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來源: 發(fā)布時間:2025-08-13

眼圖的模板測試

前面介紹的眼圖是一種快速對信號進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析的測量方法,對于信號質(zhì)量的定性分析和Debug比較有用,但是在有些情況下,測量出信號的眼高、眼寬等參數(shù)還不夠,我們還需要快速判決該被測信號是否滿足相應(yīng)的總線的規(guī)范要求,這時候就會用到模板測試。

所謂模板,就是把對于信號高電平的范圍要求、低電平的范圍要求、抖動的范圍等的指標(biāo)事先定義好,然后把這些要求做成一個模板文件。典型的模板定義有3部分區(qū)域組成,上面的區(qū)域定義了對信號的幅度要求,下面的區(qū)域定義有3部分區(qū)域組成,區(qū)域定義對信號的眼圖張開度要求。 USB2.0接口眼圖測試設(shè)備步驟?眼圖測試價(jià)格優(yōu)惠

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在對于一個眼圖進(jìn)行好和壞的評估時,通常都有一些常見的衡量指標(biāo),比如眼高,眼寬,抖動,占空比等,如上圖。通過對眼睛不同部位的表征,可以快速地判斷和定性信號的問題。比如眼圖跳變沿交叉點(diǎn)的上下區(qū)域可以占空比,如果上下區(qū)域比例不對稱,則占空比的結(jié)果可能存在問題。

有時候?yàn)榱四芎唵沃庇^地判斷眼圖指標(biāo)是否符合要求,可以將規(guī)范定義的要求制作成一個模板,然后通過示波器來調(diào)用,便可以直接觀察到眼圖是否有接觸到模板。如果沒有接觸到則表示眼圖的指標(biāo)符合規(guī)范要求,同樣如果有接觸到模板,也可以根據(jù)接觸的位置針對性的改善。不需要像傳統(tǒng)的測試方法去一一地測量眼圖指標(biāo)了 上海眼圖測試調(diào)試構(gòu)建眼圖和進(jìn)行眼圖模板測試的方法?

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當(dāng)眼圖形成以后,我們已經(jīng)可以根據(jù)眼圖的張開程度大概了解信號質(zhì)量的情況,但更進(jìn)一步的分析就需要對眼圖的參數(shù)進(jìn)行精確測量,常用的測量參數(shù)有眼高(Eye Height)、眼寬(Eye Width)、眼的抖動(交叉點(diǎn)處的Jitter)等。

1.眼高的測量

眼高反映的是眼圖的垂直方向張開的程度。其測量方法是先在眼圖的中心位置對眼圖的電平分布進(jìn)行統(tǒng)計(jì),根據(jù)直方圖分布出現(xiàn)概率的位置得到高電平和低電平的位置;然后再根據(jù)高低電平上的噪聲分布情況各向內(nèi)推3個西格瑪,從而的到眼高的測量結(jié)果。

DDR4眼圖測試1-2是德科技ADS仿真軟件的DDR4總線仿真器,提供了統(tǒng)計(jì)眼圖分析的功能,能夠在短時間內(nèi)統(tǒng)計(jì)計(jì)算在極低誤碼率(1e-16)下的DQ眼圖,根據(jù)規(guī)范判斷模板是否違規(guī)。另外基于總線的仿真,也很易于仿真基于串?dāng)_因素下的眼圖質(zhì)量?;谑静ㄆ鞯腄DR4信號實(shí)測,可以利用大家熟悉的InfiniiScan區(qū)域觸發(fā)功能,很容易分離出“寫”信號,再通過Gating功能對Burst寫信號做時鐘恢復(fù)和眼圖重建,再進(jìn)行EyeContour測量,并驗(yàn)證1e-16誤碼率下的眼圖模板是否違規(guī)。如果是使用一致性測試軟件,就不用手動操作,軟件會自動跟蹤和分離波形并實(shí)現(xiàn)眼圖測試 克勞德高速數(shù)字信號測試實(shí)驗(yàn)室眼圖是在示波器的橫軸上把一串串比特周期疊加,形成眼樣波形。

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波形參數(shù)測試是數(shù)字信號質(zhì)量評估使常用的測量方法,但是隨著數(shù)字信號速率的提高,靠幅度、上升時間等的波形參數(shù)的測量方法越來越不適用了。比如下圖的一個5Gbps的信號來說,由于受到傳輸通道的損耗的影響,不同位置的信號的幅度、上升時間、脈沖寬度等都是不一樣的。不同的操作人員在波形的不同位置測量得到的結(jié)果也是不一樣的。

因此我們必須采用別的方法對于信號的質(zhì)量進(jìn)行評估,對于高速數(shù)字信號來說使常用的就是眼圖的測量方法。 對符號波形序列所顯示的眼圖性能參數(shù)進(jìn)行度量的過程。江西眼圖測試市場價(jià)價(jià)格走勢

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    對于DDR源同步操作,必然要求DQS選通信號與DQ數(shù)據(jù)信號有一定建立時間tDS和保持時間tDH要求,否則會導(dǎo)致接收鎖存信號錯誤,DDR4信號速率達(dá)到了,單一比特位寬為,時序裕度也變得越來越小,傳統(tǒng)的測量時序的方式在短時間內(nèi)的采集并找到tDS/tDH差值,無法大概率體現(xiàn)由于ISI等確定性抖動帶來的對時序惡化的貢獻(xiàn),也很難準(zhǔn)確反映隨機(jī)抖動Rj的影響。在DDR4的眼圖分析中就要考慮這些抖動因素,基于雙狄拉克模型分解抖動和噪聲的隨機(jī)性和確定性成分,外推出基于一定誤碼率下的眼圖張度。JEDEC協(xié)會在規(guī)范中明確了在DDR4中測試誤碼率為1e-16的眼圖輪廓,確保滿足在Vcent周圍Tdivw時間窗口和Vdivw幅度窗口范圍內(nèi)模板內(nèi)禁入的要求。 眼圖測試價(jià)格優(yōu)惠