江西10p針座

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2022-04-06

公母針座的雙軌道抓取結(jié)構(gòu),包括機(jī)器手,一組縱向抓取組件和一組橫向抓取組件,其中縱向抓取組件用于抓取一頭針座,包括偏心輪,旋轉(zhuǎn)座,一頭針座轉(zhuǎn)向汽缸;橫向抓取組件用于抓取母頭針座,包括移動(dòng)軌道,固定塊,夾持塊,母頭針座移動(dòng)汽缸。提供的用于連接器公母針座的雙軌道抓取結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)了把來(lái)自不同軌道和不同方向的公母頭針座按照一定方向送到指定地點(diǎn),以便讓機(jī)器手方便抓取,提高了工作效率。方便快速在工業(yè)連接器絕緣針座上成型孔。針座利用固定槽與外殼卡板對(duì)接,實(shí)現(xiàn)空接快速固定產(chǎn)品位置。江西10p針座

按照針座占整個(gè)半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備投資的15.2%測(cè)算,2018年、2019年、2020年全球的針座市場(chǎng)規(guī)模約為56.6億元、46.2億元、42.96億元,結(jié)束后2021年、2022年有望將達(dá)到51.56億元、59.29億元的需求。國(guó)內(nèi)針座市場(chǎng)規(guī)模2019年約為10.25億元,2022年將增長(zhǎng)到15.69億元。近年來(lái),半導(dǎo)體作為信息產(chǎn)業(yè)的基石和兵家必爭(zhēng)之地成為本輪貿(mào)易戰(zhàn)的焦點(diǎn)。2019年,中美摩擦、日韓半導(dǎo)體材料爭(zhēng)端對(duì)全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)競(jìng)爭(zhēng)格局也帶來(lái)了較大的影響。晶圓測(cè)試一般在晶圓廠、封測(cè)廠或?qū)iT的測(cè)試代工廠進(jìn)行,主要用到的設(shè)備為測(cè)試機(jī)和針座。河南2510WAFER針座I/O點(diǎn)量測(cè)、小電流量測(cè)及電容量測(cè)。

針座氧化:通常針座是由鎢制成的,它如果長(zhǎng)期不用,針尖要形起氧化,針尖如果氧化,接觸電阻變大,測(cè)試時(shí)參數(shù)測(cè)不穩(wěn),為了不使它氧化,我們平時(shí)必須保護(hù)好針座,把它放在卡盒里,存放在氮?dú)夤裰校乐贯樧募涌煅趸?,同時(shí)測(cè)片子時(shí),用細(xì)砂子輕輕打磨針尖并通以氮?dú)?,減緩氧化過(guò)程。針尖高低不平(若針尖高度差在30UM以上):針座使用一段時(shí)間后,由于針座加工及使用過(guò)程中的微小差異導(dǎo)致所有針座不能在同一平面上會(huì)造成。某些針尖位置高的扎不上AL層,使測(cè)試時(shí)這些針上電路不通。

針座沒(méi)焊好:1.針座針焊得不到位;2.基板上銅箔剝落,針焊接不牢固,或焊錫沒(méi)有焊好而造成針虛焊;3.針座布線斷線或短路;背面有突起物,焊錫線頭針尖磨平:1.針在使用很長(zhǎng)時(shí)間后尖正常損耗;2.操作工用過(guò)粗的砂子;3.砂針尖時(shí)用力過(guò)猛;4.砂得時(shí)間過(guò)長(zhǎng);針尖如磨平,使針尖偏離壓點(diǎn),測(cè)試無(wú)法通過(guò),針尖接觸面大,而接觸電阻大影響參數(shù)測(cè)試,所以平時(shí)如果在測(cè)片子之前,先拿上卡到顯微鏡下檢查針尖有否磨平,如已磨平應(yīng)及時(shí)換針,操作工在砂針尖時(shí)注意技能,應(yīng)輕輕打磨針尖,而不致于磨平針尖。針座可以使異形轉(zhuǎn)輪對(duì)活動(dòng)板間歇式施加壓力。

針座為研究和工程實(shí)驗(yàn)室在測(cè)試運(yùn)行期間移動(dòng)通過(guò)多個(gè)溫度點(diǎn)時(shí),提供前所未有的自動(dòng)化水平。這種新技術(shù)使針座系統(tǒng)能夠感知,學(xué)習(xí)和反應(yīng)以多溫度和特征的極其復(fù)雜的環(huán)境。隨著集成電路產(chǎn)品不斷進(jìn)入汽車應(yīng)用等更高發(fā)熱量的環(huán)境,在越來(lái)越寬的溫度范圍內(nèi)表征器件性能和耐用性變得越來(lái)越重要。以前,大多數(shù)芯片在兩個(gè)溫度點(diǎn)進(jìn)行晶圓級(jí)測(cè)試,通常為20?C(室溫)和90?C?,F(xiàn)在,該范圍已經(jīng)擴(kuò)大到-40?C至125?C,并且可能需要在此范圍內(nèi)的四個(gè)溫度步驟中進(jìn)行一整套測(cè)試。某些情況下需要更普遍的范圍,如-55?C至200?C,晶圓可靠性測(cè)試可能要求高達(dá)300?C的溫度。針座固定倒勾能夠在該固定槽內(nèi)移動(dòng)。河南1.25貼片WAFER

針座穿刺操作簡(jiǎn)單方便,能夠把胸腔內(nèi)液體抽取干凈。江西10p針座

晶圓針座是半導(dǎo)體工藝線上的中間測(cè)試設(shè)備,與測(cè)試儀連接后,能自動(dòng)完成對(duì)集成電路及各種晶體管芯電參數(shù)和功能的測(cè)試。隨著對(duì)高性能、多功能、高速度、低功耗、小型化、低價(jià)格的電子產(chǎn)品的需求日益增長(zhǎng),這就要求在一個(gè)芯片中集成更多的功能并進(jìn)一步縮小尺寸,從而大片徑和高效率測(cè)試將是今后晶圓針座發(fā)展的主要方向。因此,傳統(tǒng)的手動(dòng)針座和半自動(dòng)針座已經(jīng)不能滿足要求,取而代之的是高速度,高精度,高自動(dòng)化,高可靠性的全自動(dòng)晶圓針座。江西10p針座

標(biāo)簽: 線束 針座 FPC 排針排母