注：上表所列信息與數(shù)據(jù)引自商務(wù)部網(wǎng)站、國研網(wǎng)、統(tǒng)計(jì)局網(wǎng)站電子元器件行業(yè)現(xiàn)狀編輯我國電子元件的產(chǎn)量已占全球的近39%以上。產(chǎn)量居世界首席的產(chǎn)品有：電阻器、電容器、電聲器件、磁性材料、壓電石英晶體、微特電機(jī)、電子變壓器、印制電路板。伴隨我國電子信息產(chǎn)業(yè)規(guī)模的擴(kuò)大，珠江三角洲、長江三角洲、環(huán)渤海灣地區(qū)、部分中西部地區(qū)四大電子信息產(chǎn)業(yè)基地初步形成。這些地區(qū)的電子信息企業(yè)集中，產(chǎn)業(yè)鏈較完整，具有相當(dāng)?shù)囊?guī)模和配套能力。我國電子材料和元器件產(chǎn)業(yè)存在一些主要問題：中低檔產(chǎn)品過剩，前端產(chǎn)品主要依賴進(jìn)口；缺乏重點(diǎn)技術(shù)，產(chǎn)品利潤較低；企業(yè)規(guī)模較小，技術(shù)開發(fā)投入不足。電子元器件行業(yè)認(rèn)證編輯從整體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)來看，主要包括如下：國家認(rèn)證/標(biāo)準(zhǔn)名稱認(rèn)證范圍我國《電子信息產(chǎn)品污染控制管理辦法》電子元器件歐盟WEEE法律上承擔(dān)支付報(bào)廢產(chǎn)品回收費(fèi)用的責(zé)任RoHS設(shè)置在均質(zhì)材料中的極高限量電子元器件故障特點(diǎn)編輯電器設(shè)備內(nèi)部的電子元器件雖然數(shù)量，但其故障卻是有規(guī)律可循的。1.電阻損壞的特點(diǎn)電阻是電器設(shè)備中數(shù)量極多的元件，但不是損壞率極高的元件。電阻損壞以開路極為常見，阻值變大較少見，阻值變小十分少見。保險(xiǎn)電阻燒壞時(shí)有的表面會炸掉一塊皮，有的也沒有什么痕跡，但絕不會燒焦發(fā)黑。天津小型五金交電生產(chǎn)
由于復(fù)合三極管的放大作用，把被測電容的充放電過程予以放大，使萬用表指針擺幅度加大，從而便于觀察。應(yīng)注意的是：在測試操作時(shí)，特別是在測較小容量的電容時(shí)，要反復(fù)調(diào)換被測電容引腳接觸A、B兩點(diǎn)，才能明顯地看到萬用表指針的擺動。C對于μF以上的固定電容，可用萬用表的R×10k擋直接測試電容器有無充電過程以及有無內(nèi)部短路或漏電，并可根據(jù)指針向右擺動的幅度大小估計(jì)出電容器的容量。2電解電容器的檢測A因?yàn)殡娊怆娙莸娜萘枯^一般固定電容大得多，所以，測量時(shí)，應(yīng)針對不同容量選用合適的量程。根據(jù)經(jīng)驗(yàn)，一般情況下，1～47μF間的電容，可用R×1k擋測量，大于47μF的電容可用R×100擋測量。B將萬用表紅表筆接負(fù)極，黑表筆接正極，在剛接觸的瞬間，萬用表指針即向右偏轉(zhuǎn)較大偏度(對于同一電阻擋，容量越大，擺幅越大)，接著逐漸向左回轉(zhuǎn)，直到停在某一位置。此時(shí)的阻值便是電解電容的正向漏電阻，此值略大于反向漏電阻。實(shí)際使用經(jīng)驗(yàn)表明，電解電容的漏電阻一般應(yīng)在幾百kΩ以上，否則，將不能正常工作。在測試中，若正向、反向均無充電的現(xiàn)象，即表針不動，則說明容量消失或內(nèi)部斷路；如果所測阻值很小或?yàn)榱?，說明電容漏電大或已擊穿損壞，不能再使用。遼寧機(jī)械五金交電創(chuàng)意電解電容損壞有以下幾種表現(xiàn)：一是失去容量或容量變小；二是輕微或嚴(yán)重漏電。
被檢測的電阻從電路中焊下來，至少要焊開一個(gè)頭，以免電路中的其他元件對測試產(chǎn)生影響，造成測量誤差；色環(huán)電阻的阻值雖然能以色環(huán)標(biāo)志來確定，但在使用時(shí)極好還是用萬用表測試一下其實(shí)際阻值。2水泥電阻的檢測。檢測水泥電阻的方法及注意事項(xiàng)與檢測普通固定電阻完全相同。3熔斷電阻器的檢測。在電路中，當(dāng)熔斷電阻器熔斷開路后，可根據(jù)經(jīng)驗(yàn)作出判斷：若發(fā)現(xiàn)熔斷電阻器表面發(fā)黑或燒焦，可斷定是其負(fù)荷過重，通過它的電流超過額定值很多倍所致；如果其表面無任何痕跡而開路，則表明流過的電流剛好等于或稍大于其額定熔斷值。對于表面無任何痕跡的熔斷電阻器好壞的判斷，可借助萬用表R×1擋來測量，為保證測量準(zhǔn)確，應(yīng)將熔斷電阻器一端從電路上焊下。若測得的阻值為無窮大，則說明此熔斷電阻器已失效開路，若測得的阻值與標(biāo)稱值相差甚遠(yuǎn)，表明電阻變值，也不宜再使用。在維修實(shí)踐中發(fā)現(xiàn)，也有少數(shù)熔斷電阻器在電路中被擊穿短路的現(xiàn)象，檢測時(shí)也應(yīng)予以注意。4電位器的檢測。
電阻有碳膜電阻、金屬膜電阻、線繞電阻和保險(xiǎn)電阻幾種。前兩種電阻應(yīng)用極廣，其損壞的特點(diǎn)一是低阻值（100Ω以下）和高阻值（100kΩ）的損壞率較高，阻值（如幾百歐到幾十千歐）的極少損壞；二是低阻值電阻損壞時(shí)往往是燒焦發(fā)黑，很容易發(fā)現(xiàn)，而高阻值電阻損壞時(shí)很少有痕跡。線繞電阻用作大電流限流，阻值不大。圓柱形線繞電阻燒壞時(shí)有的會發(fā)黑或表面爆皮、裂紋，有的沒有痕跡。水泥電阻是線繞電阻的一種，燒壞時(shí)會斷裂，否則也沒有可見痕跡。保險(xiǎn)電阻燒壞時(shí)有的表面會炸掉一塊皮，有的也沒有什么痕跡，但絕不會燒焦發(fā)黑。根據(jù)特點(diǎn)，在檢查電阻時(shí)可有所側(cè)重，快速找出損壞的電阻。2.電解電容損壞的特點(diǎn)電解電容在電器設(shè)備中的用量很大，故障率很高。電解電容損壞有以下幾種表現(xiàn)：一是失去容量或容量變??；二是輕微或嚴(yán)重漏電；三是失去容量或容量變小兼有漏電。查找損壞的電解電容方法有：（1）看：有的電容損壞時(shí)會漏液，電容下面的電路板表面甚至電容外表都會有一層油漬，這種電容absolutly不能再用；有的電容損壞后會鼓起，這種電容也不能繼續(xù)使用；因此，在前期選擇電容的時(shí)候，就應(yīng)該把好質(zhì)量關(guān)，盡量選擇有名品牌的電容，如電容巨頭——國巨電容。有的電容損壞時(shí)會漏液，電容下面的電路板表面甚至電容外表都會有一層油漬，這種電容不能再用。
因此光電子器件組裝的自動化技術(shù)的研究將是降低光電子器件成本的關(guān)鍵。由于光電子器件自動化組裝的精度在亞微米量級，自動化組裝生產(chǎn)一直被認(rèn)為是很困難的事，但有很大突破。國外的學(xué)術(shù)期刊已多次報(bào)道在VCSEL、新型光學(xué)準(zhǔn)直器件和自對準(zhǔn)等技術(shù)進(jìn)步基礎(chǔ)上，光器件自動化組裝實(shí)現(xiàn)的突破，同時(shí)專門針對自動化組裝的光電子器件設(shè)計(jì)也正在興起。2002年OFC展覽會上有十多家自動封裝、自動熔接設(shè)備廠商參展，熔接、對準(zhǔn)、壓焊等許多認(rèn)為只能由人工操作的工藝都能由機(jī)械手進(jìn)行。據(jù)ElectroniCast預(yù)測，到2005年自動化組裝與測試設(shè)備的銷量將達(dá)，光電子器件產(chǎn)值中的70%~80%將由全自動或半自動化組裝生產(chǎn),可以說自動化生產(chǎn)線的出現(xiàn)是光電子行業(yè)開始走向成熟的標(biāo)志和發(fā)展的必然。電子元器件光電器件下一代光傳送網(wǎng)的基本特征是超大容量，從各種復(fù)用技術(shù)的發(fā)展?fàn)顩r看，密集波分復(fù)用（DWDM）被認(rèn)為是擴(kuò)大網(wǎng)絡(luò)容量和提高其靈活性的極有效途徑。采用DWDM可以使容量迅速地?cái)U(kuò)大數(shù)十倍至數(shù)百倍。由于市場驅(qū)動和技術(shù)突破的影響，波分復(fù)用系統(tǒng)發(fā)展極為迅速。因此各種新研制的光器件也都或多或少與波分復(fù)用有關(guān)。DWDM的發(fā)展思路一直是追求更高的頻譜效率，一方面提高每個(gè)通道的速率。電子元器件是電子元件和小型的機(jī)器、儀器的組成部分。天津小型五金交電生產(chǎn)
根據(jù)特點(diǎn)，在檢查電阻時(shí)可有所側(cè)重，快速找出損壞的電阻。天津小型五金交電生產(chǎn)
它以小巧、輕便、省電、壽命長等特點(diǎn)，很快地被各國應(yīng)用起來，在很大范圍內(nèi)取代了電子管。五十年代末期，世界上出現(xiàn)了首席塊集成電路，它把許多晶體管等電子元件集成在一塊硅芯片上，使電子產(chǎn)品向更小型化發(fā)展。集成電路從小規(guī)模集成電路迅速發(fā)展到大規(guī)模集成電路和超大規(guī)模集成電路，從而使電子產(chǎn)品向著高效能低消耗、高精度、高穩(wěn)定、智能化的方向發(fā)展。由于，電子計(jì)算機(jī)發(fā)展經(jīng)歷的四個(gè)階段恰好能夠充分說明電子技術(shù)發(fā)展的四個(gè)階段的特性，所以下面就從電子計(jì)算機(jī)發(fā)展的四個(gè)時(shí)代來說明電子技術(shù)發(fā)展的四個(gè)階段的特點(diǎn)。在20世紀(jì)出現(xiàn)并得到飛速發(fā)展的電子元器件工業(yè)使整個(gè)世界和人們的工作、生活習(xí)慣發(fā)生了翻天覆地的變化。電子元器件的發(fā)展歷史實(shí)際上就是電子工業(yè)的發(fā)展歷史。1906年美國人德福雷斯特發(fā)明真空三極管，用來放大電話的聲音電流。此后，人們強(qiáng)烈地期待著能夠誕生一種固體器件，用來作為質(zhì)量輕、價(jià)廉和壽命長的放大器和電子開關(guān)。1947年，點(diǎn)接觸型鍺晶體管的誕生，在電子器件的發(fā)展史上翻開了新的一頁。但是，這種點(diǎn)接觸型晶體管在構(gòu)造上存在著接觸點(diǎn)不穩(wěn)定的致命弱點(diǎn)。在點(diǎn)接觸型晶體管開發(fā)成功的同時(shí)，結(jié)型晶體管論就已經(jīng)提出。天津小型五金交電生產(chǎn)
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