天津phb針座

針尖有鋁粉:測大電流時，針尖上要引起多AL粉，使電流測不穩(wěn)，所以需要經(jīng)常用灑精清洗針座并用氮氣吹干，同時測試時邊測邊吹氮氣，以減少針尖上的AL粉。針尖有墨跡:測試時打點器沒有調(diào)整好，尼龍絲碰到針尖上，針尖上沾上墨跡,然后針尖與壓點接觸時，壓點窗口上墨跡沾污，使片子與AL層接觸不良，參數(shù)通不過，還有對后續(xù)封裝壓焊有影響，使芯片與封裝后成品管腳焊接質(zhì)量差，所以平時裝打點器時，不要把打點器裝得太前或太后和太高或太低，而應(yīng)該使尼龍絲與硅片留有一定距離，然后靠表面漲力使墨水打到管芯中心，如已經(jīng)沾上墨跡，要立即用酒精擦干凈，并用氮氣吹干。針座沒焊到位，是因為焊錫時針受熱要稍微的收縮，使針尖偏離壓點區(qū)。天津phb針座

針座是檢測芯片的重要設(shè)備，在芯片的設(shè)計驗證階段，主要工作是檢測芯片設(shè)計的功能是否能夠達到芯片的技術(shù)指標(biāo)，在檢測過程中會對芯片樣品逐一檢查，只有通過設(shè)計驗證的產(chǎn)品型號才會量產(chǎn)。晶圓測試一般在晶圓廠、封測廠或?qū)ｉT的測試代工廠進行，主要用到的設(shè)備為測試機和針座。半導(dǎo)體的測試環(huán)節(jié)，主要包括芯片設(shè)計中的設(shè)計驗證、晶圓制造中的晶圓測試（CP測試）和封裝完成后的成品測試（FT測試）。半導(dǎo)體測試設(shè)備主要包括測試機、針座和分選機。在所有的測試環(huán)節(jié)中都會用到測試機，不同環(huán)節(jié)中測試機需要和分選機或針座配合使用。2.54WAFER加工系統(tǒng)在測試每個芯片的時候?qū)π酒暮脡呐c否進行判斷，發(fā)出合格與不合格的信號。

針座主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。 普遍應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。針座從操作上來區(qū)分有：手動，半自動，全自動。從功能上來區(qū)分有：溫控針座，真空針座（很低溫針座），RF針座，LCD平板針座，霍爾效應(yīng)針座，表面電阻率針座。經(jīng)濟手動型根據(jù)客戶需求定制：chuck尺寸：4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可選）；移動行程：4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12"(可選）；chuck Z軸方向升降10mm（選項）方便針座與樣品快速分離；顯微鏡：金相顯微鏡、體式顯微鏡、單筒顯微鏡（可選）；顯微鏡移動方式：立柱環(huán)繞型、移動平臺型、龍門結(jié)構(gòu)型（可選）；針座座：有0.7um、2um、10um精度可選，磁性吸附帶磁力開關(guān)；可搭配Probe card測試；適用領(lǐng)域：晶圓廠、研究所、高校等。

半導(dǎo)體生產(chǎn)過程中的探測，可略分為三大類：1.參數(shù)探測：提供制造期間的裝置特性測量；2.晶圓探測：當(dāng)制造完成要進行封裝前，在一系列的晶圓上(wafer sort)測試裝置功能；3.以針座為基礎(chǔ)的晶圓處理探測(Final Test)：在出貨給顧客前，對封裝完成的裝置做后的測試。晶圓在通過基本的特性測試后，即進入晶圓探測階段，此時需要用復(fù)雜的機器、視覺及軟件來偵測晶圓上的每顆裸晶，精確度約在±2.0μm之間。將晶圓針座的輸入輸出針座墊片(I/O pads)放在接腳和針座正確對應(yīng)的晶圓后，針座會將晶圓向上挪動，使其電氣和連接于測試儀上的針座接觸，以進行探測。當(dāng)測試完成，則會自動將下一個待測晶圓替換到針座下面，如此周而復(fù)始地循環(huán)著。通常針座是由鎢制成的，它如果長期不用，針尖要形起氧化。

測試針座市場被國外廠商占據(jù)：眾所周知，國內(nèi)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)與國際的差距是全部的，尤其是在好的領(lǐng)域，而好的芯片也是注重測試環(huán)節(jié)領(lǐng)域。因此，與好的芯片的供應(yīng)情況一樣，芯片測試及其測試治具、測試針座等市場均被歐美、日韓、等地區(qū)的廠商占據(jù)。長期以來，國內(nèi)針座廠商均處于中低端領(lǐng)域，主要生產(chǎn)PCB測試針座、ICT測試針座等產(chǎn)品。近年來，伴隨著資本運作和技術(shù)升級，長電科技、華天科技、通富微電已進入全球封測企業(yè)**強，技術(shù)上已基本實現(xiàn)進口替代。同時，為表示的公司正加快將訂單轉(zhuǎn)移給國內(nèi)供應(yīng)商，芯片測試領(lǐng)域也展現(xiàn)了前所未有的繁榮景象。測試完成后，針座于芯片分離，如果芯片不合格，則會在其**做上標(biāo)記。針座加工廠

針座是半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝等行業(yè)的測試設(shè)備。天津phb針座

射頻測試針座必須具有與測試點相匹配的阻抗。通常要做的是在設(shè)計中各個預(yù)先計劃好的測試點焊接射頻同軸電纜（尾纖）。這有助于確保足夠的阻抗匹配，并且測試點可以選在對整體設(shè)計性能產(chǎn)生較小影響的區(qū)域。其他方法包括將用的射頻針座焊接到自定義焊盤或者引線設(shè)計上，從而減少侵入性探測。高性能測試設(shè)備供應(yīng)商可以提供高達毫米波頻率的用針座。但這些針座的末端通常都很昂貴，且無法持續(xù)訪問組成元件的電路。因此，它們在大容量的測試應(yīng)用或者故障排除應(yīng)用中受到限制，更適合于原型設(shè)計和研發(fā)。天津phb針座