要包括:矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,線纜,針座,針座定位器,針座,校準(zhǔn)設(shè)備及軟件,電源偏置等。我們通過針座把測試儀和被測芯片連接起來。深圳應(yīng)用針座歡迎咨詢

系統(tǒng)在測試每個(gè)芯片的時(shí)候?qū)π酒暮脡呐c否進(jìn)行判斷,發(fā)出合格與不合格的信號。天津針座方法

通常,參數(shù)測試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測器件(DUT),然后測量該器件對于此輸入信號的響應(yīng)。這些信號的路徑為:從測試儀通過電纜束至測試頭,再通過測試頭至針座,然后通過針座至芯片上的焊點(diǎn),到達(dá)被測器件,并后沿原路徑返回測試儀器。如果獲得的結(jié)果不盡如人意,問題可能是由測量儀器或軟件所致,也可能是其它原因造成。通常情況下,測量儀器引進(jìn)一些噪聲或測量誤差。而更可能導(dǎo)致誤差的原因是系統(tǒng)的其它部件,其中之一可能是接觸電阻,它會(huì)受針座參數(shù)的影響,如針座的材料、針尖的直徑與形狀、焊接的材質(zhì)、觸點(diǎn)壓力、以及針座的平整度。此外,針座尖磨損和污染也會(huì)對測試結(jié)果造成極大的負(fù)面影響。天津針座方法

標(biāo)簽: 針座 排針排母 線束 FPC