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盡管半導(dǎo)體測試針座國產(chǎn)化迫在眉睫，但從技術(shù)的角度來看，要想替代進(jìn)口產(chǎn)品卻并不容易。業(yè)內(nèi)人士指出，國內(nèi)半導(dǎo)體測試針座還只能用于要求不高的測試需求，比如可靠性測試國產(chǎn)針座可以替代很多，但功能性測試和性能測試還有待突破。彈簧測試針座主要的技術(shù)是精微加工和組裝能力，涉及精微加工設(shè)備、經(jīng)驗(yàn)、工藝能力缺一不可。值得注意的是，由于半導(dǎo)體測試針座市場一直被國外廠商占據(jù)，同時也實(shí)施了技術(shù)封鎖，國內(nèi)并沒有相應(yīng)的技術(shù)人才，包括生產(chǎn)人員和設(shè)計(jì)人員都缺乏。國內(nèi)大部分測試針座廠商基本不具備全自動化生產(chǎn)制造能力。如果是不合格的芯片，打點(diǎn)器立刻對這個不合格的芯片打點(diǎn)。2510WAFER廠

針座其實(shí)也可稱探針座,但在半導(dǎo)體業(yè)界稱之探針座主要應(yīng)用Probe上,半導(dǎo)體行業(yè)以及光電行業(yè)的測試。BT-100針座可選擇真空底座或磁性反轉(zhuǎn)底座. X-Y-Z 移動行程: 12mm x 12mm x 12mm,線性移動,線性移動解析2um；BT-60針座可選擇真空底座或磁性反轉(zhuǎn)底座. X-Y-Z 移動行程: 12mm x 12mm x 12mm,線性移動,線性移動解析0.7um；BT-80針座可選擇真空底座或磁性反轉(zhuǎn)底座. X-Y-Z 移動行程: 12mm x 12mm x 12mm,線性移動,線性移動解析0.7um。在針座上裝上打點(diǎn)器，打點(diǎn)器根據(jù)系統(tǒng)的信號來判斷是否給芯片打點(diǎn)標(biāo)記。系統(tǒng)在測試每個芯片的時候?qū)π酒暮脡呐c否進(jìn)行判斷，發(fā)出合格與不合格的信號。如果是合格的芯片，打點(diǎn)器不動作；如果是不合格的芯片，打點(diǎn)器立刻對這個不合格的芯片打點(diǎn)。廣東WAFER廠家直銷針座是半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝等行業(yè)的測試設(shè)備。

針座分類針座從操作上來區(qū)分有：手動針座、半自動針座和全自動針座。從功能上來區(qū)分有：溫控針座、真空針座（很低溫針座）、RF針座、LCD平板針座、霍爾效應(yīng)針座和表面電阻率針座。高精度針座：目前世界出貨量的型號吸收了新的工藝科技例如OTS，QPU和TTG相關(guān)技術(shù)，這種全新的高精度系統(tǒng)為下一代小型化的設(shè)計(jì)及多種測試條件提供保證。特性-近的位置對正系統(tǒng)（光學(xué)目標(biāo)對準(zhǔn)）OTS通過對照相機(jī)相對位置的測量來保證其位置的精度。這是非常引人注目的技術(shù)，來源于東京精密的度量技術(shù)。實(shí)現(xiàn)了以自己為參照的光學(xué)對準(zhǔn)系統(tǒng)。

頂端壓力主要由針座的驅(qū)動器件控制，額外的Z運(yùn)動（垂直行程）會令其直線上升。此外，針座材質(zhì)、針座直徑、光束長度、和尖錐長度都在決定頂端壓力時起重要的作用。解釋了觸點(diǎn)壓力和接觸電阻的關(guān)系。從本質(zhì)上來說，隨著針座開始接觸并逐漸深入焊點(diǎn)氧化物和污染物的表層，接觸電阻減小而電流流動迅速開始。隨著針座接觸到焊點(diǎn)金屬的亞表層，這些效應(yīng)將增加。盡管隨著針座壓力的增強(qiáng)，接觸電阻逐漸降低，終它會達(dá)到兩金屬的標(biāo)稱接觸電阻值。細(xì)針和待測器件進(jìn)行物理和電學(xué)接觸。

針座主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。 普遍應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。針座從操作上來區(qū)分有：手動，半自動，全自動。從功能上來區(qū)分有：溫控針座，真空針座（很低溫針座），RF針座，LCD平板針座，霍爾效應(yīng)針座，表面電阻率針座。經(jīng)濟(jì)手動型根據(jù)客戶需求定制：chuck尺寸：4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可選）；移動行程：4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12"(可選）；chuck Z軸方向升降10mm（選項(xiàng)）方便針座與樣品快速分離；顯微鏡：金相顯微鏡、體式顯微鏡、單筒顯微鏡（可選）；顯微鏡移動方式：立柱環(huán)繞型、移動平臺型、龍門結(jié)構(gòu)型（可選）；針座座：有0.7um、2um、10um精度可選，磁性吸附帶磁力開關(guān)；可搭配Probe card測試；適用領(lǐng)域：晶圓廠、研究所、高校等。針座把晶圓片安放在一個可移動的金屬板上。2510WAFER廠

某些針尖位置高的扎不上AL層,使測試時這些針上電路不通。2510WAFER廠

射頻測試針座必須具有與測試點(diǎn)相匹配的阻抗。通常要做的是在設(shè)計(jì)中各個預(yù)先計(jì)劃好的測試點(diǎn)焊接射頻同軸電纜（尾纖）。這有助于確保足夠的阻抗匹配，并且測試點(diǎn)可以選在對整體設(shè)計(jì)性能產(chǎn)生較小影響的區(qū)域。其他方法包括將用的射頻針座焊接到自定義焊盤或者引線設(shè)計(jì)上，從而減少侵入性探測。高性能測試設(shè)備供應(yīng)商可以提供高達(dá)毫米波頻率的用針座。但這些針座的末端通常都很昂貴，且無法持續(xù)訪問組成元件的電路。因此，它們在大容量的測試應(yīng)用或者故障排除應(yīng)用中受到限制，更適合于原型設(shè)計(jì)和研發(fā)。2510WAFER廠